X射线能谱检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-09-23  

X射线能谱检测是一种基于特征X射线分析的元素测定技术,用于材料的定性和定量成分分析。它通过测量样品发射的X射线能谱,识别元素种类和含量,确保检测的准确性和重复性,广泛应用于材料科学、工业质量控制和研究领域。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

元素定性分析:通过识别特征X射线峰位,确定样品中存在的元素种类,确保分析结果的准确性和可靠性,避免误判。

元素定量分析:测量特征X射线强度,结合标准样品或理论模型,计算各元素的质量分数或原子分数,提供精确的成分数据。

元素分布mapping:通过扫描样品表面,获取元素空间分布图像,用于研究成分均匀性和局部富集现象。

线扫描分析:沿样品特定路径进行元素含量变化分析,用于研究界面特性或成分梯度变化。

点分析:对样品微小区域进行定点元素分析,提供局部化学成分信息,支持微观结构研究。

相分析:结合形貌观察,识别不同相区的元素组成,用于材料相鉴定和相图构建。

厚度测量:通过X射线信号强度,估算薄膜或涂层的厚度,适用于纳米级材料的质量控制。

污染分析:检测样品表面的外来元素,识别污染物来源和成分,用于清洁度评估。

氧化态分析:通过能谱 shifts 推断元素的化学状态,辅助研究材料表面化学反应和键合情况。

统计分析:对多次测量结果进行统计处理,评估分析的不确定度和重复性,确保数据可靠性。

检测范围

金属材料:包括合金和纯金属,用于成分分析和杂质检测,确保材料力学性能和耐腐蚀性

半导体器件:分析芯片中的掺杂元素和缺陷,影响电子器件性能和可靠性评估。

地质样品:如岩石和矿物,用于元素组成研究,辅助地质勘探和资源评估。

生物样品:如细胞和组织,进行元素映射,研究生物矿化过程或毒性效应。

陶瓷材料:分析釉料和成分,用于产品质量控制和烧结工艺优化。

聚合物复合材料:检测填充物或添加剂元素,优化材料配方和机械性能

环境样品:如大气颗粒物,分析重金属污染,评估环境质量和健康风险。

考古文物:无损分析古代器物元素组成,用于年代鉴定和文化遗产研究。

食品药品:检测微量元素或污染物,确保产品安全性和合规性标准。

纳米材料:表征纳米颗粒的元素组成和分布,用于纳米技术研究和应用开发。

检测标准

ASTM E1508-12a:标准指南用于能量色散光谱的定量分析,规定了数据采集和处理方法,确保结果准确性。

ISO 22309:2011:微束分析中使用能量色散谱进行定量分析的国际标准,适用于各种材料检测。

GB/T 17359-2012:中国国家标准针对能谱法定量分析,规范了仪器校准和测量程序。

ASTM E1085-16:标准测试方法用于X射线荧光光谱分析,包括能谱检测元素组成。

ISO 17470:2014:微束分析中波长色散光谱的定量分析方法,与能谱检测互补使用。

GB/T 19500-2004:X射线光电子能谱分析方法通则,涉及能谱检测的表面分析应用。

ASTM E1621-13:标准指南用于X射线发射光谱分析,包括能谱检测的元素鉴定程序。

ISO 15632:2012:微束分析中能量色散X射线光谱仪的性能规范和要求标准。

GB/T 20725-2006:微束分析术语标准,涵盖能谱检测的相关定义和规范。

ASTM E766-14:标准实践用于能量色散X射线光谱仪的校准和性能验证。

检测仪器

能量色散X射线光谱仪:通过半导体探测器测量X射线能量,实现快速元素分析,用于定性和定量检测样品成分。

波长色散X射线光谱仪:使用分光晶体分散X射线,提供高分辨率能谱,用于精确元素分析和 minor 元素检测。

扫描电子显微镜-SEM/EDS组合系统:集成SEM提供形貌信息,EDS进行元素分析,用于微观区域成分和结构研究。

透射电子显微镜-TEM/EDS系统:用于薄样品元素分析,提供高空间分辨率成分信息,支持纳米材料表征。

手持式XRF分析仪:便携式设备用于现场快速元素筛查,适用于工业和质量控制中的非破坏性检测。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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