硅铁品质全面检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-05-21  

检测项目硅铁品质检测体系包含12项核心指标:化学成分:硅(Si)含量(65-90%)、碳(C)≤0.2%、磷(P)≤0.04%、硫(S)≤0.02%、铝(Al)≤2.0%、锰(Mn)≤0.5%物理性能:粒度分布(10-100mm)、堆积密度(1.4-1.6g/cm)、抗压强度(≥50MPa)杂质控制:钛(Ti)≤0.5%、钙(Ca)≤1.5%、铬(Cr)≤0.5%表观质量:断面气孔率(≤15%)、表面氧化层厚度(≤200μm)检测范围本检测方案适用于以下三类产品:牌号分类:FeSi75Al1.5、FeSi

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

硅铁品质检测体系包含12项核心指标:

  • 化学成分:硅(Si)含量(65-90%)、碳(C)≤0.2%、磷(P)≤0.04%、硫(S)≤0.02%、铝(Al)≤2.0%、锰(Mn)≤0.5%
  • 物理性能:粒度分布(10-100mm)、堆积密度(1.4-1.6g/cm)、抗压强度(≥50MPa)
  • 杂质控制:钛(Ti)≤0.5%、钙(Ca)≤1.5%、铬(Cr)≤0.5%
  • 表观质量:断面气孔率(≤15%)、表面氧化层厚度(≤200μm)

检测范围

本检测方案适用于以下三类产品:

  1. 牌号分类:FeSi75Al1.5、FeSi65Al3等GB/T标准规定的8个牌号
  2. 形态规格:块状(10-100mm)、粉状(80-325目)、颗粒状(5-25mm)
  3. 应用领域:炼钢脱氧剂(Si≥72%)、铸造孕育剂(Si=65-72%)、金属镁还原剂(Si≥75%)

检测方法

项目类别执行标准技术要点
化学分析GB/T4333.1-2019采用X射线荧光光谱法(XRF)进行主量元素测定;电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测定微量元素;红外吸收法测定碳硫含量
物理测试GB/T14840-2010激光粒度分析仪进行粒度分布测定;气体置换法真密度测试;微机控制电子万能试验机进行抗压强度测试
金相检验YB/T4026-2019制备抛光试样后使用金相显微镜观察硅相分布形态及夹杂物含量;图像分析软件计算气孔率参数

检测仪器

X射线荧光光谱仪
配备Rh靶X光管(4kW),硅漂移探测器(SDD),可同时测定Si、Al等12种元素含量,测量精度0.15%
激光粒度分析仪
采用米氏散射原理,测量范围0.1-3000μm,配备干湿法双模进样系统,符合ISO13320标准要求
全自动密度仪
气体置换法原理,分辨率0.0001g/cm,配置10cm样品池与高精度压力传感器系统
微机控制电子万能试验机
最大负荷300kN,位移分辨率0.001mm,配备高温炉可实现25-1200℃环境下的力学性能测试
金相显微镜系统
配置500万像素CMOS相机,8通道电动物镜转换器(5x-100x),具备景深扩展与三维重构功能










检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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