元素扩散深度测试检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-18  

元素扩散深度测试检测是评估材料中元素扩散行为的关键手段,主要检测扩散深度、浓度分布、扩散系数等参数,用于半导体器件、金属合金、涂层材料等领域的质量控制与性能分析。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

扩散深度测定:测量元素从材料表面向内部扩散的最大深度,测试范围0.1μm~100μm,精度5%。

浓度分布分析:表征元素在扩散路径上的浓度变化,空间分辨率≤0.5μm,检测限≤10ppm。

扩散系数计算:根据浓度分布和扩散时间计算扩散系数,适用温度范围25℃~1200℃,系数范围10⁻⁸~10⁻⁸m/s。

表面富集率测试:计算元素在材料表面的富集程度,富集率范围0~100%,误差≤3%。

界面扩散层厚度测量:测定两种材料界面处元素扩散形成的层状结构厚度,测量范围0.05μm~50μm,分辨率0.01μm。

深度剖面分析:获取元素沿材料深度方向的连续浓度分布,深度步长≤0.1μm,元素覆盖范围Li~U。

扩散激活能测定:通过不同温度下的扩散系数计算激活能,温度梯度≥10℃,激活能范围0.5~5eV,精度0.1eV。

间隙原子扩散检测:识别材料中间隙原子的扩散路径与深度,检测灵敏度≤1ppm,深度分辨率≤0.2μm。

置换原子扩散速率测试:测量置换型元素在晶格中的扩散速率,速率范围10⁻⁵~10⁻⁹m/s,误差≤4%。

多元元素共扩散行为分析:研究多种元素同时扩散时的相互作用与深度分布,可分析元素数量≥3种,浓度分辨率≤5ppm。

扩散均匀性评价:评估元素扩散在材料中的均匀程度,均匀性偏差≤2%,测试区域≥100μm100μm。

高温扩散稳定性测试:模拟高温环境下元素扩散的长期稳定性,测试温度≤1500℃,持续时间≥100小时,深度变化率≤0.1μm/h。

检测范围

半导体器件:包括硅片、晶圆、半导体薄膜等,用于评估掺杂元素(如硼、磷)的扩散深度与浓度分布。

金属合金:如钢铁、铝合金、钛合金等,检测合金元素的扩散深度与分布,评估材料性能。

涂层材料:如金属涂层、陶瓷涂层、聚合物涂层等,测定涂层与基体之间的元素扩散深度,评价涂层结合力。

电子封装材料:如环氧模塑料、陶瓷基板、金属引线框架等,检测封装材料中的元素扩散,防止器件失效。

太阳能电池材料:如硅片、PERC电池、TOPCon电池等,评估掺杂元素(如磷、硼)的扩散深度,优化电池效率。

医疗器械材料:如不锈钢、钛合金植入体等,检测表面处理元素(如氮、碳)的扩散深度,提高耐腐蚀性

航空航天材料:如碳纤维复合材料、高温合金等,测定元素扩散深度,评估材料在高温环境下的稳定性。

汽车零部件:如发动机缸体、活塞、齿轮等,检测合金元素的扩散深度,提高零部件的耐磨性和寿命。

玻璃与陶瓷材料:如光学玻璃、电子陶瓷等,测定掺杂元素(如铒、钕)的扩散深度,优化光学性能。

核工业材料:如核燃料包壳、反应堆结构材料等,检测裂变产物的扩散深度,评估材料的安全性。

聚合物材料:如塑料、橡胶、纤维等,测定添加剂或填充料的扩散深度,评估材料的老化性能

电子元件:如电阻、电容、电感等,检测电极材料与基体之间的元素扩散,防止接触失效。

检测标准

ASTME1688-19:用二次离子质谱法测定材料中元素扩散深度的标准试验方法。

ISO14237:2012:金属材料表面处理元素扩散深度的测定glowdischargeopticalemissionspectroscopy(GDOES)法。

GB/T38976-2020:半导体材料元素扩散深度的测定二次离子质谱法。

ASTMB824-21:用X射线光电子能谱法测定涂层中元素扩散深度的标准试验方法。

ISO20341:2003:表面化学分析二次离子质谱法元素深度剖面分析的一般要求。

GB/T20170-2006:金属材料热扩散系数的测定激光闪光法(适用于扩散系数计算)。

ASTME2371-19:用电子探针显微分析测定材料中元素浓度分布的标准指南(适用于浓度分布分析)。

ISO16531:2013:表面化学分析俄歇电子能谱法元素深度剖面分析的一般程序(适用于深度剖面分析)。

GB/T1814-2000:钢材断口检验法(适用于界面扩散层厚度测量的样品制备)。

ASTMD6350-19:用傅里叶变换红外光谱法测定聚合物中添加剂扩散深度的标准试验方法。

检测仪器

二次离子质谱仪(SIMS):一种高灵敏度的表面分析仪器,通过检测溅射产生的二次离子来分析元素组成,在本检测中用于深度剖面分析和扩散深度测定,空间分辨率≤0.5μm,检测限≤10ppm。

辉光放电光谱仪(GDOES):利用辉光放电产生的等离子体激发样品,通过发射光谱分析元素组成,适用于金属材料的元素扩散深度测定,深度分辨率≤0.1μm,可分析元素范围Li~U。

X射线光电子能谱仪(XPS):通过检测样品表面的光电子能谱来分析元素组成与化学状态,在本检测中用于表面富集率测试和界面扩散层厚度测量,深度分辨率≤1nm,检测限≤0.1at%。

电子探针显微分析仪(EPMA):结合电子显微镜和X射线光谱仪,可对样品微区进行元素分析,适用于浓度分布分析和扩散系数计算,空间分辨率≤1μm,元素检测限≤100ppm。

激光闪光热导仪:通过激光加热样品表面,测量背面温度变化来计算热扩散系数,在本检测中用于扩散激活能测定,温度范围25℃~1500℃,热扩散系数范围0.1~1000mm/s,精度5%。

原子力显微镜(AFM):通过探针扫描样品表面,获取表面形貌与元素分布,适用于界面扩散层厚度测量,空间分辨率≤0.1nm,深度测量精度1%。

傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):利用红外光与样品的相互作用分析化学组成,适用于聚合物材料的元素扩散深度测定,检测范围0.1μm~10μm,波数范围400~4000cm⁻。

电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS):通过电感耦合等离子体将样品离子化,用质谱仪检测离子,适用于深度剖面分析中的元素浓度测定,检测限≤0.1ppb,线性范围≥7个数量级。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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