北检院检测中心 | 点击量：11次 | 2024-12-20 17:18:50
GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性
标准中涉及的相关检测项目
以下是根据标准《GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分：光属性和特性》中提到的检测项目、检测方法以及涉及的产品，文本合理地添加了HTML标签以便更好地展示内容： ---1. 检测项目
根据该标准，主要的检测项目包括与光记忆卡相关的光属性和特性测试。这些具体的检测项目可能涵盖：
---2. 检测方法
标准中列出了具体的检测方法，用于评估光记忆卡的特性和性能，包括：
- 光反射率检测方法：使用光源与探测器评估光记忆卡表面在不同波长下的反射率。
- 信号对比度测试方法：通过读取设备测量“记录”和“空白区域”之间的光学对比度。
- 温湿度循环测试：将卡片在预设的高温、高湿环境下反复测试，以检查读写性能的稳定性。
- 物理耐久性测试：对卡片弯曲、扭转等机械操作进行检测，评估其耐用性。
- 擦写寿命测试：评估光记忆层在多次使用后的性能退化程度。
- 表面平整性检测：采用光学仪器扫描表面平整度，确保记录和读取均匀。
3. 涉及的产品
本标准主要涉及以下类型的产品：
- 具有光存储功能的识别卡
- 金融支付卡中的光记忆卡
- 用于身份认证的光学卡
- 商业和会员管理系统中用到的光记忆卡
这些产品广泛用于银行、政府身份认证、交通票务及会员卡管理等领域。
---希望以上内容对您有所帮助！如果需要更详细的信息，可以参考该标准的原文。
GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性的基本信息
标准名：识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性
标准号：GB/T 17550.3-1998
标准类别：国家标准(GB)
发布日期：1998-01-01
实施日期：1999-06-01
标准状态：现行
GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性的简介
本标准定义了使用线性记录方法的光记忆卡的光属性和特性。GB/T17550.3-1998识别卡光记忆卡线性记录方法第3部分:光属性和特性GB/T17550.3-1998
GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性的部分内容
GB/T 17550. 3---1998
本标准等同采用国际标准ISO/IEC11694-3：1995《识别卡线性记录方法
光记忆卡
分：光属性和特性》。
GB/T17550在总标题《识别卡
-第1部分：物理特性；
光记忆卡
—-第2部分：可访问光区域的尺寸和位置：第3部分·光属性和特性；
第4部分：逻辑数据结构。
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位：电子工业部标准化所。线性记录方法》下，包括下述部分：本标准主要起草人：冯敬、冯惠、李韵琴、蔡怀忠、陈云峰。第3部
GB/T 17550. 3--1998
ISO/IEC 前言
ISO（国际标准化组织）和IEC（国际电工委员会）建立了世界范围标准化的专门系统。ISO或IEC的国家成员团体通过国际组织建立的各个技术委员会参与制定针对特定技术领域的国际标准。ISO和IEC技术委员会在共同感兴趣的领域合作。其他与ISO和IEC有联系的官方和非官方的各国际组织也参与此项工作。
在信息技术领域，ISO和IEC建立了个联合技术委员会，即ISO/IECJTC1。由联合技术委员会提出的国际标准草案需分发给各成员团体进行表决。作为国际标准发布至少需要75%的成员团体投票赞成。
国际标准ISO/IEC11694-3由联合技术委员会ISO/IECJTC1（信息技术）的分委员会SC17（识别卡及相关设备）制定。
ISO/IEC11694在总标题《识别卡光记忆卡线性记录方法》下包括下述部分：—第1部分·物理特性，
第2部分：可访问光区域的尺寸和位置；第3部分：光属性和特性；
-第4部分：逻辑数据结构。
GB/T 17550. 3--1998
本标准是描述光记忆卡的参数以及如何使用这种卡存储和数字数据交换的系列标准之。本标准认为记录和读光记忆卡信息存在着不同的方法，其特性也随所使用的记录方法而确定，通常，这些不同的记录方法彼被此是不兼容的。因此，本标准采用一种一致的方法来组织，使之适应现存的以及将来的记录方法。
本标准专用于使用线性记录方法的光记忆卡。适用于其他特定的记录方法的特性可以在独立的标准文件中找到。
本标准定义了光属性和特性以及符合、加人和/或不符合此相关的基本文件GB/T17551的范围。131
中华人民共和国国家标准
光记忆卡线性记录方法
识别卡
第3部分：光属性和特性
Identification cards Optical memory cards-Linear recording method-. Part 3:Optical properties and characteristics本标准定义了使用线性记录方法的光记忆卡的光属性和特性。2引用标准
GB/T 17550.3-1998
idt ISO/IEC 11694-3:1995
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T17551--1998识别卡光记忆卡—-般特性（idtISO/IEC11693：1994）ISO/IEC11694-4：1996识别卡光记忆卡线性记录方法第4部分：逻辑数据结构3读/写测试条件
注：除另有规定外，这些测试条件适用于所有的测试。3.1光源
光源应是波长为760nm到850）nm之间的半导体激光二极管。3.2光束直径
光层表面的聚焦光束应在1/e\的点「:测得。每次测试应定义特定的光束直径。3.3读功率
光层表面的读功率应小于0.50mW。3.4缺省测试环境和条件
采用GB/T17551中定义的缺省测试环境和条件参数。4光特性
在本标准中定义的测试条件下，期望达到这些特性。如果测试条件变化了，则在这里定义的光特性也会改变。
4.1最低性能特性
本条内所包含的值均表示为了信息交换可接受的最低程度。因此，除卡的物理损坏之外，在卡的使用寿命期间，这些值衣示了光卡应满足或超过的特性。注：使用寿命的定义因应用而异，因此，将其留给卡的制造者和发行者，为他们特定的实现而做适当的定义。4.1.1背景反射率
所测得的相邻轨迹间的区域的反射率，应在12%～18%之间或27%～48%之间。在一张卡内，背景反射率不得超过平均值的10%。
国家质量技术监督1998-11-05批准132
1999-06-01实施
GB/T 17550.31998
注：这就意味着卡驱动将接受两种媒体反射率范围。4.1.2光迹导轨对比度
垂直下光迹导轨扫描时，与被测的背景信号电平相比较，所测得的预格式化光迹导轨的对比度的最小值应为0.3。
注：光迹导轨对比度是背景信号电平与光迹导轨信号电平之差除以背景信号电平。4.1.3写人数据对比度
写人数据位的对比度与被测的背景信号电平相比较，最小值应为0.3。注：写人数据对比度是背景信号电平与写人数据信号电平之差除以背景信号电平。4.1.4卡表面反射率
卡数据面的人射面上的反射率应小于或等于7%。4.2预格式化数据特性
为了保证兼容性，当扫描包含预格式化数据的可访问光区域的某部分时，低频恢复、幅度比较和信号重叠（S。)除以高频率振幅（AHF）的值都应是可检验的。为了达到预期的结果，应使用规定的光束直径以一种设置的媒体线性速度来扫捕包含特定预格式化数据模式的可访问光区域的一部分。对于实际的测试条件和值见ISO/1EC11694-4：1996的附录A或附录 B。
4.3写数据特性
为了保证兼容性，当扫描包含写人数据的可访问光区域的一一部分时，低频恢复、振幅比较和信号重选（S。）除以高频率振幅（AHP）的值都应是可检验的。为了达到预期的结果，应使用规定的光束直径以一种设置的媒体线性速度、写功率和脉冲宽度来写人和扫描高频和低频数据模式。对于实际的测试条件和值见ISO/IEC11694-4：1996附录A或附录B。4.4光路径长度
光路径长度应在1.036mm～1.431mm范围之内。对任何单个卡或不同批次的卡，其偏差应不超过±15%。
4.5光延迟
通过卡的透明层到达卡内部的光延迟偏差不在本标准中规定。5读特性
在可访问光区域内的相同区中，卡应能经受10000次连续的读操作。然后将卡的方向改变90°，检查该区的反射率，反射率相对变化不应超过士10%。6缺陷
除在本标准之外规定的其他特定缺陷准则，这些缺陷准则均适用。6.1定义
缺陷是一种在位于可访问光区域内截面上超过2.5μm的异常区。假定缺陷横截面是圆形的。注：凹陷和凸起均被认为是缺陷。6.2密度
在整个可访问光区域内原始未校正的缺陷的比率应小于5.0×10。6.3透明层
透明层应没有横截面超过100μm的缺陷。18
低频恢复
幅度比较
GB/T17550.3—1998
低频数据模式的高反射率值(HLE)除以背景反射率(Rr)。高频幅度（AHr）除以低频幅度（ALr）。高频幅度（AHE）
低频幅度（ALF）
信号重叠（S。)-
高频数据模式的高反射率值（HHr)减去商频数据模式的低反射率值（LHr）。低频数据模式的高反射率值(HLF)减去低频数据模式的低反射率值(LLF）。高频数据模式的高反射率值（HHr）减去低频数据模式的低反射率值（LLr）。图1对比度参数
现行北检院检验检测中心能够参考《GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。
检测范围包含《GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性》中适用范围中的所有样品。
测试项目
按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《GB/T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。
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检测流程
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出具检测报告。
北检研究院的服务范围
1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。
