北检院检测中心 | 点击量：16次 | 2024-11-30 10:07:21
JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法
标准中涉及的相关检测项目
标准《JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法》中提到的相关检测项目和检测方法通常涉及电力半导体器件的多个方面。以下是其可能涵盖的内容：
检测项目：- 性能检测：包括电参数测试，如导通电压、反向电流、漏电流和开关特性等。
- 环境适应性检测：如温度循环、热冲击、湿热试验等，以评估器件在不同环境下的可靠性。
- 机械性能检测：包括外观检测、尺寸检查和机械强度测试（如振动、冲击测试）。
- 寿命和耐久性测试：进行加速老化试验以确定器件的使用寿命。
- 安全性测试：确保在额定条件下安全工作的必要测试。
- 使用标准电参数测试仪器进行电性能测试。
- 环境试验箱用于环境适应性检测，如高低温和湿度的条件模拟。
- 使用机械测试设备进行振动和冲击测试。
- 通过显微镜检查以及肉眼观察进行外观检查和尺寸验证。
- 加速老化装置用于寿命测试。
该标准涉及的产品主要为各种类型的电力半导体器件，例如：
- 二极管
- 晶闸管（可控硅）
- IGBT（绝缘栅双极型晶体管）
- MOSFET（场效应晶体管）
- 其他用于电力电子系统的半导体元件
JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法的基本信息
标准名：电力半导体器件检验抽样方法
标准号：JB/T 7786-1995
标准类别：机械行业标准(JB)
发布日期：1995-10-05
实施日期：1996-01-01
标准状态：现行
JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法的简介
本标准规定了计数型一次抽样方案、追加抽样方案及抽样程序。本标准适用于电力半导体器件(包括模块、组件和附件)的出厂(或逐批)检验、型式(或周期)试验和交收检验。JB/T7786-1995电力半导体器件检验抽样方法JB/T7786-1995
JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法的部分内容
中华人民共和国机械行业标准
电力半导体器件检验抽样方法
1主题内容与适用范围
本标准规定了计数型一次抽样方案、追加抽样方案及抽样程序。JB/T7786-1995
本标准适用于电力半导体器件（包括模块、组件和附件）的出厂（或逐批）检验、型式（或周期)试验和交收检验。
引用标准
GB2828
GB2829
逐批检查计数抽样程序及抽样表周期检查计数抽样程序及抽样表GB4589.1半导体器件分立器件和集成电路总规范3术语
3.1单位产品
为实施抽样检查的需要而划分的基本单位。例如：一只器件、一个部件、一组产品等。3.2检查批（简称：批）
为实施抽样检查汇集起来的产品。3.3批量(N)
批中所包含的单位产品数。
3.4样本单位
从批中抽取用于检验的单位产品。3.5样本
样本单位的全体。
3.6样本大小；样品量(n）
样品中所包含的样品单位数。
3.7不合格
单位产品的质量特性不符合规定。3.8不合格品
有一个或一个以上不合格的单位产品。3.9每百单位产品不合格品数；批质量(p）批中所有不合格品数D除以批量N，再乘以100，即：每百单位产品不合格品数=批中不盒鼻总数(D)×100批量(N)
3.10过程平均(p)
一系列初次提交检验批的批质量平均值。注；初次提交检验批不包括第一次提交检验判为不合格，经返工后再次提交检验的批。机械工业部1995—10—09批准
199601—01实施
3.11合格质量水平（AQL）
JB/T7786—1995
在抽样检查中，认为可以接受的连续提交检验批的过程平均上限值。'3.12检查；检验
用测量、试验或其它方法，把单位产品与技术要求对比的过程。3.13计数检查
根据产品技术标准规定的一组或一项技术要求，确定单位产品是合格品还是不合格品的检查。3.14逐批检查
为判断每个提交检验批的批质量是否符合规定要求，对每个批的单位产品进行百分之百或从批中抽取样本的检查。
3.15周期检验
为判断在规定周期内（按时间规定，也可按制造的单位产品数量规定生产过程的稳定性是否符合规定要求，从逐批检查合格的某个批或若干批中抽取样本的检查。3.16生产定型检查
为判断某一生产线能否成批制造符合规定质量要求的产品而进行的周期与逐批检查。3.17批量生产检查
为判断某一生产线在生产定型检查通过后，能否继续保持成批制造符合规定质量要求的产品进行的周期与逐批检查。
3.18，合格判定数（Ac、c）
作出批合格判断，样本中所允许的最大不合格品数。3.19.不合格判定数(Re、r）
作出批不合格判断，样本中所不允许的最小不合格品数。3.20判定数组
合格判定数和不合格判定数或合格判定数系列和不合格判定数系列结合在一起。3.21抽样方案
样本大小或样本大小系列和判定数组结合在一起。3.22抽样程序
使用抽样方案判断批合格与否的过程。3.23一次抽样方案
由样本大小n和判定数组[Ac、Re]或[c、r]结合在一起组成的抽样方案。注：一次抽样方案按检查的宽严程度，分为正常检查、加严检查和放宽检查三种。3.24检查水平(IL）
提交检查批的批量与样本大小之间的等级对应关系。3.25样本大小字码
根据提交检查批的批量和检查水平确定的样本大小字母代码。3.26批合格概率(Pa）
对一个批质量已知的批，按给定抽样方案判该批合格的可能性大小。3.27抽查特性曲线(OC曲线）
由给定的抽样方案所确定的批合格概率与批质量之关系曲线。4抽样检查的程序与实施
4.1抽样检查的程序
a）明确或制订考核单位产品合格的判据：b）组成与提出检查批；
JB/T7786—1995
规定合格质量水平(AQL)和检查水平(IL）；d）确定样本大小字码；
检索抽样方案(n、Ac)；
抽取样本n和对样本进行检查；
g）、判定检查批合格或不合格。4.2抽样检查的实施
4.2.1考核单位产品性能合格的判据在产品标准或订货合同中给出，并通过测试或试验实施。4.2.2检查批的组成
检查批通常由同设计、同类型（基本型号、尺寸、主持性等），同生产条件和基本相同生产时间的单位产品组成。
检查批可以是生产批、销售批或运输批，也可以和它们不同。检查批可以是一个生产批，也可以由几个生产批组成。
4.2.3合格质量水平的规定
合格质量水平(AQL)按产品性能参数或不合格（缺陷)的重要程度不同规定不同的值。确定AQL值的原则是：
a）关系到使用安全和可靠性的基本性能参数或属致命缺陷的AQL值应小于一般重要性能参数或严重缺陷的AQL值：
b）重要性能参数或属严重缺陷的AQL值应小于一般性能参数或属轻微缺陷的AQL值；器件、组件或模块的AQL值应不大于整机的AQL值；c）
d）分立器件的AQL值应不大于组件或模块的AQL值；构成器件的零部件和附件的AQL值应不大于器件的AQL值。e）
4.2.4检查水平的规定
检查水平(IL)分为一般检查水平1、I、I三个级和特殊检查水平S-1、S—2、S一3、S4四个级。除另有规定外，通常应采用一般检查水平1。在抽样检验实施中，如未指出或说明检查水平的等级，则应认为是一般检查水平1。待殊检查水平在批量小或需小样本时使用。批量N和合格质量水平AQL一定时，抽取的样本大小n和判别力随检查水平的不同而不同。样本大小和判别力随下列检查水平从左至右逐渐增大或增强：S-1、S-2、S-3、S-4、I、I、I
检查水平的规定除了与批量和样本大小有关外，原则上还应按产品性能参数或缺陷的重要程度分别规定。此外，在采用特殊检查水平时，应注意与合格质量水平协调一致，以防止较小AQL时的最小样本大于由检查水平(如S一1或S一2)得到的最大样本的矛盾。4.2.5抽样方案的检索
a）除另有规定外，检验开始应使用正常检查一次抽样方案；由检查批的批量N和规定的检查水平IL，查表1得出样本大小字码；b）
由得到的样本大小字码在表2中查出对应的样本大小n；d）由样本大小n和规定的合格质量水平AQL，在表2中查出判定数组[Ac、Re]。于是得到了具体的抽样方案(n、Ac、Re)。
如表2中n所在行与AQL所在列之相交处是箭头，则应使用箭头指向的第一个判定数组和此判定数组所在行的样本大小。当箭头指向的第一个判定数组对应的样本大小n等于或大于批量N时，则N即为样本，即对批中的全部单位产品进行检查。4.2.6抽取样本和实施检查
样本应从检查批中随机抽取，抽取方法应能代表批质量，当检查批由若干层组成时，样本应分层按层大小占批量的比例抽取，批的样本由批各层的抽样组成。根据产品标准或订货合同对单位产品规定的21
JB/T7786—1995
检验项目、检验方法和合格判据，对样本中的全部单位产品逐个进行检查，累计不合格品总数（d)。4.2.7判定批合格的规则
样本经检查后，若样本中出现的不合格品数小于或等于合格判定数(d
4.2.8加严检查和放宽检查
初次提交批使用正常检查一次抽样方案检查不合格经全检筛选或修理好后，再次提交检查时，如使用加严检查应按GB2828的表4规定的加严检查一次抽样方案，或较正常检查的AQL加严一级的抽样方案。
从正常检查到放宽检查和从放宽检查到正常检查的条件应符合GB2828的4.6.3(转移规则）。放宽检查一次抽样方案按GB2828的表5实施。5批允许不合格品率(LTPD)抽样方案5.1概述
批允许不合格品率(LTPD)抽样方案主要用于电力半导体器件的周期检验。表3给出了大批量(N>10n）、置信度为90%的LTPD抽样方案（一次抽样）；表4给出了批量小于等于200的LTPD抽样方案。表5是由表3选择LTPD值、按合格判定数c=2和样本大小接近AQL抽样方案的检查水平I编制的，此表给出了AQL值与LTPD值相对应的两种抽样方案。本表限用于合格判定数不大于4和批量不大于150000的抽样方案。
表6给出置信度四个挡值的LTPD抽样方案。置信度低于90%的抽样方案通常用于机械、气候环境试验和耐久性试验。
5.2LTPD抽样方案的样本大小n和检索程序对于批量大于200的抽样，由规定的LTPD值和选择的合格判定数c在表3或表6中即可查到样本大小n。对于批量小于等于200.的抽样，原则上由批量N、规定的LTPD和选择的合格判定数c确定样本大小n。检索程序是：首先由在表4中找到需要进一步查索的分表；在此分表找到等于或最接近检查批批量N的批量栏（如实际批量在两栏之间，则可任选两栏中之一栏）；在批量栏所在列找到等于或最接近规定LTPD值的LTPD值，此LTPD值所在行的左端对应的n即是所需的样本大小。如使用的批量栏中没有等于或小于规定LTPD值的LTPD值，则应采用100%检验。LTPD抽样方案（一次)合格判定数通常选择1，最大不超过4。5.3追加抽样和批合格判定规则
第一次抽样时，对样本检验后，如样本中的不合格品数d小于或等于合格判定数c(d
追加抽样方案仅对追加的样品量△n(nz一n,)进行检验，△n中出现的不合格判定数为d2，如d，十d≤cz，则判批为合格批，如di十dz>c2，则判批为不合格批。采用追加抽样方案时，必须保持与第一次抽样方案相同的LTPD和置信度(CL）。第一次抽样方案的合格判定数c通常选取1，追加抽样方案的合格判定数选取2(见表7)。5.4加严检验
加严检验按表3或表4中比规定的LTPD值严一级进行。22
批量范围
91~150
151~280
281~500
501~1200
12013200
3201~10000
10001~35000
35001~150000
150001~500000
>500001
注：使用箭头下面第一
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表1样本大小字码
特殊检直水平
表2正常检查一次抽样方案
Ac ReAc Re
个抽样方案，
若样本大小等于或大于批量
+=使用箭头上面第一个抽样方案22
一般检查水平
AcReAcRe
则进行百分之百检验。
合格判
定数(e)
(r=e+1)
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表3大批量的LTPD描样方案
（置信度90%）
样本大小是根据普阿松指数
二项式极限确定的。
括号内所示为平均19/20批被接收所要求的最低质量水平（约等于（AQL)仅供参考。表4
批量小于或等于200的小批量超几何抽样方案40
JB/T7786—1995
表4(完)
①本表给出了与特定的一次抽样方案(合格判定数、样本大小和批量)相应的LTPD值。②本表是根据超几何分布(精确理论)对小于等于200的批进行计算的。150
③一个抽样方案的LTPD定义为：在该方案下批的接收概率为0.10时相应的百分不合格品率，这样定义的LTPD不一定是涉及批量的可实现的批不合格品率。25
JB/T7786—1995
表5AQL抽样方案和LTPD抽样方案0.15
注：由本表抽样方案得到的样本大小最接近检查水平1、0.65
样品大小字码C至N给出的样本大小(5~500)。表6不同置信度的LTPD抽样方案
置信度
样本大小(n)
一次抽样(n）
追加抽样(n，)
追加数(n:-n)
置信度(CL)
附加说明：
JB/T7786—1995
表7常用的LTPD追加抽样方案
样本大小
本标准由机械工业部西安电力电子技术研究所提出并归口。本标准由西安电力电子技术研究所负责起草。本标准主要起草人。秦贤满
合格判定数
现行北检院检验检测中心能够参考《JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。
检测范围包含《JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法》中适用范围中的所有样品。
测试项目
按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《JB/T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。
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检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
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支付检测费用并签署委托书;
开展实验，获取相关数据资料;
出具检测报告。
北检研究院的服务范围
1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。
