北检院检测中心 | 点击量:15次 | 2024-12-17 22:37:34
GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)
标准中涉及的相关检测项目
标准《GB 5731-1985》涉及电子设备用固定电阻器的具体检测项目和方法,主要包括以下几个方面:
相关检测项目: 检测方法:- 使用精密电桥或电阻测量仪器进行电阻值测试,确保测量的精准度。
- 通过温度变化设置进行温度系数测试,测定电阻值的稳定性。
- 采用高阻测量仪器进行绝缘电阻测试,检测电阻器的绝缘性能。
- 应用高电压测试仪进行耐压测试,以验证电阻器在高电压下的稳定性和安全性。
- 进行过载测试以确定电阻器的短期过电流承受能力,测试方法通常包括施加额定电流的若干倍。
- 使用燃烧试验仪器进行阻燃性测试,以评估电阻器在高温下的安全性。
- 通过环境模拟进行耐湿性测试,以确定在潮湿环境中的性能稳定性。
- 使用振动台和冲击试验设备进行振动和冲击测试,判断电阻器的机械稳定性。
- 进行可焊性测试以确定电阻器引线的可焊接性能。
本标准涉及的产品主要为低功率非线绕固定电阻器,这些器件广泛应用于电子设备中,特别是要求高精度和长期稳定性的场合。
GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)的基本信息
标准名:电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)
标准号:GB 5731-1985
标准类别:国家标准(GB)
发布日期:1985-11-26
实施日期:1986-09-01
标准状态:现行
GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)的简介
详见本标准。GB5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器评定水平E(可供认证用)GB5731-1985
GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)的部分内容
中华人民共和国国家标准
电子设备用固定电阻器
第二部分:空白详细规范:
低功率非线绕固定电阻器
评定水平 E
Fixed resistors for use in electronic equipmentPart 2: Blank detail specification:Fixed low-power non-wirewound resistorsAssessment level E
(可供认证用)
本标准等同采用IEC115-2-1(1982)。空白详细规范
UDC 621.316
.84/.86
GB 5731-85
IEC 115-2-1-1982
QC 400101
空白详细规范是分规范的一种补充性文件,并包括详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,则不能认为是符合IEC电子元器件质量评定体系要求的标准。制订详细规范时应考虑分规范1.4条的内容。首页括号内数字标注的位置上应填写下列相应内容:详细规范的识别
【1授权起草本详细规范的组织:IEC或国家标准机构。【2】IEC和(或)国家标准的详细规范编号、出版日期以及国家体制需要的其他内容。【3】IEC和(或)国家标准的总规范编号及其年代号。【4】IEC和(或)国家标准的空白详细规范编号。电阻器的识别
【5】该型号电阻器的简述。
【6]典型结构的简述(适用时)。注:当电阻器不是设计用于印制线路板时,详细规范的这个位置上应该明确地加以说明。【7】标有对互换性有重要影响的主要尺寸的外形图,和(或)引用国家或国际的外形方面的文件。另一种方法,可在详细规范的附录中给出这种图形。【8】用途或用途组别和(或)评定水平。注:详细规范中采用的一个或几个评定水平,应从分规范3.3.3条中选取,这意味着如果试验的编组不变,几个评定水半可以共用一个空白详细规范。【9]最重要特性的参考数据,以便在各种类型电阻器之间进行比较。安标准温1(
按GB5729一85进行质量评定的电子元器件
外形图:(见表1)
(第一角视图)
[3]
(在规定的尺寸范围内允许形状有所不同)GB5731-85
【2]
IEC115-2-1-1982
低功率非线绕固定电阻器
绝缘型或非绝缘型
评定水平:E
稳定度等级%
按本详细规范鉴定合格的元器件的有效数据在鉴定合格产品一览表中给出。[4】
[5]
[6]
[8】
[9]
一般数据
1.1推荐的安装方法(应加以说明)GB 5731-85
(见分规范GB573085第1.4.2条)。1.2尺寸、额定值和特性
70℃额定
全部尺寸以毫米为单位。
阻值范围*
标称阻值允许偏差
气候类别
低气压
稳定度等级
阻值变化极限值:
长期试验
短期试验
电阻温度特性(20℃
至上限类别温度)
(对碳合成类型)
温度系数
或温度特性
(按适用)
元件极限电
压(直流或交
流有效值)
8.5kPa(85mbar)
± (_%R+_)
± (%R+2)
温度系数
(对其他各种类型)
降功耗
α:_10-6/℃
本规范包括的电阻器按下述曲线降功耗:绝缘电压
(直流或交
流峰值)
(详细规范中应有一条适当的曲线)注:还应见分规范的2.2.3条。
1.3有关文件
GB5729一85电子设备用固定电阻器第一部分:总规范
最大尺寸
GB5730一85电子设备用固定电阻器第二部分:分规范:低功率非线绕固定电阻器1.4标志
*优先值为IEC63的E系列。
d标称
GB5731-85
元件和包装上的标志应符合总规范GB5729一85第2.4条的要求。注:详细规范中应详尽地规定元件和包装上的标志细节。1.5订货资料
订购本规范电阻器的订单应该用一般文字或代码形式列出下述最少内容:a.标称阻值,
b.标称阻值允许偏差;
c。详细规范的编号和版本号以及品种标记。1.6放行批证明记录
要求或不要求。
1.7附加内容(不作检验用)
1.8对总规范和(或)分规范的规定而言,增加或提高的严酷度和要求注:仅在必要时才增加或提高要求。2检验要求
2.1程序
2.1.1鉴定批准程序应符合分规范GB5730一85第3.2条的规定。2.1.2对于质量一致性检验,其试验一览表(表2)包括抽样、周期、严酷度和要求。分规范第3.3.1条规定了检验批的组成。
注:要求干燥时,应采用总规范GB5729一85第4.3条的程序I。表2
注:①除了阻值变化要求应从分规范GB5730-85的表1和表2相应地选定外,试验项目和性能要求的条款号引自总规范GB5729—85。
②检查水平(IL)和合格质量水平(AQL)选自IEC410:计数检查抽样方案和程序。③表中:
p——周期,月:
n—样本大小
C一—合格判定数(允许不合格品数);D—破坏性的;
ND一非破坏性的;
IL——检查水平
AQL——合格质量水平
条款号和试验项目
(见注①)
A组检验
逐批)
A1分组
4.4.1外观检查
D或ND
IEC410。
试验条件
(见注)
(见注②)
性能要求
(见注①)
按4.4.1条
标志清楚并符合
本规范1.4条规定
条款号和试验项目
(见注①)
A2分组
4.4.2尺寸(量规检
4.5阻值
B组检验
(逐批)
B1分组
4.7耐电压(仅对绝
缘型电阻器)
B2分组
4.17可焊性
4.13过载
B3分组
4.8.4.2电阻温度系
*见分规范2.3.4条。
D或ND
GB5731--85
续表2
试验条件
(见注①)
应使用mm量
规(适用时)
方法:
方法:
试验*
持续时间
额定*
施加的电压应为
2.5倍额定电压或2倍
元件极限电压(取较
低者)
外观检查
该试验仅在要求电
阻温度系数小于±50
×10-6/℃时才适用。
仅做20℃至70℃至
20℃一个循环
(见注②)
性能要求
(见注①)
按本规范表1规定
按4.5.2条
无击穿或飞弧
根据适用,应以湿
润引出端的焊料能
自由流动或焊料应在
_s内流合来说明包
锡良好
无可见损伤,标志
△R<±(_%R
α≤_10-6/℃
条款号和试验项目
(见注①)
C组检验
(周期)
C1A分组
(C1分组样本的
一半)
4.16引出端强度
4.18耐焊接热
C1B分组
(C1分组样本的另
一半)
4.19温度快速变化
4.22振动
D或ND
GB 5731-85
续表2
试验条件
(见注①)
拉力、弯曲和扭转
试验按适用外观检查
方法:
外观检查
6A=下限类别温度
B=上限类别温度
外观检查
安装方法:见本规
范1.1条
程序:B4
频率范围:10~500Hz
振幅:0.75mm或
加速度98m/s2(取较
小者)
总持续时间:6h
外观检查
样本大小和
合格判定数
(见注③)
性能要求
(见注①)
无可见损伤
△R<±(_%R
无可见损伤,标志
△R<±(_%R
无可见损伤
△R<±(_%R
无可见损伤
R<±(_%R
条款号和试验项目
(见注)
C1分组
(C1A和C1B分组
样品的组合样本)
4.23气候顺序
循环湿热,试验
Db,第个循环
—寒冷
一低气压
一一循环湿热,试验
Db,其余的循环
直流负荷
C2分组
4.25.170℃耐久性
D或ND
GB5731-85
续表2
试验条件
(见注①)
8.5kPa(85mbar)
外观检查
绝缘电阻(仅对绝
缘型电阻器)
持续时间:1000h
在48h,500h和
1000h检查:
外观检查
在1000h检查:
绝缘电阻(仅对绝
缘型电阻器)
如果详细规范要求
时,该试验应延长至
在2000h,4000h
和8000h检查:
样本大小和
合格判定数
(见注③)
性能要求
(见注①)
无可见损伤,标志
R<±(_%R
R>100Mα
无可见损伤
AR<±(_%R
条款号和试验项目
(见注①)
C3分组
4.8阻值随温度变化
D组检验
(周期)
D1分组
4.24稳态湿热
D2分组
4.4.3尺寸(详细的)
4.25.3上限类别温度
耐久性
D或ND
GB 5731-85
续表2
样本大小和
试验条件
(见注)
下限类别温度/20℃
20℃/上限类别温度
1)4.24.2.1条:
第1组 6只样品
第2组 ?只样品
第3组7只样品
2)4.24.2.2条:
第1组10只样品
第2组,10只样品
外观检查
绝缘电阻(仅对绝
缘型电阻器)
持续时间:1000h
在48h,500h和
1000h检查:
外观检查
合格判定数
(见注③)
性能要求
(见注①)
△R<±( %R
(所得结果仅供参考)
或α<10-6/℃
或α<_10-6/℃
无可见损伤,标志
△R<±_%R
R>100M2
符合本规范表1规定
无可见损伤
条款号和试验项目
(见注①)
D3分组
4.25其它温度耐久性
(适用时)
附加说明:
D或ND
GB5731-85
续表2
样本大小和
试验条件
(见注①)
在1000h检查:
绝缘电阻(仅对绝
缘型电阻器)
(当降功耗曲线与
分规范GB5730—85
第2.2.3条不同并且
详细规范要求时,该
分组才适用)
持续时间:1000h
在48h,500h和
1000h检查:
外观检查
在1000h检查:
绝缘电阻(仅对绝
缘型电阻器)
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部标准化研究所负责制订。p
合格判定数
(见注③)
性能要求
(见注①)
△R<±(_%R
无可见损伤
△R<±( %R
(同C2分组)
现行北检院检验检测中心能够参考《GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)》中的检验检测项目,对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。
检测范围包含《GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)》中适用范围中的所有样品。
测试项目
按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试,检测项目包含《GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)》中规定的所有项目,以及出厂检验、型式检验等。
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检测流程
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开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。
北检研究院的服务范围
1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。