项目数量-432
电池片检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-05-06
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
电池片核心检测包含三大类共12项指标:
电性能参数:开路电压(Voc)、短路电流(Isc)、最大功率(Pmax)、填充因子(FF)、转换效率(η)
物理特性:表面反射率(300-1200nm波段)、电极栅线附着力(≥5N/cm)、厚度公差(±10μm)
:隐裂(裂纹长度>3mm)、断栅(主栅缺失>5%)、PID衰减(96h测试衰减率≤5%)
环境耐受:湿热循环(85℃/85%RH 1000h)、紫外老化(15kWh/m² UVB辐射)
检测范围
分类维度 | 具体类型 | 特殊要求 |
---|---|---|
材料体系 | 单晶硅PERC电池 | 需增加LID光衰测试 |
多晶黑硅电池 | 表面绒面结构显微分析 | |
薄膜电池(CIGS/CdTe) | 元素组分EDS分析 | |
工艺类型 | 双面发电电池 | 双面率(Bifaciality≥70%)测试 |
异质结电池(HJT) | TCO导电膜方阻测量 |
检测方法
IV特性测试法
电致发光成像法(EL)
检测仪器
IV测试系统
配备四线制Kelvin探针台(接触电阻<0.1Ω),光源等级AAA级(光谱失配度≤±3%,不均匀性≤±2%,不稳定度≤±0.5%)
EL成像仪
采用液氮冷却型CCD(量子效率>80%@1000nm),空间分辨率≤50μm/pixel,支持多结电池分层成像功能
QE测试系统
包含双光路锁相放大器(频率范围10Hz-10kHz),单色仪带宽<5nm,参考电池NIST可溯源校准证书有效期内使用
XRF光谱仪
Rh靶X射线管(50kV/60mA),硅漂移探测器能量分辨率<130eV@Mn-Kα,支持薄膜厚度测量模式(精度±5nm)
FTIR光谱仪
配置ATR附件(ZnSe晶体),波数范围4000-400cm⁻¹,分辨率4cm⁻¹级,用于EVA胶膜交联度分析
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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