北检(北京)检测技术研究院
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SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范

北检院检测中心  |  点击量:14次  |  2024-12-14 15:48:00  

标准中涉及的相关检测项目

《SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范》主要规定了黑色宾—主型液晶材料的检测项目和方法。以下是标准中提到的相关内容:

检测项目:

  • 液晶材料的光学各向异性。
  • 清亮点温度(亦称为相变温度)。
  • 室温下的介电常数和折射率的测量。
  • 液晶材料的粘度测试。
  • 热稳定性和热响应特性。
  • 电流切换特性及对比度。

检测方法:

  • 光学各向异性通常通过偏振光显微镜进行观测和测量。
  • 清亮点温度可以通过差示扫描量热法(DSC)或显微热分析法来测定。
  • 介电常数通过介电谱分析仪进行测定。
  • 粘度测试可以采用旋转黏度计进行。
  • 热响应特性通过专用仪器测量其温度-电光特性曲线。
  • 电流切换特性及对比度通过电光特性测试仪进行测定。

涉及产品:

  • 用于显示器件的液晶面板。
  • 液晶显示屏(LCD)。
  • 稳定性高、适用领域广的黑色宾—主型液晶材料。

这些检测项目及方法是确保液晶材料达到规定性能要求及其在实际应用中的可靠性和稳定性的重要步骤。

SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范的基本信息

标准名:黑色宾—主型液晶材料规范

标准号:SJ 20639-1997

标准类别:电子行业标准(SJ)

发布日期:1997-06-17

实施日期:1997-10-01

标准状态:现行

SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范的简介

SJ20639-1997黑色宾—主型液晶材料规范SJ20639-1997

SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5971

SJ20639-97

黑色宾一主型液晶材料规范

Spceification for black guest-host liquid crystal1997-06-17发布

1997-10-01实施

中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准黑色宾一主型液晶材料规范

Specification for black guest - host liquid crystai1范围

1.1主题内容

SJ 20639—97

本规范规定了黑色宾一主型(GH型)液晶材料的要求,质量保证规定,交货准备及有关规定。

1.2适用范围

本规范适用于液晶显示器件用的黑色宾一主型液晶材料(以下简称液晶材料)。2引用文件

本章无条文。

3要求

3.1合格鉴定

接本规范提交的产品应是经过鉴定合格或是定型批准的产品。3.2试制样品

当合同中有规定时,承制方应提供试制样品,除非另有规定,试制样品应符合本规范的全部要求。

3.3状态

在室温下,液晶材料为液体。

3.4颜色

液晶材料为黑色。

3.5熔点

液晶材料的熔点应低于-40℃。

3.6清亮点

液晶材料的亮点不低于85℃。

3.7粘度

液晶材料的粘度应小于30mm/s(20℃)。3.8电阻率(g)

波晶材料的电阻率应大于1×10\·cm。3.9光学各向异性(An)

中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布1997-10-01实施

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SJ 20639--97

液晶材料的光学各向异性为0.08~0.15。3.10非寻常光折射率(n)

液晶材料的非寻常光折射率为1.5~1.7。3.11介电各向异性(4)

液晶材料的介电各向异性为-5~25。3.12介电常数(e)

液晶材料的液晶指向失与电场平行时的介电常数为230。3.13阅值电压(V10,0.20)

液晶材料的阐值电压为1.0~3.0V。3.14饱和电压(Vo,0.20)

液晶材料的饱和电压为2.0~4.5V.3.15总染料浓度

液晶材料的总染料浓度为2.0~4.0%。4质量保证规定

4.1检验责任

除台同或订单中另有规定外,承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,订购方或上级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检查。4.1.1合格责任

所有产品必须符合本规范第3章及第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质最大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求,承制方还应保证所提交验收的产品符合含间要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也不能要求订购方接受有缺陷的产品。4.2检验分类

本规范规定的检验分为:

a,鉴定检验;

b,质量一致性检验。

4.3环境要求

除另有规定外,应按下列环境条件进行各种检验:环境温度:15~35℃;

相对凝度:45%~75%;

大气压力:86~106kPao

4.4鉴定检验

鉴定检验在产品提交前进行,当原材料或制造工艺发生重大变化,有可能影响鉴定结果时,也应进行鉴定检验。

4.4.1检验地点

除非另有规定,试制检验的地点是有关主管部门认可的试验室或检测中心。4.4.2检验项目

从同一批产品中随机抽取10g样品,按表1进行检验。2

错充点

电阻率(p)

光学各间异性(An)

非等常光折射率(ne)

介电各向异性(4e)

介电带数(en)

禽值电压(V10.0,20)

炮利电医(Vgm.0.20)

总染料淤度

4.4.3不合格判定

SJ 20639-97

表 1鉴定检验

要求的章条号

检验方法的章条号

若受试样品通过表1中所列举的各项检查或检验,则鉴定检验合格:若有一项不合格,则不授予合格资格。

4.5质量一致性检验

4.5.1检验批的组成

一个检验批应由相同的液晶单体,相同配方,在基本相同的条件下生产,并在同一时间内提交检验的所有产品组成。

4.5.2质量一致性检验表格

质量一致性检验从同一批产品中随机抽取10g样品,按表1进行检验,均应符合本规范的要求。

4.5.3不合格

若按表1规定的检验中有一项或多项未通过,则判定该批不合格,并应停止产品的验收和交付。承制方可采取纠正措施,纠正缺陷后,重新提交检验,重新提交的检验批应与正常批分并,并应清楚地标明重新检验批。重新检验批仍不合格,则判定该批不合格。4.6包装检验

用目视法进行本规范第5章规定的包装和标志要求检验。4.7检验方送

4.7.1状态的检验

用自视法检验,应符合3.3条的要求。4.7.2颜色的检验

用月视法检验,应符合3.4条的要求。4.7.3熔点的测量

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4.7.3.1原理概要

SJ 20639-97

被晶的溶点和清亮点的测量采用差热分析法,样品和参比物在相同条件下加热或冷却,样品和梦比物之间的逛差通带是用相对连接的两根热电偶进行测定,热电偶的两个接点分别与样品和比物接触。热电偶的电动势与其温差成正比,温差电动势经放大后由检测仪器记录(如XY记录仪),可获得差热分析曲线即△T~T(t)图。样品和参比物在相同条件下加热或冷却,如果样品不产生任何热效应即样品温度T,等于参比物温度T,此时4T=Ts-T,=0,XY记录仪不指示任何温差电动势。如果样品发生吸热或放热效应,此时AT=T一T,的温差电动势小于零或大于零,在XY记录仪上可得到AT=f(T)的差热分析曲线。由于液晶在发生相变时要吸收热量(加热过程),因而在差热分析曲线上会出现二个以上的吸收峰,根据这紫吸收峰的位置可以精确地确定液晶的相变温度,从而得到深点和潴亮点等。

4.7.3.2 测量设备

差热分析仪(DSC)

4.7.4熔点和清克点的测量

按4.7.3中的测量方法测量熔点和清亮点。4.7.5粘度的测量

4.7.5.1测量设备

,恒温(准确度为土D.1℃);

b,半微量毛细警粘度计(容盘为8mL,精度±1mm2/s:)c.秒表。

4.7.5.2测量步骤

将装有待测液品的毛细管粘度计在恒温槽中恒温半小时,用吸气泵将液晶吸至刻度,去掉气泵使液晶自由流过毛细誉,同时计时,记录全部流完的时间t(应在100一200s之间),按式(1计算粘度。

式中:液体的运动粘度,mm/s;

c——粘度计常数, mm\/s:

t——液体流出的时间,Sc

4.7.6电阻率的测量

4.7.6.1测量方法

将电导电极插入待测液晶中,用超高阻测试仪测量其电阻R,电导电极的白金片面积和二个白金片之间的距离是己知的,根据公式(2)可算出待测液晶的电阻率。O=R·S/1...

式中:p——电阻率,ncm;

R——电阻,;

S——电导电极白金片面积,cm2:[—电导电极两白金片之间的距高,cm。4.7.6.2测量设备

B.超高阻测试仪(能测大于1017Q电阻);6电导电极。

++**+++**(2)

4.7.6.3测量步骤

SI20639-97

用洗净烘千的100mL小烧杯取30mL新混配的特测液晶样品,恒温至20±2C,用电导电极测量电,记录其电阻值R,按式(2)计算出电阻率(Q·cm)。4.7.6.4误差

用该方法测量的准确度主要取决于超高阻测试仪的准确度,电阻率在1×1010~2×10110cm之间时,误差一般不超过±10%,电阻率在1×1011~2×1012n·cm之间时,误差不超过±20%。

4.7.7光学各向异性(An)的测量

4.7.7.1 测量方法

在液晶介质中,光矢量振动方向垂直于液晶分子长轴的线性偏振光称为寻常光(。光).光在真空中的速度与寻常光在液晶介质中的速度比称为寻常光折射率(n。)光矢量振动方向平行于液晶介质分子长轴的线性偏振光称为非寻常光(e光),光在真空中的速度与非寻常光在液晶介质中的速度比称为非导常光折射率(n。)。光学各向异性(△n)为非常光折射率(n)与寻常光折射率(n。)之差,即:An=n,-

在阿贝折射仪的光学玻璃表面和毛玻璃表面上分别均勾地涂敷一层垂直排列取向剂,使待测液晶分子按一定方向垂直排列,并将一片偏振片贴在阿页折射的目镜上,当光线入射方向,液晶分子排列方向及偏振片偏振方向如表2所示时,分别测出n。、n。,按式(3)计算出4n。表2ne、。与光线入射方向、液晶分子排列方向以及偏振片偏振方向的关系p(n .)

光线入射方间

液晶分子排列方向→

偏振片偏搬方向

4.7.7.2测量设备

a。阿贝折射仪;

b.低溫恒温槽。

4.7.7.3 测量步骤

在阿贝折射仪的光学玻璃和毛玻璃表面上均勾地涂敷一层垂直排列取向剂,并使其自然风干。按表2所示将目镜上偏振片偏振方向调节成测量社。时的方向。将待测液晶滴在经过处理的玻璃表面上,启动低温恒温槽,待温度恒定在20时,调节日镜视场使十字线成象清晰,并旋转调节钮在目镜视场中打到明暗分界线的位置,使分界线位于十字线中心,待测液晶的几。可在目镜视场下方的刻度盘中读出。将目镜上偏振片偏振方向旋转90,旋转调节钮在目镜视场中找到另一个明暗分界线,并使该分界线处于十字线的中心,此时目镜视场下方刻度盘所示的数值即为待测液晶的。再由式(3)得到△n。该方法的测量准确度为±0.005。4.7.8非寻常光折射率(n.)的测量按 4. 7.7 中的测量方法测量 n。c4.7.9介电各向异性(4e)的测量

ITKAONKAca-

SJ20639-97

4.7.9.1量方法

在电场作用下,液晶分子随电场取向,其分子长轴与电场方向一致(4e>0的液晶),此时液晶的指向失与电场平行,测出的介电常数称为,反之当液晶指向矢与电场垂直时,测出的介电常数称为ε士。图1为液晶介电各向异性测量装置示意图。精出 LCR 仪

计算机

图1液晶介电各向异性测量装置图测量用液晶盒为平行盒,空盒电容为C。。将待测液晶注入液晶盒,在液晶指向矢与电场垂直时测量C+,在液晶指向矢与电场平行时测出C由式(4)、(5)、(6)计算出e#、E1及Az=ci/c

Ae-ey-

+++(4)

液晶盒二个内表面附近的液晶分子,由于受到边界条件的影响,在电场作用下其分子长轴(e>0的液晶)不一定完全与电场方向一致,为了使液晶分子的长轴与电场方向保持完全一致,必须要加很高的电压,这在测量中有一定困难,为此采用图2所示的外推法推算出电压无穷大时的电容C儿,从而保证了C测量的精确性。图2中纵坐标为电容(C),横坐标为1/V,电容C与1/V成线性关系,延长斜线与纵坐标相交即为推算出的电压无穷大时的电容Cu。c

图2外推法推算电压无穷大时的电容C示意图4.7.9.2测量设备

,精密 LCR仪一台;

b. 计算机一台。

4.7.9.3测试盒的制备

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在导电玻璃(LITO玻璃)上光刻戒1cm2的圆形电极图形,如图1所示做成平行测试盒,盘厚7μm。

4.7.9.4测量步骤

,测量测试盒的空盒电容C。

b.将待测液晶注入测试盒,在液晶盒上加 100mV 的电压(方波,1.6kHz),测量 C1。心。在液晶盒上加上测量电压,作C1/V图,外推斜线与纵轴相交,得到电压无穷大时的电容Cu。

将所独得的 C。、C上及外推得到的 C代入式(4),计算出 1、e及 Ze。用本方法测量4e 的准确度为:

4e>10 误差±0.5;

<10 误差±0.3a

4.7.10介电常数(e)的测量

按 4.7.9 中的测量方法测量*。4.7.11阀值电压(V10,0.20)的测量4.7.11.1测量方法

在宾主型液晶显示器件中,显示部分光进过率或吸收率的变化达到其最大量的10%时施如电压的有效值,称为阔值电压(V10),显示部分光透过率或吸收率的变化达到其最大量的90%时,施加电压的有效值称为饱和电压(V)。当液晶显示器件的驱动电压逐渐增大时,其透过率逐渐发生变化,电光响应曲线如图3所示。0

图3液晶显示器件的电光响应曲线4.7.11.2测量设备

测量设备如图 4 所示。

a:白炽灯;

TTKAONKACa-

b.平行光管:

c偏振片;

d,小角度光强测仪;

e.信号发生器;

至。计算机。

平行光管

4.7. 11.3 测量步骤

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信号发生号

计算机

图4电光响应曲线测量装置示意图小炮度光强

测量仪

将待测液晶注人液晶盒中(TN盒,盒厚为 9μm),偏振片 P的方向与液晶盒相邻内表面附近液晶分子长轴方向致,光线人射方向垂直于液晶盒表面,液晶盒的驱动电压由信号发生器提供(方被,32Hz),每秒钟升高1V电压,当电压逐渐增大时,测量透过率的连续变化,透过液晶盒的光强由小角度光强测量仪测量并输入到计算机中,经处理后得到液晶盒的电光响应曲线及Vi和Vgo的数值。整个溅量过程都在20℃下进行的。测量误差为±0.05V。4.7.12饱和电压(Vg0.0.20)的测量按4.7.11中的测量方法测量Vg0.0,20a4.7. 13总染料浓度的测量

4.7.13.1测量设备

精密天平(感量0.0001g)

4.7.13.2测最步骤

精确称量液晶 XI(g),染料 Xz(g),则总染料浓度 C为:C

×100%

Xi + X2

总染料浓度由承制方控制。

5交货准备

5.1封装和包装

用硼硅硬质玻璃瓶密封包装。

5.2运输和贮存

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可使用任何运输方式运输,装卸时轻拿轻放。产品应贮存在干燥、无阳光直射的室内。标志

在产品的包装容器上应附有标签,并应注明下列内容:a,产品牌号;

b.净重;

c.生产目期;

d.生产单位。

说明事项

6.1预定用途

本规范所规定的液晶材料预定用于液晶显系器件。6.2订货文件内容

合同或订定单中应载明下列内容:a,本规范的名称和编号:

b.材料的牌号;

c.材料的重量;

d,特殊包装要求;

e.特殊标志要求;

f、其它。

附加说明:

本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所起草。本规范主要起草人:徐寿颐、唐洪、姚乃燕、刘筠。9

KAONKAca-

现行

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范》中的检验检测项目,对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试,检测项目包含《SJ 20639-1997 黑色宾—主型液晶材料规范》中规定的所有项目,以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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