硫酸镱检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-07-09  

硫酸镱检测涵盖纯度、杂质及物化特性等关键指标,采用光谱、色谱等精密分析方法。核心检测项目包括主含量测定、重金属限量及阴离子残留控制,严格遵循ISO、GB/T等国际国内标准规范,确保数据准确性和材料可靠性。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

氧化镱主含量测定:采用EDTA络合滴定法,测定精度±0.5%,检测范围98.0%-99.99%

重金属总量分析:原子吸收光谱法测定铅、镉、汞等,限量值≤10ppm

硫酸根含量测定:离子色谱法检测,分辨率0.1ppm,控制范围99.5%-100.5%

稀土杂质检测:ICP-MS定量分析镥、铥等14种稀土元素,检出限0.01ppm

氯化物残留检测:电位滴定法测定,允许范围≤0.005%

灼烧减量测试:马弗炉1000℃恒重法,偏差控制±0.2%

不溶物含量:真空抽滤称重法,规格要求≤0.01%

铵盐残留检测:纳氏试剂比色法,限量≤0.001%

铁含量测定:邻菲啰啉分光光度法,波长510nm,标准值≤0.001%

晶体形貌表征:扫描电镜观察晶体粒径分布,检测范围0.1-50μm

pH值测试:电极法测定5%水溶液,控制区间3.5-4.5

放射性核素筛查:γ能谱仪测定铀、钍活度,限值≤1Bq/g

检测范围

荧光材料前驱体:用于制备X射线增感屏及激光晶体的高纯硫酸镱原料

核反应堆控制棒材料:中子吸收剂用硫酸镱陶瓷烧结体组分分析

有机合成催化剂:过渡金属催化反应中镱基助催化剂纯度验证

光纤掺杂剂:通信光纤用稀土掺杂剂的杂质元素控制

磁致冷工质:室温磁制冷设备用镱化合物晶体结构检测

生物医学造影剂:MRI增强剂原料的毒理性杂质筛查

半导体镀膜材料:微电子器件沉积工艺用镱源纯度验证

高温超导材料:钇钡铜氧体系掺杂剂的成分标定

辐射屏蔽材料:核防护材料中镱化合物的配比验证

分析化学基准物:滴定分析用标准物质的定值检测

稀土分离中间品:溶剂萃取工艺中镱富集物的相态分析

固态电解质组分:全固态电池用镱掺杂氧化锆电解质检测

检测标准

ISO 11876:2010 稀土金属化合物 电感耦合等离子体质谱测定法

GB/T 12690.3-2015 稀土金属及其氧化物化学分析方法 第3部分:灼减量的测定

ASTM E181-17 放射性核素比活度测量标准规程

GB/T 11074.4-1989 荧光级稀土氧化物化学分析方法 硫酸根测定

ISO 20565-3:2008 含铬耐火材料化学分析 第3部分:ICP-AES法测稀土元素

GB/T 16484.22-2009 氯化稀土化学分析方法 水不溶物测定

ISO 6206:1979 化学分析试剂 重金属限量试验通则

GB/T 8762.2-1988 荧光粉用氧化钇 氧化镱杂质检测方法

EJ/T 1212.3-2008 烧结氧化钆镝芯块分析方法 第3部分:稀土杂质测定

ISO 21078-1:2008 耐火制品中硼化物含量测定 第1部分:ICP-AES法

检测仪器

电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS):测定痕量稀土杂质,质量分辨率0.8amu,检测限达ppt级

傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):分析结晶水含量及阴离子基团特征吸收,波数范围4000-400cm⁻¹

同步热分析仪(TG-DSC):同步检测热分解特性及相变温度,升温速率0.1-100℃/min

波长色散X射线荧光光谱仪(WD-XRF):无损测定主成分含量,元素检测范围Be-U

离子色谱仪(IC):测定硫酸根、氯离子等阴离子残留,电导检测器灵敏度0.1μS/cm

激光粒度分析仪:表征晶体粒径分布,测量范围0.01-3500μm

紫外可见分光光度计:铁含量定量分析,波长精度±0.3nm

高纯锗γ能谱仪:放射性核素活度测量,能量分辨率1.8keV

扫描电子显微镜(SEM):晶体形貌观测,分辨率3.0nm@30kV

电位滴定仪:氯离子精确测定,电位分辨率0.1mV

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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