项目数量-9
温升循环实验检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-09-03
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
温度范围:定义测试中的最低和最高温度极限,参数包括-40°C至125°C的典型范围。
循环次数:指定温度循环的总次数,参数包括1000次标准循环。
升温速率:控制温度上升的速度,参数包括每分钟5°C至10°C的速率。
降温速率:控制温度下降的速度,参数包括每分钟5°C至10°C的速率。
dwell time:在极端温度下的保持时间,参数包括30分钟至60分钟的保持期。
热冲击 resistance:评估产品对快速温度变化的耐受性,参数包括温度变化率每分钟15°C。
热疲劳寿命:预测产品在循环下的失效周期,参数包括循环次数与失效关系的统计。
尺寸变化:测量热膨胀和收缩,参数包括线性膨胀系数和体积变化百分比。
电气性能变化:监测电阻、电容等参数,参数包括电阻值漂移和绝缘电阻。
机械性能变化:评估强度、硬度等,参数包括抗拉强度和弹性模量。
检测范围
电子元器件:集成电路、电阻、电容等半导体部件。
印刷电路板:多层板、柔性板等基板材料。
汽车电子:发动机控制单元、传感器等车载系统。
航空航天部件:航空电子、结构材料等飞行器组件。
消费电子产品:手机、笔记本电脑等日常设备。
电力设备:变压器、开关gear等能源系统。
材料样品:金属、塑料、复合材料等测试样本。
医疗设备:植入式设备、诊断仪器等 healthcare 产品。
工业控制系统:PLC、驱动器等自动化设备。
新能源设备:太阳能电池、电池组等绿色能源组件。
检测标准
ASTM B553:电子组件热循环测试标准方法。
ISO 16750-4:汽车电气和电子设备环境条件与测试。
GB/T 2423.22:电工电子产品环境试验第2部分:试验N:温度变化。
IEC 60068-2-14:环境试验第2-14部分:试验N:温度变化。
JESD22-A104:半导体器件热循环测试标准。
检测仪器
温度循环试验箱:提供可控的温度环境,进行循环测试,功能包括模拟温度变化。
数据采集系统:记录温度、时间和其他参数,功能包括实时数据监控。
热电偶或温度传感器:测量样品温度,功能包括高精度温度探测。
电源供应器:为被测设备供电,功能包括稳定电压输出。
显微镜或视觉系统:检查物理变化,功能包括放大观察表面缺陷。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

上一篇:电磁兼容性检验检测
下一篇:线圈温升监测检测