键合点可靠性检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-15  

键合点可靠性检测评估电子封装中连接点的结构完整性和电性能稳定性。检测要点包括热机械疲劳耐久性、机械强度参数、电接触电阻变化、环境应力影响以及微观缺陷分析,采用标准化方法确保键合点在高温、振动和电流负载下的长期可靠性。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

热循环测试:评估键合点在温度变化下的耐久性能,具体检测参数包括温度范围-55°C至150°C、循环次数1000次以上、失效标准电阻变化率超过10%。

剪切强度测试:测量键合点承受机械剪切力的能力,具体检测参数包括最大剪切力值、失效模式分类、剪切位移精度0.01mm。

拉力测试:分析键合点拉伸强度,具体检测参数包括断裂拉力阈值、拉伸速度0.5mm/min、弹性模量计算。

电阻变化监控:监控键合点电接触稳定性,具体检测参数包括初始电阻值、电流负载下电阻漂移、测量精度±0.1Ω。

显微结构检查:观察键合点内部微观缺陷,具体检测参数包括空洞率百分比、界面完整性评级、分辨率1μm。

振动耐久性测试:模拟机械振动环境,具体检测参数包括频率范围5-2000Hz、加速度10g、持续时间24小时。

湿度敏感性评估:分析湿气对键合点的影响,具体检测参数包括相对湿度85%、暴露时间96小时、重量变化测量。

电迁移分析:检测电流引起的材料迁移现象,具体检测参数包括电流密度1MA/cm²、时间500小时、电阻增长率。

疲劳寿命预测:预测键合点长期使用寿命,具体检测参数包括应力循环次数、裂纹扩展速率、寿命模型计算。

X射线缺陷检测:非破坏性识别内部缺陷,具体检测参数包括缺陷尺寸检测下限10μm、图像分辨率5μm、空洞分布分析。

检测范围

半导体封装:集成电路芯片键合点可靠性评估。

LED照明模块:发光二极管键合点耐久性检测。

功率电子器件:绝缘栅双极晶体管键合点性能监控。

微电子组件:小型化设备连接点结构完整性测试。

汽车电子系统:发动机控制单元键合点环境应力分析。

航空航天电子:高可靠性飞行器组件键合点评估。

医疗植入设备:生物兼容性键合点长期安全性测试。

消费电子产品:智能手机处理器键合点热机械疲劳检测。

太阳能光伏模块:光伏电池键合点电流负载耐久性分析。

射频通信组件:高频电路键合点电阻稳定性监控。

检测标准

依据ASTM F1269进行热循环可靠性测试

ISO 16750规范汽车电子环境应力评估。

GB/T 2423国家标准环境试验方法要求。

JEDEC JESD22半导体器件可靠性测试标准。

MIL-STD-883军事标准微电子环境耐久性。

IEC 60749国际半导体器件测试规范。

GB/T 4937机械和环境测试方法标准。

检测仪器

热循环测试系统:模拟温度变化环境,用于执行热循环耐久性测试。

万能材料试验机:进行机械强度测量,用于剪切和拉力测试。

微电阻测试仪:监控电接触稳定性,用于高精度电阻变化分析。

振动模拟台:产生机械振动负载,用于评估抗振性能

X射线成像设备:非破坏性缺陷检查,用于内部结构分析。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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