碳杂质光谱分析检测

检测项目

碳杂质定性分析：通过光谱特征峰识别碳杂质的化学结构（如无定形碳、石墨碳、金刚石碳等），检测波长范围532nm~1064nm

碳杂质定量分析：基于特征峰强度与浓度的校准曲线，测定碳杂质的质量分数，测量精度0.01%

碳纳米管含量检测：分析材料中碳纳米管的含量，采用拉曼光谱G峰（~1580cm⁻）与D峰（~1350cm⁻）的强度比，线性范围0.1%~50%

无定形碳含量测定：通过红外光谱在1500cm⁻~1700cm⁻的吸收峰面积，计算无定形碳的质量分数，检测下限0.05%

石墨化程度分析：利用拉曼光谱的G峰与2D峰强度比（G/2D）评估碳材料的石墨化程度，比值范围0.5~2.0对应不同石墨化等级

碳杂质分布表征：通过显微拉曼光谱成像技术，分析碳杂质在材料中的空间分布，空间分辨率≤1μm

碳纤维表面碳涂层厚度测量：采用红外光谱的衰减全反射（ATR）模式，测量碳纤维表面碳涂层的厚度，分辨率0.1μm

碳杂质化学态分析：利用X射线光电子能谱（XPS）结合光谱分峰技术，确定碳杂质的化学态（如C-C、C-O、C=O等），检测灵敏度≤0.1at%

纳米碳颗粒尺寸分析：通过拉曼光谱的峰宽（FWHM）计算纳米碳颗粒的尺寸，适用范围1nm~100nm，误差5%

碳杂质热稳定性评估：结合热重分析（TGA）与红外光谱（FTIR）联用技术，分析碳杂质在不同温度下的分解行为，温度范围室温~1500℃

碳黑分散性评价：采用拉曼光谱mapping技术分析碳黑在高分子材料中的分散均匀性，统计分散粒径变异系数≤10%

焦炭结构分析：通过拉曼光谱D峰（缺陷峰）与G峰（石墨峰）的强度比（D/G）评估焦炭的结构有序性，比值范围0.8~2.5

检测范围

半导体材料：硅片、碳化硅（SiC）晶圆中的碳杂质检测，用于评估半导体器件的电性能

金属材料：钢铁、铝合金中的游离碳、渗碳层碳杂质分析，为金属材料的强度及耐腐蚀性能提供数据

高分子聚合物：聚乙烯、聚丙烯中的碳黑杂质含量测定，影响聚合物的导电性及抗老化性能

碳纤维复合材料：碳纤维增强树脂基复合材料中的碳杂质分布分析，确保复合材料的力学性能一致性

电池材料：锂电池正极材料（如磷酸铁锂）中的碳导电剂含量检测，优化电池的充放电效率

陶瓷材料：氧化铝、氮化硼陶瓷中的碳杂质定性分析，防止陶瓷材料在高温下发生碳化反应

涂料与油墨：涂料中的碳纳米管分散性及含量测定，影响涂料的耐磨性及导电性

催化剂材料：负载型催化剂中的碳杂质含量分析，评估催化剂的活性及寿命

玻璃材料：光学玻璃中的碳杂质检测，避免碳杂质对玻璃透光率的影响

航空航天材料：钛合金、高温合金中的碳杂质分析，保障航空航天部件的高温性能

能源材料：太阳能电池板封装材料中的碳杂质检测，防止碳杂质影响电池的光电转换效率

电子元件：电容器、电阻器中的碳膜层杂质分析，确保电子元件的稳定性及寿命

检测标准

ASTME1852-19：拉曼光谱分析碳材料的标准试验方法

ISO10676:2017：红外光谱法测定高分子材料中碳黑含量的标准

GB/T3074.1-2017：石墨电极石墨化度测定方法（拉曼光谱法）

ASTMD7974-14：用傅里叶变换红外光谱法（FTIR）分析生物柴油中碳杂质的标准试验方法

ISO21687:2007：陶瓷材料中碳杂质的测定（燃烧-红外吸收法）

GB/T223.86-2009：钢铁及合金中碳量的测定（高频感应炉燃烧-红外吸收法）

ASTMC1617-15：碳-碳复合材料中碳含量的标准试验方法（热重分析）

ISO14835:2007：高分子材料中碳纳米管含量的测定（拉曼光谱法）

GB/T17664-2018：炭黑原料油中碳含量的测定（管式炉燃烧法）

ASTMD6350-19：用气相色谱-质谱法（GC-MS）分析液体燃料中碳杂质的标准试验方法

检测仪器

拉曼光谱仪：采用532nm、785nm激光光源，用于碳杂质的定性分析及化学结构表征，光谱分辨率≤1cm⁻

傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：配备衰减全反射（ATR）附件，用于高分子材料中碳杂质的定量分析，波数范围400cm⁻~4000cm⁻

热重-红外联用仪（TGA-FTIR）：将热重分析与红外光谱相结合，用于碳杂质的热稳定性评估及分解产物分析，温度精度1℃

显微拉曼光谱仪：具备共聚焦成像功能，用于碳杂质在材料中的空间分布表征，空间分辨率≤1μm

X射线光电子能谱仪（XPS）：采用单色化AlKα射线源，用于碳杂质的化学态分析，检测灵敏度≤0.1at%

气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）：配备火焰离子化检测器（FID），用于液体燃料中碳杂质的定性定量分析，检出限≤0.1mg/L

高频感应炉燃烧-红外吸收仪：用于金属材料中碳含量的测定，燃烧温度≥1800℃，测量范围0.001%~10%

激光共聚焦拉曼显微镜：结合激光扫描与拉曼光谱技术，用于碳杂质的微区分析，横向分辨率≤0.5μm

紫外-可见近红外分光光度计：用于碳杂质在紫外-可见区域的吸收特性分析，波长范围190nm~1100nm

原子力显微镜-拉曼联用系统（AFM-Raman）：同步分析碳杂质的表面形貌与化学结构，形貌分辨率≤0.1nm

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。