微观组织扫描电镜分析检测

检测项目

表面形貌分析：观察样品表面的微观结构，检测参数包括分辨率可达纳米级、放大倍数100倍至100000倍、景深控制。

元素成分分析：使用能谱仪进行元素定性和定量分析，检测参数包括元素种类识别、含量百分比计算、分布 mapping。

晶体结构分析：通过电子背散射衍射分析晶体取向和相 identification，检测参数包括取向图生成、晶界角度测量、相比例计算。

缺陷检测：识别样品中的裂纹、孔隙、 inclusions等缺陷，检测参数包括缺陷大小测量、密度计算、位置定位。

颗粒大小分布：测量粉末或颗粒材料的粒径分布，检测参数包括平均粒径计算、分布宽度分析、标准偏差。

涂层厚度测量：测定涂层或薄膜的厚度，检测参数包括厚度值读取、均匀性评估、界面清晰度。

相分布分析：分析多相材料中各相的分布情况，检测参数包括相比例定量、界面特性描述、元素扩散层分析。

孔隙率分析：评估多孔材料的孔隙率和 pore size distribution，检测参数包括孔隙率计算、孔径分布统计、连通性评估。

界面分析：研究不同材料界面的结合情况和扩散层，检测参数包括界面宽度测量、元素 interdiffusion 分析、结合强度间接评估。

腐蚀产物分析：分析腐蚀样品的产物组成和 morphology，检测参数包括腐蚀产物类型识别、分布 mapping、成分定量。

检测范围

金属材料：包括钢铁、铝合金、铜合金等，用于微观结构观察和相分析。

陶瓷材料：如氧化铝、碳化硅，用于晶粒大小和缺陷检测。

聚合物材料：包括塑料、橡胶，用于表面形貌和填充剂分布分析。

半导体器件：如硅芯片、GaN devices，用于缺陷和成分分析。

生物样品：如骨骼、牙齿，用于微观结构研究。

地质样品：如矿物、岩石，用于成分和结构分析。

复合材料：如碳纤维复合材料，用于界面和纤维分布分析。

纳米材料：如纳米颗粒、 nanotubes，用于尺寸和形貌表征。

电子元件：如PCB、 connectors，用于失效分析。

涂层材料：如 protective coatings，用于厚度和 adhesion 分析。

检测标准

ASTM E1508 JianCe Practice for Quantitative Analysis by Scanning Electron Microscopy。

ISO 16700 Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification。

GB/T 17359 微束分析 扫描电子显微镜方法。

ASTM E766 JianCe Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope。

ISO 22493 Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary。

GB/T 18873 微束分析 电子探针显微分析 通用技术条件。

检测仪器

扫描电子显微镜：用于产生高分辨率图像，通过电子束扫描样品表面，检测功能包括形貌观察和成分分析。

能谱仪：用于元素成分分析，检测功能包括元素定性和定量 mapping。

电子背散射衍射仪：用于晶体结构分析，检测功能包括取向图和相 identification。

样品制备设备：如真空镀膜机，用于 coating samples with conductive material to prevent charging。

图像分析软件：用于处理和分析SEM图像，检测功能包括尺寸测量和统计 analysis。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。