北检(北京)检测技术研究院
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GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法

北检院检测中心  |  点击量:11次  |  2025-02-26 11:57:33  

标准中涉及的相关检测项目

标准《GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法》主要涉及纳米薄膜材料的接触角测量。该标准中提到的相关检测项目通常包括:

  1. 接触角测量: 这是主要的检测项目,旨在评估液体在纳米薄膜表面的润湿性和表面特性。
  2. 表面能评估: 通过接触角的数据,可以进一步计算薄膜表面的表面能。
  3. 液滴形状分析: 通过图像分析技术,测量液滴在薄膜表面的接触角变化情况。

对于检测方法,标准中通常会包括:

  • 静态接触角测量: 通过在薄膜表面滴加液滴,使用接触角测量仪获取静态接触角的值。
  • 动态接触角测量: 包括前进角和后退角的测量,通常用于分析表面动态润湿性能。
  • 图像分析方法: 应用计算机图像处理技术,精确计算液滴在表面形成的角度。

涉及的产品范围主要包括:

  • 纳米材料与涂层: 用于评估不同纳米涂层的表面特性和润湿性能。
  • 半导体产品: 接触角测量可用于检测半导体制造中所用材料的表面特性。
  • 医用纳米材料: 用于制药和生物材料科学中,评估材料的表面特性对于细胞相容性和药物传递的影响。

这些检测项目和方法的配合,确保了产品在应用中的可控性和可靠性,同时满足不同领域对于纳米薄膜材料表面的性能需求。

GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法的基本信息

标准名:纳米薄膜接触角测量方法

标准号:GB/T 30447-2013

标准类别:

发布日期: 2013-12-31

实施日期:

标准状态:现行

GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法的简介

适用范围:

本标准规定了纳米薄膜接触角测量中涉及的术语、原理、试验设备、环境、样品制备、分析步骤、结果计算和试验报告等。
本标准适用于衬底为表面平整的纳米薄膜涂层。

GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法的部分内容

现行

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法》中的检验检测项目,对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试,检测项目包含《GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法》中规定的所有项目,以及出厂检验、型式检验等。

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检测流程

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2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

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5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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