镀膜成分检测

检测项目

镀膜成分检测涵盖三大核心指标：元素组成分析确定镀层中金属/非金属元素的种类及含量配比；化合物结构鉴定解析镀层中氧化物、氮化物等化合物的晶体结构及化学键合状态；厚度测量精确测定单层或多层镀膜的纵向尺寸分布。特殊需求下可扩展表面粗糙度、附着力强度、耐腐蚀性等衍生参数测试。

检测范围

本检测适用于光学镀膜（增透膜、反射膜）、电子器件镀膜（ITO导电膜、半导体钝化层）、机械工具镀膜（TiN硬质涂层）、装饰性镀膜（PVD彩色涂层）等四大类材料体系。具体包含金属基材（不锈钢、铝合金）、高分子基材（PC、PET）、陶瓷基材（氧化铝、氮化硅）等不同基底材料表面沉积的功能性薄膜。

检测方法

X射线光电子能谱（XPS）通过测量光电子的结合能实现表面5-10nm深度范围内的元素定性定量分析；辉光放电光谱（GDS）可进行深度方向元素分布的逐层解析；傅里叶变换红外光谱（FTIR）用于有机镀层的官能团识别；扫描电镜-能谱联用（SEM-EDS）实现微区成分与形貌的同步表征；椭偏仪通过偏振光相位变化计算薄膜厚度与光学常数。

检测仪器

Thermo Scientific K-Alpha型X射线光电子能谱仪配备单色化Al Kα射线源和半球能量分析器；HORIBA GD-Profiler 2辉光放电光谱仪配置4mm阳极和射频激发源；Bruker VERTEX 70v真空型傅里叶红外光谱仪采用DLATGS探测器；Hitachi SU5000场发射扫描电镜搭配Oxford X-MaxN 80mm²能谱探头；J.A. Woollam M-2000V椭圆偏振仪配置自动变角系统和宽光谱光源（190-1700nm）。所有设备均需定期进行NIST标准样品校准。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。