GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E

标准中涉及的相关检测项目

标准《GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E》主要涉及电子设备用膜固定电阻网络的相关要求。以下是标准中提到的相关内容：

• 电阻值的测量

• 温度系数的测量

• 耐电压测试

• 绝缘电阻测量

• 耐久性测试

• 环境测试，如温湿度循环、振动测试等

• 机械强度测试

• 使用精密测量仪器进行电阻值和温度系数的精密测量

• 耐电压测试通过施加一定电压进行，以验证电阻网络的绝缘性能

• 绝缘电阻测量使用绝缘电阻测试仪来评估电阻网络的绝缘性能

• 耐久性测试包括长时间通电和断电循环测试，以评估其稳定性和寿命

• 环境测试通过模拟实际使用条件的变化来测试产品在不同温湿度或振动条件下的稳定性和可靠性

• 机械强度测试通过施加物理冲击或压力测试其机械强度

该标准适用于电子设备中使用的膜固定电阻网络。这些电阻网络广泛应用于各种电子和电气设备中，包括但不限于消费电子、工业控制设备、通信设备等。

GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E的基本信息

标准名：电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E

标准号：GB/T 15883-1995

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1995-01-02

实施日期：1996-08-01

标准状态：现行

GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E的简介

内容请见本标准。GB/T15883-1995电子设备用膜固定电阻网络第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范评定水平EGB/T15883-1995

GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E的部分内容

GB/T 15883 —1995

本标准等同采用国际标准IEC1045-2-1/QC390101:1991《电子设备用膜固定电阻网络第2部

分：按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范评定水平E》。本标准的上层标准是GB/T15654—1995&电子设备用膜固定电阻网络各第1部分：总规范》和

GB/T158821995≤电子设备用膜固定电阻网络第2部分：按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范》，上述总规范》和分规范》分别等同于国际标准IEC1045-1/QC390000：1991和IEC1045-2/QC 390100:1991.

通过使我国标准与国际标准等同.以适应国际贸易、技术和经济交流的需要，表 2 中 B1 分组的“D 或 ND\栏内原文误为 ND,本标推根据分规范更正为 D。表2中C1分组，与“差分电阻温度特性\对应的\性能要求\栏内的条款号，原文误为（见2.2.22），本标准根据分规范更正为（见2.1.2a）。本标推由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位：电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人刘宽，

GB/T15883—1995

IEC前言

1）IEC（国际电工委员会）在技术间题上的正式决议或协议，是由对这些问题持别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的.对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的…-致意见。2）这些决议或协议以推荐标准的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会所认可。3）为促进国际上的统一，IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下，采用IEC标准文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明。GB/T15883—1995

本标准是由IEC第40技术委员会（电了设备用电容器和电阻器）制定的。本标准文本以下列文件为依据：“六个月法”文件

40（中办)655

以上表所示的表决报告中还可以得到更进一步的内容，表决报告

40（中办）677

本标准封面上的QC号是IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)的规范号。中华人民共和国国家标准

电子设备用膜固定电阻网络

第2部分：按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范

评定水平E

Fixed film resistor networks for use in electronic equlprnentPart 2.Blank detail specificatlon for film resistor networksof assessed quality on the basis of the capability approval procedureAssessment level E

空白详细规范

GB/T 15883—1995

idt IEC 1045-2-1:1991

QC390101:1991

空白详细规范是分规范的一种补充性文件，它包括详细规范的格式、编排和最少内容方面的要求。对于通常不公布的定制电路，其空白详细规范的编排要求是非强制性的。关于检验要求的最少内容见分规范GB/T15882—1995(IEC1045-2>的3.3.3条和本规范第二篇的规定。详细规范应该按空白详细规范由：a）需要电阻网络(这种网络在制造厂商的能力批准范围之内)的用户编制：b）需要规定电阻网络(这种网络在他的能力批准范围之内)的制造厂商编制。编制完成的详细规范应给出按IECQ能力批准程序放行的电阻网络的技术数据和检验要求。制定详细规范时应考虑分规范1，4条的内容首页括母中数字标注的位置上应填写下列相应内容：正式发布的详细规范的识别

（1）授权起草该详细规范的“国际电工委员会\或国家标准机构。（2）[EC的或国家的详细规范编号,发布日期以及国家体制需要的其他内容。(3）IEC的或国家的总规范编号和版本号。(4）IEC的空白详细规范综号。

用户编制的详细规范的识别（通常不公布）编制完成的详细规范应给予个识别编号以代替上述的（1)、（2)、（3)和（4)，此后应考虑作为订单的合同部分。

用户编制的详细规范应由用户和制造厂商协商给予识别编号。制造厂商的总检查员应保留所有详细规范的副本。电阻网络的识别

（5）如果可能，对这种膜电阻网络作一简短技术说明，并给出型号和功能。(6）出网络内所有电阻器及其接法的电路图。应示出引出插脚数。各电阻器应标作R1、R、R，等。(7）典型结构方面的内容（适用时）。国家技术监督思1995-12-22批准1996-08-01实施

GB/T15883—1995

注，当电阻网络不是设计用于印制电路板时，详细规范的这个位置上应明确指出。（8）标有对互换性有重要影响的主要尺寸的外形图，和（或)引用的国家的或国际的关于外形方面的文件。另一种方法是，这种图形可在详细规范的附录中给出。（9）涉及的用途或应用类型和（或）评定水平，但用户编制的详细规范除外。注：详细规范中采用的评定水平（或几个评定水平），应从分规范的3.3.3条中选取，这意味者只要试验的编组不变，几个评定水平可以共用一个空门详细规范。（10）关键特性的标准数据，以便在各种型号电阻网络之间进行比较。按

外形图（见表1）

(第一角投影)

GB/T15883—1995

评定质量的电子

（在给定的尺寸范围内允许形状有所不同）GB/T

IEC 1045-2-1-

QC 390 101-

GB/T15883—1995

IEC 1045-2-1

QC 390 101

膜固定电阻网络

封装的/埋封的

评定水平E

按本详细规范鉴定合格的元件的有效数据在鉴定合格产品一览表给出(2)

1一般数据

1.」推荐的安装方法（需填写）GB/T15883—1995

第一篇一般数据

（见分规范GB/T15882—1995的1.4.2)，1.2尺寸、额定值和特性

网络额定功耗

所有尺寸均以毫米或以英寸和毫米为单位。1. 2. 1

电阻元件的额定值和特性

标称阻值允

元件极限电乐

各元件之间的绝缘电压

（适用时）

元件额定功耗（直流或交流有效值）w

10-0/℃

注，上述内容可能带要用其他表达形式,但应尽量采用上述形式。1.2.2网络的额定值和特性

气候类别

低气压

功能特性(适用时)

R和R,之间的差分电阻温度特性(适用时）R和化，之间的标称阻值比允许偏差（适用时）R,和R,之间的差分阻值变化(适用时)差分漂移的测试方法

德定度

长期试验

稳定度

8.5kPa(85mbar)

短期试验

稳定度

在使用能力鉴定电路\CQC\的情况下所包括的电气额定值和特性范围（见分规范的3.1)1.2.3降额

本规范包括的电阻器按下述曲线降额：(详细规范中应有一条适当的曲线）注：还应见分规范的2.3.3茶，

1.3有关文件

GB/T15883 :1995

总规范：GB/T15654-1995（IEC1045-1）电子设备用膜固定电阻网络第1部分：总规范分规范：GB/T15882—1995（IEC1045-2）电子设备用膜固定电阻网络第2部分：按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范1.4标志

元件和包装上的标志应符合总规范GB/T156541995第2.4条的要求，注：详细规范中应完整地给出元件和包装上的标志细节。1.5订货资料

本规范电阻网络的订单应该用文学或代码形式给出下列最少内容：）电骼的类型，例茹：厚膜电阻网络b）详细规范编号和型号以及评定水平，如果有规定；c）电路的功能,如果有规定！

d）基本功能特性和允许偏差，如果有规定。1-6放行批证明记录

当要求效行批证明记录时，应按总规范3.8.1的规定包括CQC的试验结果，1.7附加内容(不捡验）

详细规范可以包括通常不要求按检验程序检查的内容，如曲线，图样以及为逹清详细规范的说明等。

1.8对总规范和(或)分规范规定的严酷度或要求的补充或提高。注：在必要时才规定补充或提商要求。第二篇检验要求

2捡验要求

2.1程序

2. 1. 1对于能力批准,其程序应该按照分规范 GB/T 15882—1995 第 3 章的规定2. 1.2对丁能力批准的维持和质量一致性检验,试验一览表(表2)中列有抽样、周期、严酷度和要求。表2

1试验项目和性能要求的条款号引白总规范GB/T 156541但功能特性,阻值比,差分电阻温度特性的条款号引自分规范GB/T15882.这种情况下的条款号给在括号中，监于性能要求在很大程度上取决十网络的结构，所以要由详细规范来给定，但只要适用，这些性能要求就应从分规范的表1和表2中迷取。2检查水平和AQL值选自IE心 410:计数检查抽样方案和程序。3本表中,

力冏期（）；

\=样本大小

C二合格判定数（允许不合格品数），D一破坏性的+

ND=非被坏性的：

IL=检查水平，

AQL=合格质水平。」

4通带,A 组和 B组检验采用定制电路进行,C 组和 D 组检验采用 CQC 进行。用户要求的补充试验应在此表中作出规定。

条款导和试验项目

（见注1)

A组检验（逐批）

A1分组

4.4.1外观检查

A2分组

4.4.2尺寸

（量规捡验）

4.5阻值

4.7功能特性(适用时)

4.8阻值比（适用吋）

B组检验（逐批）

BI好组

4.14可焊性

4. 23标志耐溶剂性(适用

承款号和试验项目

【注1】

组检验（周期）

C1 分组

4.9耐电压

4.16温度快速变化

GB/T15883—1995

表2(绒）

试验条件

（见注1）

不老化

溶剂：

溶剂阖度：

方法1

兼拭材料：脱脂棉

试验条件

（见注1）

方法：

8.下限类别温度

8：上限类别温度

外观检查

ILAQL！

（见注2）

5-4 :1-0%

性能要求

【见注1）

符合 4. 4. 1 的规定

标志清楚并符合本规范1.4

的规定

符合本规范友1规定

待合4.5:2的规定

根据适用，以麗润引出端的焊

料能自出流动或焊料在_β内

流合说明可焊性良好

标志清楚

样本大小和

合格判定数

（见注3）

性能要求

（见注1)

无击穿或飞弧

无可见损伤

AR±(_%R+ )

茶款号和试验项目

（见注1）

4.10.4.2电阻盈度系数

分电阻温度

特性（适用时）

C2A分组

C2分组样本的半

4.13引出端强度

1.15耐焊接热

4.22元件耐落剂性（适用

4.10阻值随温度变化

4.12过载

C2B分组

C2 分组样本的另半

4.16温度快速变化

GE/T 15883—1995

表2（续）

样本大小和

试验条件

（见注1)

本试验仅在要求温度系数小

于±50×10/℃才适用。仅

作 20 ℃~ 70 ℃ ~ 20 ℃ 一个循环

下限类别温度/20℃

200/上限类别避度

见分规范2.4.8

外观检查

槽焊法1A

外观检查

溶剂湿度：

恢复：

下限类别温度/20r:

20C/上限类别温度

引出端与之问，√电压

外观羧查

:下限类别温度

上限类别温度

外观检登

合格判定数

（注3）

性能要求

（见注1)

A(R.T.C.)≤I_%

（见2,1.2a）

A(R.T.C.)≤±_%

(见2.1.2a）

无可见损物

AR≤±(_%R+-.0)

无可见损伤，标志清楚

AR≤±(_%R+_n)

克诺细现范

AR/RS±_%

战a：..106/℃

AR/RS±.%

或_10-/

无可见损伤·标志清楚

ARE±(_XR._n)

无可见损伤

AR≤±(.XR-_ n)

条款号和试验项目

（见注1)

4.18振动

C2分组

C2A和C2B分组的样品合布

4.19气候顺序

循环望热,试验 Db,第一,

个循环

—寒玲

一低气压

循环混热·试验 Db，其余

的循环

C3分组

4. 21.1 70℃耐久性

GB/T15B83-1995

表2(续）

样本大小和

试验条件

(见注1)

安装方法，见本规范 1.1

程序B4

题率范围：10Hz～500Hz

振幅:0. 75 mm或 98 m/s

（取较不严酯者）

总持续时间：6h

外观捡查

8. 5 kPu(85 mbar)

外观检查

电阻元件之间的绝缘电阻（适

用时),还应见分规范的 2.4. 6

电阻元作之间的耐电压（适用

时>,还应见分规范的2.4.7

持续时间:1000 h

还应见分规范的2.4.5

布48h、500 h和1000h时检

外观检查

在1h时检查：

电阻元件之间的绝缘电阻（适

用时)，还应见分规范的2.4.6

差分阻值变化（适用时）

合格判定数

【见注3】

性能要求

（见注1）

无可见摄伤

ARE±(_%R+0)

无可见损伤，标志清楚

AR≤±(_%R+_0)

R≥1GO

无击穿或飞凯

无可见损伤

AR≤±(%R+_ 0)

R≥1Ga

条款号和试验项目

(见注·1)

D组检验（周期）

D1分组

4.20稳态湿热

D2分组

4-4.3尺寸（详细的）

4.21.2上限类别温度耐久

GB/T 15883-1995

表2（完）

样本大小和

台格判定数

试验条件

（见注1）

本试验每年有一个样本应延

长到R 000 h

在2 000 h、4 000 h和8 000 h

时检查：

外观检查

电阻元件之间的绝缘电阻（适

用时),还应见分规范的 2. 4. 6电阻元件之间的耐电压（适用

时),还应见分规范的 2.4. 7

持续时间：1000h

在48h，500h和1000h时检

外观检查

差分阻值变化(适用时）

在 1 000 h 时检查

电阻元件之间的绝缘电阻（适

用时),还应见分规范的 2. 4. 6（见注3）

性能要求

（见注1）

AR≤±(_%R+_0)

（所得结果仅供参考）

无可见摄伤，标志清楚

AR≤=(_%R+_0)

R≥1GQ

无击穿或飞张

符合本规范表1规定

无可见损

AR≤±(_%R+_)

R≥1Ga

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

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检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。