项目数量-463
单缝衍射检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-07-08
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
衍射角精度测量:测定主极大与次级极大角度位置,精度±0.001°,量程范围0-90°
相对光强分布分析:记录衍射图样强度曲线,动态范围120dB,分辨率0.1%FS
半角宽度计算:测量主极大两侧第一暗纹夹角,最小分辨0.0001弧度
缝宽尺寸标定:基于中央明纹宽度反推狭缝尺寸,测量范围1-500μm,不确定度±0.05μm
波长校准验证:通过已知缝宽衍射图验证光源波长,校准精度±0.02nm
衍射效率测试:计算通过狭缝的能量占比,测试重复性99.5%
远场条件验证:确认观测距离满足夫琅禾费衍射条件,最小距离2m
偏振特性分析:检测不同偏振光衍射图样变化,角度分辨率0.01°
环境光干扰测试:背景噪声抑制比≥60dB,暗室照度<5lx
温度漂移校正:监控系统热稳定性,补偿系数0.001%/℃
振动敏感度评估:测量机械振动对衍射图影响,允许振幅<5nm
像差校正分析:消除光学系统球差/彗差,波前误差<λ/20
检测范围
微机电系统(MEMS)构件:硅基微狭缝尺寸标定与形变分析
光学编码器光栅:栅线宽度一致性检测,公差控制±0.1μm
半导体光刻掩膜版:透光狭缝临界尺寸(CD)测量
光纤通信器件:光纤布拉格光栅周期验证
精密仪器狭缝组件:光谱仪入射狭缝宽度校准
纳米薄膜材料:薄膜开孔形貌表征,最小孔径50nm
激光光束质量分析:光束发散角非接触测量
光学传感器阵列:像元间距标定与对齐验证
衍射光学元件:DOE相位结构性能验证
生物微流控芯片:微通道尺寸原位测量
X射线准直器件:金属狭缝平行度检测
空间滤波系统:针孔滤波器孔径校准
检测标准
ISO 11145:2018 光学和光子学-激光器与激光相关设备-词汇与符号
ISO 10110-5:2015 光学和光子学-光学元件制图要求-第5部分:表面形貌公差
ASTM E903-20 使用积分球法测定材料的太阳光吸收率、反射率和透射率的标准试验方法
GB/T 13743-2010 激光光束宽度、发散角的测试方法
GB/T 26183-2010 微束分析 扫描电镜测量微米级长度的通则
ISO 14999-4:2015 光学元件-干涉法测量-第4部分:衍射光学元件的解释与评估
IEC 60747-14-3:2019 半导体器件-第14-3部分:半导体传感器-光传感器
GB/T 13394-92 光学零件表面疵病检测方法
ASTM F1048-18 栅格测量扫描电镜的标准指南
ISO 14644-1:2015 洁净室及相关受控环境
检测仪器
氦氖激光干涉仪:提供632.8nm单色相干光源,波长稳定性±0.001nm/h
高分辨率CCD探测阵列:2048×2048像素,像素尺寸5.5μm,采集衍射光强空间分布
精密旋转平台:角度定位精度0.0005°,承载被测狭缝组件进行多角度扫描
显微成像系统:1000倍光学放大,配合图像分析软件实现缝宽亚微米级测量
锁相放大器:检测微弱衍射信号,噪声抑制能力120dB,最小可测信号10nV
温控真空样品舱:温度波动±0.1℃,气压控制0.1Pa,消除空气扰动影响
压电陶瓷微位移台:10nm步进精度,用于衍射图样自动聚焦及扫描
傅里叶透镜系统:焦距500mm,数值孔径0.25,实现远场衍射转换
光谱滤波装置:带宽0.1nm可调,抑制环境杂散光干扰
数字相位计:测量衍射波前相位分布,相位分辨率λ/200
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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