X射线光谱物质检测

检测项目

金属元素分析、合金成分鉴定、矿石品位测定、涂层厚度测量、镀层成分分析、电子元件焊料检测、陶瓷原料纯度检验、塑料添加剂含量测定、土壤重金属污染评估、工业粉尘成分监测、药品杂质元素筛查、食品接触材料迁移物分析、考古文物材质鉴别、润滑油磨损金属检测、玻璃制品着色剂分析、催化剂活性组分测定、锂电池正极材料表征、半导体掺杂浓度测试、贵金属成色鉴定、建筑材料放射性检测、汽车尾气颗粒物溯源、工业废水重金属监测、化妆品禁限用物质筛查、燃料油硫含量测定、核废料包覆层完整性检验、光伏材料杂质元素分析、钢铁冶炼过程控制、航空材料疲劳损伤评估、生物组织微量元素分布成像

检测范围

不锈钢制品、铝合金型材、铜合金铸件、钛合金板材、锌基镀层钢板、稀土永磁材料、钨钼高温合金、铅酸蓄电池极板、银质首饰制品、金盐电镀液样品、铂族催化剂载体、镍氢电池隔膜材料、钴铬牙科合金制品、锡膏焊点样品、锆合金核燃料包壳管、镉污染土壤样本、汞含量荧光灯碎片样品、砷污染地下水沉积物样本、硒营养强化食品样本碲化镉光伏薄膜样品铋基高温超导材料铍铜弹性元件样本钒钛磁铁矿石样本铬铁矿选矿产物锰结核深海沉积物样本锗单晶半导体晶圆镧系光学玻璃样本钕铁硼永磁体废料钪铝合金结构件样本

检测方法

能量色散X射线光谱法（EDXRF）：采用半导体探测器直接测量特征X射线能量分布，适用于快速多元素定性定量分析。

波长色散X射线光谱法（WDXRF）：通过晶体分光系统分离特征波长，具有更高分辨率与检出限。

全反射X射线荧光法（TXRF）：利用全反射几何条件降低背景噪声，适用于痕量元素超灵敏检测。

微区X射线荧光光谱法（μ-XRF）：结合聚焦光学系统实现μm级空间分辨率元素分布成像。

同步辐射X射线荧光法（SR-XRF）：利用高亮度同步辐射光源提升检测灵敏度与空间分辨率。

偏振能量色散X射线荧光法（P-EDXRF）：采用偏振二次靶降低连续谱背景干扰。

检测标准

ISO3497:2020金属镀层厚度测量-X射线光谱法

ASTME572-2021不锈钢化学成分分析的波长色散X射线荧光法

GB/T21114-2019耐火材料X射线荧光光谱化学分析

JISK0119:2022荧光X射线分析方法通则

EN15305:2008无损检测-使用X射线荧光法进行残余应力测定

ISO17054:2010采用ED-XRF筛选法测定RoHS指令限制物质

ASTMD6247-2018用单色激发EDXRF测定石油产品中硫的标准方法

GB/T30903-2014无机化工产品中杂质元素的测定X射线荧光光谱法

ISO13196:2013土壤质量-使用手持式XRF仪器筛选重金属污染

EPAMethod6200-2021现场便携式X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中金属元素

检测仪器

台式能量色散X荧光光谱仪：配置Rh靶X光管与硅漂移探测器(SDD)，适用于实验室常规元素分析。

波长色散型顺序扫描光谱仪：配备多道晶体分光系统与流气正比计数器，满足高精度定量分析需求。

微区X射线荧光显微镜：集成聚毛细管透镜与CCD定位系统，实现50μm空间分辨率元素成像。

手持式合金分析仪：采用微型X光管与PIN二极管探测器组合设计，支持现场快速牌号鉴别。

在线过程控制分析仪：配置水冷式大功率X光管与自动进样系统，适用于连续生产流程监控。

真空型全反射荧光光谱仪：配备多层膜单色器与真空样品室设计，实现ppb级痕量元素检测。

同步辐射X荧光成像装置：依托第三代同步辐射光源的高通量特性开展纳米级元素分布研究。

偏振能量色散光谱仪：采用二次靶偏振技术有效降低背景噪声干扰。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。