晶振频偏测试检测

检测项目

晶振频偏测试涵盖以下核心指标：

1. 标称频率偏差：测量实际输出频率与标称值的绝对偏差值

2. 温度特性：评估-40℃至+85℃工作温域内的频率漂移量

3. 负载特性：检测不同负载电容（10pF-32pF）下的频率变化率

4. 供电电压特性：验证3.3V/5V供电电压波动±10%时的频率稳定性

5. 老化率：连续工作1000小时后的长期频率偏移量

6. 谐波失真：二次/三次谐波分量与基波的幅度比值

检测范围

本检测方案适用于以下类型晶振产品：

1. 普通石英晶体振荡器（SPXO）：基础型时钟源器件

2. 温度补偿型（TCXO）：内置温度补偿电路的改进型器件

3. 恒温控制型（OCXO）：配备恒温槽的高稳器件

4. 压控型（VCXO）：支持电压调频的特殊器件

5. 表面贴装型（SMD）：0201/0402/0603等微型封装器件

6. 特殊频点器件：76.8MHz/125MHz等高频/低抖动产品

检测方法

标准测试流程包含以下技术方案：

1. 直接计数法：采用高精度频率计数器采集10秒闸门时间的平均频率值

2. 相位比对法：通过双混频时差测量系统实现1E-12量级分辨率

3. 频谱分析法：使用分辨率带宽1Hz的频谱仪测量载波功率谱密度

4. 温度循环测试：在程控温箱中执行-40℃→+25℃→+85℃三阶段温变试验

5. 长期老化监测：在25℃±1℃恒温环境下进行1000小时不间断采样

6. 负载匹配测试：通过可调电容箱模拟不同负载条件下的阻抗变化

检测仪器

标准实验室应配置以下设备系统：

1. 铷原子频率基准：提供1E-11/日稳定度的参考时钟源

2. 12位高分辨率频率计：最小分辨率0.001Hz@10MHz输入

3. 矢量信号分析仪：具备1Hz~26.5GHz超宽频段覆盖能力

4. 三区段温控箱：-55℃~+150℃范围可编程温度冲击系统

5. 低噪声直流电源：输出纹波＜3mVpp的纯净供电环境

6. 自动探针台：支持QFN/BGA等封装的全自动接触测量平台

7. 屏蔽暗室：背景噪声＜-120dBc/Hz的电磁隔离环境

8. 数据采集系统：同步记录温度/电压/频率参数的时域变化曲线

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。