北检(北京)检测技术研究院
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JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统

北检院检测中心  |  点击量:13次  |  2024-12-25 16:23:14  

标准中涉及的相关检测项目

在标准《JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统》中,通常会提到以下几个方面的检测项目和方法,以及涉及的产品。以下是常见内容的概述,也请根据实际的标准文本进行具体核对:

检测项目:

  • 角位移精度测试
  • 线性度测量
  • 重复性检测
  • 分辨率验证
  • 温度影响评估
  • 电气性能测试
  • 环境适应性检测

检测方法:

  • 使用高精度标准仪器校准精度
  • 比对测量法验证线性度
  • 多次重复测试计算偏差来检验重复性
  • 使用细分方法检测分辨率
  • 温室箱进行温度影响模拟测试
  • 多频率信号测试电气性能
  • 进行高低温、湿度、震动等环境模拟测试

涉及产品:

  • 工业自动化角位移测量设备
  • 精密机械加工设备中的位置反馈系统
  • 诸如数控机床等需要高精度位置反馈的工业设备
  • 科研仪器中用于高精度测量的光栅系统

以上内容仅为一般性描述,实际的技术标准文本可能会包含更详细的技术规范和要求。建议查阅《JB/T 10034-1999》具体条款来获得完整信息。

JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统的基本信息

标准名:光栅角位移测量系统

标准号:JB/T 10034-1999

标准类别:机械行业标准(JB)

发布日期:1999-05-20

实施日期:2000-01-01

标准状态:现行

JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统的简介

JB/T10034-1999本标准是对ZBJ42040-90《光栅角位移测量系统》的修订,修订时仅按有关规定作了编辑性修改,技术内容没有改变。本标准规定了光栅角位移测量系统的基本参数、技术要求和基本试验方法。本标准适用于分辨率为0.1″~120″的测量系统。本标准于1990年9月28日首次发布。JB/T10034-1999光栅角位移测量系统JB/T10034-1999

JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统的部分内容

ICS 25.060.20

中华人民共和国机械行业标准

JB/T10034-1999

光栅角位移测量系统

Grating angular displacement measuring system1999-05-20发布

国家机械土业局

2000-01-01 实施

JB/T1C034-1999

本标准是在ZBJ42040—90光栅角位移测盘系统》能基础=修订的,小标准与ZDJ42040一90的技术内容一致、仅变有关规定重新进行了编辑本标准自实施之日起代潜2B42040—。不标准的附录A、附录B和附录亡部是标准的附录。本标准的附录D是提示的附示。

本标准市全国域其设标准化技术委员会提出并归口本标准负货起卓单位:成都工具价究所。本标准主要起草人:季,巧。

本标准于1990年首次发布,

中华人民共和国机械行业标准

光栅角位移测量系统

Grating angulardisplacenentmaasuring systemJBT10034-1999

代誉 7.8142 040—90

本标准规定了光栅负位稳测盘系统【以下简测盘系统】的基本参数,技术需求和基本试验本标降适用于分辨率为0.1″~120”的测造系统,引用标准

下列标准所包含的条文,道过在本标准中引用而树成为本标准的条文。本标准出版时,所示版个的为有效所有标准都会被落订、使用不标准的各效应探讨过使用下列标准最新版本的可能性。GR 191—1990

G白门6388—198!

G/T6587.21986

GD/T6587.3-1986

JB/T 6214—1992

3定义

本标准来用下列定义。

3.1光栅角位转测盈系统

包装筛医示标志

运输包装收发货标志

电子测盟仪器温度试验

电了测压仪器湿度试验

仪器仪表可非性整证试验及测定试验【指数分布】导则利用光栅前产生光危号的原理,出光栅角位移传感器感受角位移盘,并用光数能表必示其值的用度测量系统,

3.2误益择-婵值

测系统误差曲线上最高点与够低点之拳。3.3测其系统细分认差

光谢榭距内莫尔条较镇始信号经测量系统分割倍频片,分剂间之闻的虽大误差。4基本参数

基:4安数及其数值见表L

国家投换工业局1999-05-20批准2000-01-01实施

多数名称

评臣数

响应读度

JH/T10034-1999

0.1:0 2:0.5: 1;2:5: 10120:30:60:120J00:15025D,256:300:360r4mO:0),512:Mm;720:K01:1KJ0;[024:080;1440:1500180D:2M0;204R,2400,2500;3600;4096,5000:54001;720k:81429(UU:J0D00:10800:125D0:12960,163R4:18000;21600:25920:32400h:32768;36U0U:64KU1:6536:129600

第一系划

第系列

1:6:15:30:6

hto:1o1:2k:00o:500m

注:第一买用于请密洲异,第二双列用于数产控制。5技术要求

5.1于作条件

5.1.1测盘系统在T作环境温宽范用-45\,相对湿度不大于90%的条件下应正常计数5.1,2测蛋系统在T作电无误差为±s%以内,应正常计数。5.2外观及作五作用

5.2.1测画系统金属表血不应有锈但、碰仿和链层脱落等缺陷,各种标志和数应正确、清晰5.2.2各紧周部分应牢固可,各运动部分应灵活平稳,无卡满和松动现象5.2.3测虽系统整四周内角度显示和参考零位的显示、清,数、期向等功能均应正常。5.3准确度

测是系统准确度共分为10个等级,用损差速-速值的二分之一冠以“±”号表示,见表2,表2

示值变动性列可程误

测望系统尔值变动性利团税误差应不大于表3的效定。表3

分辟率

0.1:0:2:.5

J:2:5:TO:20:30:60

示值变动性

5.5格实业

JB/T.10034—1999

在室温条件,,测盘系统内示位危定度成不人于一个脉冲数,5. 6全件

5.6.1包源插座的任个接线端与机壳之证的漏电流应不天干3.5mA。5.6.2、早源插坐的任个接线端与机壳之闻的臭说绝缘电阻应不小于5M见,5.6.3当交微电压为1500V时,机克耐压1m证,不得击穿规象。5.7抗干扰性

测系统其台电磁兼容能力,受十物示值变化不大于一个股神缴。5.4可罪性

过系统的平无故障T作对间(MTBF)成不少丁3叫,6基本试险方法

6.1工作环境适成性试验

投(H门6587.2知GH/6587.3的规定进行6.2T作电乐波动试验

!.作电退波动5%时,分别测册其测率系统的准确其,成符合相应等级的案求。6.3外观相互性用试验

尚日说和手感试验。

石物理试验

在各等数划量系统的能定损度条化下,采用检定不确定度小于被检谢其系统准确度规定值三分之。或二分之,【当被检测盘系统准确度小子+1”副)的检测系统,对裁检测量系统进行整圆间内的比较检验,或来用全组合达(排则互比法)检验。000级-2级测盘系统测盘点不少十36点,3级~7级测量系统谢量点不少于12点。一股快况下,以方和根法[受附录A(标准的附录】计算误差择峰值,神裁时以全误禁法(地附录A)算误差味峰值,并取误差峰-蜂的二分之冠以“±“导准筛度。6.5示值变动性试验

采用高精底检测系统作为落强:对被检测量系统任一角度进行同一方向的10次再复望:取止读数的最大差值。

6.6可程差试验

采用高精度角度测蛋系统作为基准,对被检光相测量系统低一角度进行顺时针、逆时针方问的转动,取该点顺,逆时针两方向读数之差的绝对候6.了稳定变试舱

在室温条件下,测世系统开机[ai后,每0.51读一改示值,取4h内示值变化盘:6.8支全性试验

6.8.1漏电流试验

对下机壳接地的产品可采用红图「所示的试验出路,先将电k调到242V,然后作K,,K,开关的齐和组合,测试最大满电流。

6.8.2绝缘电阻试验

[T0034-1999

缺境观呼开

法境中理理

图1漏电流试电路图

指撑工作台

上阅断孔抹电选起

用500V兆欧表对规定的测试部伦施加电压1mi后,读绝缓电阻值,6.8.3耐卡试验

在电源变压幕初级(输入端应短路)与外充间施加频率50H2、电1500V的滚流电,1mm之内不应击穿。

6.9可靠性试验

测且系统可靠性按JB/T6214进行,故障数计算规划览附录B(标准的附录)6.10抗干扰试验

按附录℃(标准的附录)成附录D(提示的附录)逆行:7检验规则

7.1产品俩经越造厂质量检验合格后方能出厂,出厂检验项月包括5.2~5.6的内容7.2产品在下列情况之一时须进行型式检脸:样品数不少于3套。a)新产品定型鉴定:

b)设计有较大更改:

主婴工艺法男改:

关健材科專改

:的生产间斯一年以上再坐产时:一敢止常尘产两年进行次。

迁:对标准中规定的技术要求全都进行检验,承为型式均验,了,3型式格验中规故章减任一项不合格时,应作归倍抽样检验;若加倍抽样检检仍不合薪时,刻型式检验不予适过。

8标志,包装与贮存

8.1标志

8. 1. 1谢量系统,上应标志:

)制造:厂名:

b)产品名称;

c)注明到标:

)产品等级:

)产品型号或标让:

\制造日期或尘产批号。

JB/T10034—1999

8.t.2包装概志应包括8.1.中a)、6)、心、d)、e)、门项内穿和收、发货标志:包装运罔示标志、包装球志成符合GB/T63BB和GD[9[的有关规定,8.2包装

另。1测斑系统的装应有良好的防铸、防摄、防潮措施。8.2.1测盘系统的也装中应包括产品合格证期书,使用说明书。箱单等随机义件及附作3存

测生系统应往温度4U-+53汇,拒对误度不大下90%,无脑蚀性气缺及请通风的还境内,A1全误差法示例

JB/T10034-1999

附录A

【标准的录】

全误差法与方和根法示倒

以摄距为40”,分辨率为!的光测虽系统为伤,设测量点效为6点,则检测隔了0

A1.1长期误奈检定

在整例成3°范内、每限测一点,谢出6个示值误券,找出展大峰值点P.和录大伯点A1.2中周期识差检定

在最大降值点P.和壮大谷信点P,处的+0.S工范围内,每罐一定间隔测一点,找出比日、P点六的峰值点P,和谷值点P,

A1.3分误禁检定

在峰值点·P,和谷值点P,些的+0.5r范序内,每隔一定间隔测一点、找山比P:、。更大的峰值点P,和谷值点F,

A1.4 准确度计筛

以全误差法表示的准确度4接式(A1)计算:4(4P-4P,2

式中:4P一一,点的示宜误差;P,-P,点的示值误差。

以上定均应采用同一个起始等。A2方和根法示值

A2.1长周期误券检定

点达与A1.1树间,值与谷值的代数差为4A2.2细分误差愉定

在慌网周360°内任选三点,测出每一点0.5范内的细分识差,取其载大值为D,A2.3准确计算

以行和根法表示的帥度4按式【2)算Vaz*+ ap:

B1故障判据

JE/T10034—1999

附录B

(标准的降录)

故障整计算规则

测望系统试验不满其第5章技术要求中托条时即为教障。B1计算故障数的规定

a)符合故障判据的计算收障次:b))以数错误、每次均需计算一次;司重复的故障,样次均需计算一次:d巾于虚将、短路,开路,滚触不良或元件的时好时坏等引起的故障,每饮均需计算一次:e)在常温下正常,在高温时出要的故确应计算一次:可谢节的元器件节作用丧失时,每次均应计算一次:g)每一元件尖效引起的故障应计算一次B3不计算改障激的规定

a)不符合杰标准规定的工准条件和试验方法而引越的故障:有寿命指标的元器件当其超过规定的存命而产生的故障:心操作错误引起的故降

附录C

(标准的附录)

抗于扰性试验!

C1在与测且系统同·-电网上,人为地制适下列名干扰(干扰源离开光栅数显表1m以上、有规定者除外

a用40A交流接触器,特陷5mi左石启停一次5~10kW电效机,试验20次:b距离测量系统2m外,使用电焊机焊接20min:e)开关电风射、插拨电熔铁或使用6mm交直流手电销闭10次:d)用75A三租交简接触能连续逆断30次JE/T10034—1999

附录口

(提示的附录)

抗干扰性试验

D1电源线低频温复干扰传导敏感度试验低频年宴千扰源原理医女图D1.

D1.2低趣重复于扰波被形

a)低频重复干抗被以100个周被群/的重复频率加在电源线交流电压的峰值.十:b)每一用被群由频率100klIz的减余弦振满波组成,北包绪达到1.5周波后,到第个半峰值的一半;

)低题重爱干扰波按第一个半波峰值电压大小分为30级,每级表示100V电压;贴频重爱下抚源的输出阻扰为1500:e)每个重复下扰波的电压皱形如图D2。d

D1.3诚验接线图和试验步

测世系统应止赖定自源电压变化-10%,-15%条件下逃行拉T扰性能试验,模下扰与共模干扰接线图见图D3和图D4。

JB/T10034—1999

试验对,调节抵频重复干扰源痴出电压,逐渐提高差模共模干扰级,当融盘系统不能止常工作时:记下战摩类型和相应的下扰级,益模下扰成不小于10级,共模干扰应不小于25版:永途

D2电源钱高频传导敏感度试验

n2.1试验信孕游

肉网统

TIF号

阿典网络

干提信号

小酒器

“作性能监视设益

L作性燃临微善

射劲率信号发生器或射规信号发生器与功率致大器的组合,其输出阻况为50户。n2.2试验接线和试验求媒

试验按图D5接线,信号源产生的高频1优信号通逆电源火线划到受试产品,试品与电源线之间接入随离网络,试酸叶应等将离网络中的负载回亞尺,断开,使工扰信号加到试品士,信号源、电缆9

JB/T10034—1999

同轴线插头应同轴连情,其持性阻抗应一致。试品在额定电下运行检查程序,调节试验信号源,使其输出电平提高到1V,频争在0.15~300M11z范变化,先在整个频段内进行描,然后按表口1选取10个短率进行试验,测望系频应能F常1作,再阅记故障的类型与程应的敏感赖率点。电源

扫斑率范用

高额射敏感疏试验

试品额定电压下进行检查程序,调节射频信号发生器,通料大在试品周隔产生015-300MHz,[Vm的T扰场强,光在整个频段内扫措,然后荧表D1取10个频率点进行试验,测量系统应能正常下作,否则记下故障的类册与相应的敏感搬率点。

现行

北检院检验检测中心能够参考《JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统》中的检验检测项目,对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试,检测项目包含《JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统》中规定的所有项目,以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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