X射线快速鉴别矿物粉末检测

检测项目

矿物成分定性分析、晶体结构测定、多相混合比例计算、晶胞参数计算、择优取向校正、结晶度评估、晶粒尺寸分析、残余应力检测、同质多象变体鉴别、固溶体序列判定、非晶态物质含量测定、微量元素半定量分析、主量元素定量分析、特征衍射峰匹配度验证、物相热稳定性评估、晶格畸变分析、择优取向校正、择优取向校正误差控制、衍射强度归一化处理、背景散射校正、K值法半定量计算、全谱拟合精度验证、择优取向校正误差控制、择优取向校正误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制误差控制

检测范围

石英粉末、方解石粉末、长石粉末、云母粉末、辉石粉末、角闪石粉末、橄榄石粉末、高岭土粉末、蒙脱石粉末、伊利石粉末、绿泥石粉末、黄铁矿粉末、赤铁矿粉末、磁铁矿粉末、菱铁矿粉末、石膏粉末、重晶石粉末、萤石粉末、磷灰石粉末、锆石粉末、钛铁矿粉末、金红石粉末、刚玉粉末、电气石粉末、石榴子石粉末、绿帘石粉末、蛇纹石粉末、滑石粉末、膨润土粉末、沸石粉末

检测方法

X射线衍射法（XRD）：基于布拉格方程nλ=2dsinθ原理，通过测量衍射角θ值计算晶面间距d值进行物相鉴定。采用步进扫描模式采集数据，扫描范围5-70（2θ），步长0.02，每步计数时间1秒。

波长色散X射线荧光光谱法（WD-XRF）：使用晶体分光系统分离特征X射线，通过探测器中锂漂移硅探测器测定元素特征峰强度进行定量分析。

能量色散X射线荧光光谱法（ED-XRF）：采用半导体探测器直接测量入射X光子能量，适用于现场快速筛查重金属元素含量。

全反射X射线荧光法（TXRF）：利用全反射临界角效应降低背景噪声，检出限可达ppb级。

检测标准

ASTMD934-80(2016)采用X射线衍射法鉴定水沉积物中结晶化合物的标准实践

ISO20203:2005铝生产用煅烧焦炭-X射线衍射法测定煅烧焦炭的结晶度

GB/T30903-2014无机化工产品杂质元素的测定波长色散X射线荧光光谱法

JISK0131-1996X射线荧光光谱分析法通则

ASTME1621-13波长色散X射线荧光光谱法元素分析的标准指南

ISO14706:2014表面化学分析-全反射X射线荧光光谱法测定硅片表面金属杂质

GB/T21114-2007耐火材料X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法

ASTMC1365-06(2011)用X射线荧光光谱法测定耐火材料中氧化物的标准试验方法

ISO21587-3:2007硅酸铝耐火材料的化学分析(替代方法)-第3部分:波长色散X射线荧光光谱法

JY/T009-1996转靶多晶体X射线衍射方法通则

检测仪器

多晶X射线衍射仪：配备Cu靶陶瓷X光管（功率≥2.2kW），测角仪角度重现性0.0001，配备固态阵列探测器系统。

波长色散型X射线荧光光谱仪：配置4kW铑靶端窗X光管，配备5块自动交换分光晶体和流气正比计数器。

微区X射线衍射系统：集成激光定位系统与50μm准直器，可实现单颗粒矿物分析。

高温原位XRD附件：配备铂金加热台（室温-1600℃），真空度可达10-3Pa。

全反射X荧光分析仪：采用双多层膜单色器系统，入射角调节精度达0.001。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。