GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

标准中涉及的相关检测项目

标准《GB 5594.4-1985》是关于电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法中介质损耗角正切值的测试方法的相关文档。该标准涉及的内容通常包括以下几个方面：

• 介质损耗角正切值的测量。
• 陶瓷材料电性能的评价。

• 高频电桥法：使用高频电桥设备测量材料的介质损耗角。
• 振荡器法：通过振荡电路测量材料的损耗角正切值。

具体的测试方法会按照标准中的技术要求进行，以确保数据的准确性和可靠性。

• 电子元器件中使用的结构陶瓷材料。
• 高频电路应用中的陶瓷电容器和绝缘体。
• 其他需要评估介质损耗的电子材料产品。

这些方法通常用于评估陶瓷材料在高频应用环境下的性能，以确保材料在特定应用中的可靠性和效率。

GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法的基本信息

标准名：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

标准号：GB 5594.4-1985

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

标准状态：现行

GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法的简介

GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法的部分内容

北检院检验检测中心能够参考《GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

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检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。