金丝键合拉力强度测试检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-15  

金丝键合拉力强度测试检测是电子封装领域的关键质量评估手段,主要针对键合点的机械可靠性进行量化分析,涵盖拉力、剪切力等参数测量,确保器件在严苛环境下的性能稳定性。检测过程需遵循标准测试规程,包括参数设定、样品制备和失效模式分析,强调精度控制和数据可重复性要求。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

键合拉力强度测试:评估金丝键合点在轴向拉力作用下的断裂强度,测量参数包括最大拉力值、断裂位移和应力-应变曲线。

键合剪切强度测试:测定键合点在横向剪切力下的失效阈值,测量参数涉及剪切力峰值、界面滑移距离和能量吸收量。

键合剥离强度测试:分析键合界面在剥离负载下的粘附性能,测量参数包括剥离力值、剥离角度和界面分层特性。

键合点尺寸测量:量化键合点的几何特征,测量参数涵盖直径、高度、体积和接触面积精度。

键合均匀性评估:检测多个键合点间的强度一致性,测量参数包含标准差、变异系数和失效分布模式。

温度循环测试:评估键合强度在温度变化下的稳定性,测量参数涉及温度范围、循环次数和强度衰减率。

湿度影响测试:分析键合强度在高湿度环境中的性能变化,测量参数包括湿度水平、暴露时间和强度损失百分比。

疲劳寿命测试:测定键合点在反复负载下的耐久性,测量参数涵盖循环次数、负载幅值和失效周期预测。

键合界面微观结构观察:通过显微分析检查界面缺陷,测量参数包括孔隙率、裂纹长度和材料融合程度。

残余应力测量:评估键合过程产生的内部应力分布,测量参数涉及应力值、梯度曲线和热膨胀系数影响。

键合点电性能关联测试:分析机械强度与导电性能的关联性,测量参数包括电阻值变化、电流承载能力和失效阈值。

检测范围

半导体封装器件:包含集成电路和微处理器中的金丝键合连接点。

发光二极管组件:用于LED芯片与基板间的键合强度评估。

微电子组装模块:涵盖传感器和射频器件的键合接口可靠性检测。

功率电子器件:用于逆变器和转换器中的高电流键合点性能验证。

航空航天电子系统:涉及卫星和飞行器控制模块的键合耐久性测试。

汽车电子组件:包含发动机控制单元和安全气囊模块的键合可靠性分析。

医疗植入设备:用于心脏起搏器和神经刺激器的微型键合点强度评估。

通信设备模块:涵盖5G基站和光纤器件的键合抗振性能检测。

消费电子产品:包含智能手机和可穿戴设备中的键合界面质量控制。

工业控制系统:用于PLC和自动化设备的键合长期稳定性验证。

检测标准

ASTM F1269:规范金丝键合拉力测试的方法和参数设定要求。

ISO 20860:定义键合剪切强度测试的国际标准和数据报告格式。

GB/T 14598:规定键合点尺寸测量和均匀性评估的中国国家标准。

MIL-STD-883:涵盖航空航天领域键合测试的环境适应性和可靠性标准。

JEDEC JESD22:提供电子器件键合耐久性和疲劳测试的行业指南。

GB/T 4937:涉及温度循环和湿度影响下的键合强度检测规范。

IEC 60749:规定微电子器件键合点的机械性能测试国际标准。

IPC-TM-650:提供键合界面微观分析和失效模式的标准测试方法。

SEMI G86:规范半导体封装键合的残余应力测量规程。

EN 60812:涵盖键合点电性能关联测试的标准要求和数据验证。

检测仪器

万能材料试验机:配备拉力传感器和位移控制系统,用于施加精确轴向拉力并记录强度参数。

剪切力测试仪:集成横向负载单元,执行键合点剪切强度测量并输出失效力值数据。

环境模拟试验箱:控制温度和湿度变量,模拟严苛条件以评估键合强度稳定性。

高倍率显微镜系统:提供显微成像功能,观察键合界面微观结构并测量尺寸缺陷。

疲劳测试装置:施加循环负载,测定键合点的疲劳寿命和耐久性能。

图像分析软件:处理显微图像,自动量化键合点几何参数和均匀性指标。

残余应力分析仪:利用X射线衍射技术,测量键合过程中的内部应力分布。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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