北检(北京)检测技术研究院
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YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法

北检院检测中心  |  点击量:14次  |  2024-12-10 10:39:20  

标准中涉及的相关检测项目

标准《YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法》中提到的相关检测项目和方法主要包括以下内容:

检测项目:
  • 硅质砖中的石英、方石英、鳞石英等矿物相的含量。

检测方法:
  • 采用X射线衍射法(XRD)。

  • 通过定量分析的方法对矿物相进行表征和含量计算。

  • 样品的制备及操作规程需严格按照标准中的规定进行,以确保结果的准确性和重复性。

涉及产品:
  • 各种类型的硅质耐火材料,尤其是硅砖。

这些检测项目和方法的设定为确保产品的质量和性能符合生产要求和使用标准。通过准确的相分析,有利于生产控制和使用中的质量保证。

YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法的基本信息

标准名:硅砖定量相分析 X射线衍射法

标准号:YB/T 172-2000

标准类别:冶金行业标准(YB)

发布日期:2000-07-26

实施日期:2000-12-01

标准状态:现行

YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法的简介

本标准规定了硅砖X射线定量相分析的定义、原理、仪器设备、标样、试样制备、定量分析、试验报告。本标准适用于硅砖中鳞石英、方石英及残余石英的定量分析。YB/T172-2000硅砖定量相分析X射线衍射法YB/T172-2000

YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法的部分内容

中华人民共和国黑色治金行业标准IB/T 172

硅砖定量相分析X射线衍射法

Phase quantitative analysis of silica bricks-X-ray diffraction method

2000-07-26 发布

国家治金工业局发布

2000-12-01 实施

YB/T1722000

本标准在内容上部分参专了我国JG/T62—1!8国家量定规理多品射线衍射议3在非金属村料特别是殖砖中残存石克含盘的测定前尚无标准,而佳传中残余石类的含量是德量殊型慎量的变费指标、对砖的生产控制及产而质整垃验起别促进性用,本标准的附录为标准的附录。

本标准由全国耐火材料标唯化技术委会提出开虹口本标准超草单位:浠阳耐灾村料研充院,北京焦化广山西盂县西小控耐火材料有限公司本标准主要起节人:任刚情,张慧荣、两宜结、越孟喜。1范围

中华人民共和国票色冶金行业标准硅砖定量相分析X射线衍射法

Phose yuntilatlve anulysis uf siLien bricks-X-ray diffraclios method

YB/T 172—2000

本标准规定了佳转飞的线定量和分折的定义、原埋、仪器设备、起样、样制咨,烂过分析、试验报台:

市标准适月于硅砖中鲜英,方石英及残余英的定盐分析,2引再标准

下列标准所包含的条义,通在术标准中引用而相成为本标准的条文,本标准尚版时、新不版本均为有效,所有标准都会被峰订,使本标准的各方成探使用下标准新版本的川做性JIG/258国家F检定靓理多品X射线衔射仪3定义

本际难月下列定义

31X我强度Xruyimlensi.y

文时线衔时分新户的强度系治乳背原启得时版的积分噪度,也可用得时择此积来表示。32折线analyilines

需要对共强进行研量并据此判定被分析物相含量均特征造战,3.3同紊异形体olytEorph

组成回近不同的孕,如烘不英,方石英、石英的丝成均为,但结构各不料回.34择取向prelerredorientauon

非会而材料中试样粒度粗或压制右样时可方过人等使某衔射面的衔射延些反带血增大4原理及计算公式

利多相将含试提进行文射装近消甘,待效拒的文制設衍刻强度与语相在范详中的含盘皮正比,与多划混含试烊的质量吸收桑数成收比硅户料右变方石英及残余行英均为氧化硅的同索异形体,乘用外综法简使易行,可用微机直接进行效恨处理。

加具没有计存救件川控下列公式计性:IW

fk-(w]

(x)+(w);

占,Wx…试括口待测的五止百分数,%;一:-试样方待测相的分析毁的祈别得及(Ix.一特酒标祥分折线的衔时张变:国家冶金工业局2100-07-26批准x 1cc

2000-12-01实施

YB/T172-2000

),—标样的质量吸改系最,c/()一高样的承整吸收系数cm只:在佳语挂品中如未发规鲜百英、方石英、烧余石美以的其他物和:财x

延似等于1厕:

如果发现有其他特相:可根据式详的化学成分计算其质量吸收系数,计其公式为式(%):(im)

式中,(w)—样品的质益极收系数,cm/e(pm).A

的,—样品中第仲化合收的质量吸收系数,cm/A荐品中第种化台物的含量,%。计算出(m>并代入式(1>求出W,5仪器设备

本际随所月X射线行射仪的综合您定度所优于士1%.测定方达按JG629的规定行括险录人标准的附录进行,

6标样

61a-石标排

α-石更含盐太三R%,经时期衍射经调光显录镜监定除-石英外末发现其伍数相,X射线假射说线朗锐.无宽化现象。

62石类标样

虑石英有多于,必须选用高湿密炉中经长期使后的懂转,划下1作带经X射家衔时及偏光显微镜签定均麟石艾,如有少景费离相成实石英,定量计算时、必须乘以较正系数。G.3六石英标

以Si:含量大于入的熔融石类粉、磨至小于0.0AHm细粉,正制规决,经5G3C慢能,保温1X线衔及偏来品做慢整定完仓是方石美,无端相、池法测出拆射率为1.1610. CC2 4..

7试样剧备

7.1每试降去表皮:取彩错纸至不大下m,通过四分法制战粉木试样,7.2打品渠应无底,可用压制单的度面作行对而。样品架一般为势剂或变璃制成。73研瞬好的粉末制人样品在架内,垂直压载成函7.标样的别备要求与试样相同,们括样品架尺小及题度人小了.5证传·龄无产此取可如出现择优取向可重新制样或动用能转样品台.B定量分折

B.1试验条件

日.1.1郝

LukaCoKa.

日. 7-2描遂度

20角的扫描速度应不大于1°/rri1:8. 1. 3获单基统

发做游随选用1°

接受获整用0.3mm或0.6mm:

8.2分所戴的选择

YB/T172

8.2.1尊英用(1ci0)面.CoK224.5CuKa2c~.1°8.2-2.石类月101)面,CoK:0.5~1.5;CuKr;26*27*8.2.3方石英用(101)f:CrKe.24.5~24*,CuKα:].5°~32.5°。如果力不英11面瞬石英(0302)面有亚益,可按图2作峰形分解后再按式(4)升算方右英程分融度Ix:

图 峰形分师

式中:x—租分强度,mn\

--.-蜂高.mmF

半高宽,mm。

标样的猛射强度与试样均单立相同,83资时通度的测量

在做定量遗定颜,先做实烂行描,观亲有无择保取问,如有择优取问则需互新制杆和加历旋转推品台。

计算机处理后可直接据出视分号度,如果于工计神,可按式(4)计算。麟百,方石类测盛止、反价射面等三肉,取平均值:我余百夹出于含量低至少安五实,取平值9误差分析

标准保差的财节

根据10快中复量,求得操在英物难误为1.4,安异系数1.0%;方石美标准误差为二.3:变异系数2.折g石类的标滤误差为0.56变异系微12.2。标准误差山算公式接式(5):

-(5)

变异系整计算公式培式(6):

变系()

x中:

冲次测盘缩果的半的值;

一第:欧到的药果:

——标准误类..

1试验报告

试报告应包括:

8)委托单位;

1)委托月期:

c试样苦称及记:

d)试样缩号:

c>试验总件;

「试脸结果;

)试验单

h)推告人和审核人

i)试验月期。

YA/T 172—2000

YB/T 172—2Q00

附录A

(标荫的附录)

综合独定度的测定

本标毫的仪器综合像定座足指当甘样、衍射条件放行射数不变的情况下用。5i标物质的(101)品面舒射,仪器稳定2h后,用i算机每随bmin记录快计款求,连续测量6h,综合稳定度升并公式式(1)

Xu — Xrr

X... I X..

式心S嵌会稳定使,%

X..湖是最大道;

X.ie—·划定最小位,

...Al?

现行

北检院检验检测中心能够参考《YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法》中的检验检测项目,对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试,检测项目包含《YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法》中规定的所有项目,以及出厂检验、型式检验等。

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检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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