基板翘曲度激光检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-19  

基板翘曲度激光检测采用非接触式激光技术评估各类基板的平整度偏差和变形特性。该检测方法聚焦于关键几何参数如翘曲高度、弯曲角度和应力分布,确保测量精度在μm级水平,适用于电子、半导体和复合材料领域的高标准质量控制。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

翘曲高度:测量基板表面的最大垂直偏差参数。检测参数:精度0.01mm,测量范围0-10mm。

弯曲角度:评估板面局部弯曲变形程度参数。检测参数:分辨率0.05度,角度范围0-15度。

扭曲度:分析基板扭转变形特性参数。检测参数:测量误差0.1度,最大扭曲限值5度。

平面度:整体表面平整度综合评估参数。检测参数:偏差值0.02mm/m,采样点密度100点/m。

线性翘曲:特定方向上的变形变化测量参数。检测参数:长度方向变化量0.01mm,线性分辨率0.005mm。

非线性翘曲:复杂变形模式多维分析参数。检测参数:多点采样误差<0.01mm,模式识别精度98%。

热翘曲系数:温度变化引起的变形量化参数。检测参数:温度范围-40C至200C,系数精度0.5ppm/C。

应力分布:内部应力导致的变形映射参数。检测参数:应力映射分辨率0.1MPa,全场覆盖面积100%。

边缘变形:基板边缘区域翘曲特异性评估参数。检测参数:边缘宽度影响因子0.02mm,边界采样间隔0.5mm。

多点高度差:多个位置高度偏差比较参数。检测参数:点距精度0.01mm,最大点数1000点。

表面轮廓三维重构:生成基板三维模型分析参数。检测参数:点云密度50点/mm,重构误差<0.01mm。

重复性测试:多次测量一致性和稳定性验证参数。检测参数:标准差<0.005mm,重复次数≥5次。

动态变形响应:加载条件下实时变形监测参数。检测参数:响应时间<10ms,加载力范围0-100N。

检测范围

印刷电路板(PCB):电子设备用多层或单层基板材料。

半导体晶圆:硅或其他半导体材料的薄片基板。

陶瓷基板:高温绝缘应用的高硬度基板。

玻璃基板:显示面板或光学器件的透明基板。

复合材料板:碳纤维增强塑料等轻量高强度基板。

柔性电路板:可弯曲电子连接用聚合物基板。

金属基板:铝或铜散热用导热基板。

塑料基板:轻量化应用聚合物基板。

光学基板:透镜或反射镜基础材料。

封装基板:芯片封装载体基板。

太阳能电池板:光伏模块支撑基板。

建筑玻璃板:大型结构玻璃基板。

航空航天复合材料:飞机部件用轻质基板。

汽车电子基板:车载系统用耐振基板。

检测标准

ISO1101:2017几何公差规范。

ASTMD5948塑料片材翘曲测试标准。

GB/T1800.1-2009公差与配合基础。

ISO25178表面纹理参数测量。

GB/T2951.12-2008绝缘材料热变形测试。

IPC-TM-650电子工业测试方法。

DIN4768表面粗糙度评估标准。

JISB0021几何公差定义规范。

ISO10360坐标测量机精度校准。

GB/T2611-2007试验机通用技术要求。

检测仪器

激光位移传感器:非接触测量基板高度变化的设备。功能:实时捕捉表面垂直偏差,分辨率0.001mm。

激光干涉仪:利用光干涉原理测量微小位移的设备。功能:高精度翘曲高度分析,波长精度632nm。

三维激光扫描仪:扫描表面生成三维模型的设备。功能:全面翘曲轮廓重构,扫描速度100mm/s。

热环境测试箱:控制温度模拟热变形的设备。功能:温度循环下翘曲系数测量,温控范围-40C至250C。

光学坐标测量机:结合激光和光学系统的精确测量设备。功能:多点位置检测和平面度评估,精度0.005mm。

数字图像相关系统:基于激光图案分析全场变形的设备。功能:应力分布映射,图像分辨率5μm/pixel。

激光轮廓仪:快速扫描线性轮廓的设备。功能:线性翘曲检测,扫描频率1kHz。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院