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GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料
标准中涉及的相关检测项目
根据标准《GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料》,该标准涉及了一系列的检测项目和方法,以及相关的产品类型。以下是这些信息的概述:检测项目:
检测方法:
- 介电常数和介质损耗的测量通常使用电桥法进行。
- 绝缘电阻的测试一般采用直流电阻计进行测量。
- 耐电压强度的检测采用高压试验设备进行施加电压的试验。
- 热震性能的测试则通过温度循环试验来实现。
- 温度特性和频率特性的检测通常结合温度控制设备和频率测量仪器进行。
涉及产品:
该标准主要涉及用于制造电容器的陶瓷介质材料,这些材料通常用于各种类型的电容器中,例如:
- 高频电容器
- 功率电容器
- 温度补偿电容器
这些检测项目和方法确保了陶瓷介质材料在制造电容器时的性能和可靠性,以达到应用需求。
GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料的基本信息
标准名:电容器用陶瓷介质材料
标准号:GB/T 5596-1996
标准类别:国家标准(GB)
发布日期:1996-09-09
实施日期:1997-05-01
标准状态:现行
GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料的简介
本标准规定了电容器用陶瓷介质材料的分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等。本标准适用于制造电容器用陶瓷介质材料。GB/T5596-1996电容器用陶瓷介质材料GB/T5596-1996
GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料的部分内容
CB/T5596—1996
本标准是国家标准GB5596—85《电容器用陶瓷介质材料3的第--次修订版。本标准对电容器用陶瓷介质材料的分类进行了补充。为适应陶瓷介质材料的迅速发展增加了3类陶瓷介质材料,对瓷料的电容率(介电带数)和介质损耗角止切值也进行了扩展和修订。另外,在原标准中没有瓷料的物理性能,考虑到瓷料的物理性能与电容器的电性能关系密划,增加了瓷料物理性能表,还有其他性能参数方面也进行了修改。本标推白实施之日起,同时代替GB5596—85。本标推由中华人民共和国电子工业部提出。本标推由电子工业部标化研究所归口。本标雅起草单位:国营第七八厂和电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人:王家增、仇月霞、土玉功。本标准1985年11月首次发布,1997年5月第一次够订。1范围
中华人民共和国国家标准
电容器用陶瓷介质材料
Ceramic dielectrir materials used Por capacitorsGB/T 5596—1996
代替G 5596—85
本标准规定了电容器用陶瓷介质材料的分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等。
本标准适用于制造电容器用陶瓷介质材料(以下简称电容器瓷料)。2引用标准
下列标准所包含的条义,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性,GB2421一89电工电子产品基本环境试验规程总则GB5594.3—85电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法GB5594.4-85电了元器件结构陶瓷材料性能测试力法介质损耗角正切值的测试方法GB5591.5—85
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法GB5595—85电穿器用陶瓷介质材料的分类及名称和牌号的命名方法GB6524—86金属粉末粒度分布的测定光透法GB9530-88电子陶瓷名词术语
GB/T 1339092金属粉末比表面积的测定氯吸附法无线电陶瓷材料化学分析方法的一般要求SJ/Z 1463 - 79
3定义
本标准所用定义符合 GB 9530 规定。4要求
4.1产品分类
电容器瓷料按其用途和性能分为=类,其名称和牌号的命名方法见GB5595。类别
高颖电容器瓷料
低额电容器瓷料
半导体电容器瓷料
4.2电容器瓷料的电性能,机械性能和物理性能应符合表1、表2所规定的要求。国家技术监督局1996-09-09批准19970501实施
GB/T5596—1996
用频度糟器商器
制融高电其电
于举不路科嫩
造庭的容他窄
用槽器商器
制电其电
进客他弃
于断和颜
士¥业
g-01x)
电脑的
OST~0E
o51--9
052.5-/093
009 9-
(3/, o×)
GB/T5596—1996
振小器
— —
-/0z—
—/01—
oT-/s+
oP- /SI+
99-/02+
[op-/02+
08-/0z-+
电两的
g-otx)
。otxQuet
(藝)
000 02
(右)
(a/.o1×)
CB/T5596-1996
电逛的
超细颗粒
数度大小(μm)
电容器温度系数允许偏差代号
电容温度系数允许偏差值
(X10*/℃)
GB/T5596—1996
物理性能
比表面积
含量兴
26 000
≥5 ofl
施加和不施加直流电压时,在类别温度范围瓷料类别
内相对+20℃时测得的电容量晨大变化率不施加直流电压
120/28
+20/—55
+30/-80
113/85
“X\表示优选值,
“—\表示不生产,
施额定真说电压
+20/-30
+20/40
+22/—70
+30/—90
+15/—1
+15/—25
油题粒
粒度大小(μum)
比衰面烈
25 600
—1000
炎别温度萨围和对应的效字代码-55/125
-55/85
—40/85
-25/85
--10/85
瓷料类弱
GB/T 5596-. 1996
施妞和不施加直流电乐时,在类别温度范围内相对·20℃时测得的电穿最大变化率%
不施划直流电压
+20/-30
+22/—56
+30/—80
—40/—25
“X\表示优选值:
\衰示不生产。
5试验方法
施加额定直流电压
+10/15
120/30
+20/-40
+22/—70
+30/—90
—40/—35
—55/125
类别温度范圃和对应的数疗代码-55/85
—40/85
-25/85
5.1如果在本标准没有特殊规定时,电容器瓷料的所有试验应在GB 2421 所规定的试验的标准大气条件(温度15℃~35C,相对湿度45%~75%,气压86kPa~106kPa)下进行。仲裁试验的标准大气条件:温度为20℃±1℃,相对湿度为63%~67%,气压为86kPa~106kPa。5.2测最电容器瓷料的电性能时,应在试样的两面用烧渗法覆上层完整的银层作为电极。5.3测量试样的电容率(介电常数)时,用能保证测试电压:1类瓷料不人于5V,2类瓷料1V+0.2V,3类瓷料A、B.C组1V士0.2V,D、E、F、G组0.3V土0.2V和测量误差不大于±0.2%的任何方法进行
测试频率:1类瓷料为1MIIz10.5MHz:2、3类瓷料为1 000 Hz±200 Hz。电容率(介电常数)按下列公式计算:C#
E = 14+4
式中:E——电容率(介电常数);C——试样的电容量,PF;
h介质的厚度,cm
)——电极的直径cm。
5. 4测量 1 类电容器瓷料的电容温度系数 α.时,其测试赖率为 0.1 MHz.~5 MIIz,测试误差对 A,B,C,H,N,L,P,R组应不大于±(0.05u十2X10-6/℃),其他组应不大于士(0.5 α.+20X10h/),测试时其高温与室温之差不少于50。电容温度系数按下列公式计算:C, - C,
式中,电容温度系数,1/ C;
C,高温时电容量,pF;
C,室温时电容量,pF,
A-—高温和宰温之差,C。
GB/T 5596—1996
5.5测量2、3类瓷料的电容量随温度变化率时,应将试样先后放在加热箱中和负温箱中。温度变化范围见表4、表5。达到测试温度后,保温时问均不少于15min,然后在箱中测量。测试电压和测试误差应符合本标准第5.3条的规定。电容量随温度变化率应按下面公式计算:C.-G.100%
电容量随温度变化率,%。
式中: C
C,—温度为—55℃±2℃,-40℃±2℃,—25℃±2℃,—10+2V,125℃12℃,85℃±2℃时的电容是·pF
-温度为20℃士2℃时的电容量,pF。i
5.6测量介质损耗角正切值时,对2.3类瓷料使用误差不大于0.1tan的方法进行,其测基频率为1 000 Hz±200 Hz.
对于1类瓷料使用测试误差不大于±(0.1tana十0,0002)的方法进行,其测试频率为(1士0.5)MHz。其中,tand为试样的介质损耗角正切值。测试电压按第5.3条规定。试验前,试样应进行仔纠的清洁处理。在测量受潮后介质耗角正切值时,是将试样放入蒸馏水中煮沸1h,随后在水中冷却至20C土5℃取出,用滤纸或于净的纱布将试推擦干,再在止常气候下放既2h立即测。测量电容器瓷料的高温介质报耗角正切值按GB5594.4进行。其测量温度及技术要求按表1规定
5.7测量试样的体积电阻率按GB5594.5进行。5.8测量试样的绝缘强度时,应在直流或交流高压设备I:避行.高压设备应保证电乐能均匀地升高,其速度不大于1000V/s,其电压的测量误差应不人于十5%。试样击穿厚度测量误差为十0.02mml。试样应在绝缘油中进行绝缘强度试验。试样的绝缘强度接下式计算:
式中:E——绝缘强度,kV/tntn;U——试样击穿电压,kV
h——试样击穿处厚度,rm。
5.9测量试样的抗弯强度时,可用测量误差不人于土10%的任何方法进行。测量时支点间的距离为5 cm;负荷增的速度不大于40 N/s。静态抗弯强度按下式计算:
圆柱形截面试样:
战中:
静态抗弯强度,N/cm\,
破断负荷,N:
1.——支点间距离,cm
试样破断面直径.cm。
方形截面试样:
式中:a—
稳态抗弯强度,N/em
-破断负荷,N:
支点距离,ctmt;
试样破断截面宽度,cm;
h---—试样破断截面厚度,c.
GB/T 5596—1996
-1.5号.h
汁:采用方形截面试择时.试验数据偏低,放考核时应将试验数据增Ⅲ25%,才能使方形截直和圆杜形截面试验结果一致,
5.1D测量试样的线膨胀系数按GH5594.3进行。测量温度:20~100℃。5.11测量试样随真流电正电容量变化率,是用在800 11元~1200 HIz(试样端也压按第5.3条规定)频率的弱交流电场下测量试样在没有直流电场和同时加上500V/mm的直流电场时的电容量的方法来确定.其线路原理图如图 1.
接测量仪表
接可调直
流电压源
S·转换升关;C,试验样;Ci固定电容器(16μF,+10K);C:固定电容器(2 uF.-10%),R,一固定电阻器(400 kn~500kn);V—直流电压表图1
电容量随电压变化率按下式计算:CeCh.100%
式中:——电容量随电压变化率,%;C。
Cv——试样在500V/mun的直流电场下的电睿量·pF;C试样在无直流电场作用的电容量,pF5.12测量瓷料的题粒度按GB6524规定的方法进行测定。5.13测量瓷料的比表而积按GB/T13390规定的方法进行测定,6检验规则
6.1检验分类
电容器瓷料的检验分为出厂检验(或交收检验)和型式检验(或例行试验)。6.1. 1出厂检验
检验项目为:表1中的电穿率(介电常数)、介质积耗角正切值、体积电阻率和电容器温度系数或电容量变化率,绝缘强度及表2规定的物理性能,样品的形状、尺寸和数量应符合表6的规定。检验批由同配方在相同工2条件下连续生产的瓷料组成。编少
试验项目
电容率
价质损耗角正
切值和电容量
随温度变化率
电容温度
体积电阻率
绝缘强度
静态抗
李强度
线膨服
电容量随
电氏变化率
试样个数
6.1.2型式检验
CB/T5596-1996
试样形状却尽寸
30以下25-35
20以5-25
1-1.5银层
30以下
30~150
150以上
1.5±0. 2
图片形
a 式,试样的形状和尺寸符合本表第1. 项的规定
535±5
50--70
GB/T5596--1996
为「确定电容器瓷料是否符合本标准的要求.制造厂应按表1.表2的规定进行型式检验。型式检验每年不得少于“次,当制造工艺和原料发生重大改变时,也要进行型式检验。样品的形状,尺寸和数量应符合表6的规定,6.2判定规则
试验中,若所有试样的指标符合表1及表2的规定,则该批电容器瓷料合格。在试验中,若发现一个试择不符合上述任何项要求时,则成以尚批瓷料制成两借数量的试样按不合格的项月进行复验。若复验仍不合格,则该批瓷料为不合格。7标志、标签、包装
7.1标志
电容器瓷料的外包装上应有牢固的标志,内容包括:制造厂名称、产品名称、商标、产品型号、制遣日期等。
在塑料薄膜内包装里应有产品标签.其内容包括:制造厂名称、产品名称、商标、产品型号、制造日期、产品的主要参数等。
7.2包装
电容器瓷料用内有塑料薄膜的编织袋等材料进行包装,每袋的重量不超过25kg7.3运输
电容器瓷料可以用任何运输工具运输,运输中要防止雨淋。7.4旷存
电容器瓷料贮存在:通风、「燥、1净的库房·且与其他粉料隔开存放。..com
现行北检院检验检测中心能够参考《GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料》中的检验检测项目,对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。
检测范围包含《GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料》中适用范围中的所有样品。
测试项目
按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试,检测项目包含《GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料》中规定的所有项目,以及出厂检验、型式检验等。
热门检测项目推荐
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。
北检研究院的服务范围
1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。