X射线光度法镀层厚度检测

检测项目

X射线荧光法主要适用于以下镀层检测场景：1.单金属镀层（如电镀锌、化学镀镍）的厚度测定；2.合金镀层（如锌镍合金、锡铅合金）的组分与厚度同步分析；3.多层复合镀层（如铜/镍/铬体系）各单层厚度测量；4.功能性涂层（如硬铬、贵金属涂层）的质量控制；5.微米级超薄镀层（0.01-5μm）的精确表征。

检测范围

本方法覆盖电子元器件表面处理（PCB金手指镀层）、汽车零部件防腐涂层（紧固件锌镍合金）、航空航天高温防护层（涡轮叶片铂铝涂层）、装饰性电镀（卫浴五金件铜镍铬体系）等工业领域。适用基材包括钢铁、铝合金、铜合金等金属材料及部分非金属基体（塑料电镀件），可检测元素范围涵盖原子序数13(Al)至92(U)之间的金属元素。

检测方法

依据ASTMB568-98(2014)及ISO3497:2000标准规范实施：1.建立标准样品校准曲线：选用经计量认证的标准厚度片进行仪器校准；2.激发条件优化：根据被测元素选择合适靶材（Rh靶通用型），管电压控制在20-50kV区间；3.信号采集处理：采用能量色散型探测器（硅漂移探测器）采集特征X射线谱峰强度；4.基体效应补偿：通过FP法（基本参数法）或经验系数法修正基材吸收增强效应；5.数据验证：采用阶梯式标准样品进行方法验证，确保测量误差≤5%。

检测仪器

典型配置包含：1.X射线发生系统：微焦斑端窗式X射线管（功率50W以上）；2.探测系统：电制冷型硅漂移探测器（能量分辨率≤140eV）；3.多维样品台：配备XYZ三轴自动定位平台（定位精度0.01mm）；4.准直器系统：多孔径可选式准直器（直径0.1-5mm）；5.分析软件：内置FP定量算法及材料数据库。主流设备包括日立EA1000AII、牛津仪器X-MET8000等型号。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。