GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇-检测标准-检测项目-北检院

标准中涉及的相关检测项目

下面是根据标准《GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇》中提到的内容合理组织的信息，并添加HTML标签： ### 检测项目

根据《GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇》，波纹度检测主要包括以下相关项目：

表面波纹间距
表面波纹高度
波纹深度
波纹率
波纹轮廓曲线
波纹周期

### 检测方法

表面波纹度的检测方法包括但不限于以下技术：

接触式轮廓仪法：利用精密轮廓仪对工件表面进行机械接触测量，记录波纹度的参数。
光学干涉法：使用光学干涉原理，通过干涉图样分析表面波纹特性。
激光扫描法：通过激光扫描系统获取表面波纹数据，适合高精度和非接触测量。
显微观察法：使用显微镜直接观察，辅助分析波纹的分布和特性。

### 涉及产品

《GB/T 16747-1997》中提到的表面波纹度检测适用于以下产品：

金属零部件：如轴承表面、齿轮表面、精密加工零件等。
光学元件：如镜头、光学玻璃的表面波纹度控制。
发动机零件：如气缸表面、活塞环接触面等。
精密仪器和设备：用于确定高精密加工组件的表面一致性。
电子产品外壳与接触面：需要确保表面稳定性和装配效果。

以上内容可以根据具体的检测需求，在实际应用中进行细化和扩展。

GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇的基本信息

标准名：表面波纹度词汇

标准号：GB/T 16747-1997

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1997-03-04

实施日期：1997-09-01

标准状态：现行

GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇的简介

本标准规定了表面波纹度有关表面及其参数的术语和定义。这些波纹度参数术语是与中线制相关。本标准适用于技术文件及科技出版物等。GB/T16747-1997表面波纹度词汇GB/T16747-1997

GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇的部分内容

GB/T16747—1997

本标准是根据国际标准化组织ISO/DIS10479《表面波纹度词汇》（1993)制定的。

本标准等效采用国际标准化组织ISO/DIS10479《表面波纹度词汇》（1993年版）。在技术内容上与该国际标准等效，编写规则上与之等同，这样，通过使我国《表面波纹度词汇》和定义尽可能与国际一致，以尽快适应国际贸易、技术和经济交往的发展和要。

本标准的附录 A、附录B都是提示的附录。本标准由中华人民共和国机械工业部提出。本标准由机械工业部机械科学研究院标准化研究所归口。本标准起草单位：机科学研究院标准化研究所、中国计量科学研究院。本标准主要起草人：王欣玲、毛起广。范围

中华人民共和国国家标准

·词汇

表面波纹度

Surface waviness terms

GB/T 16747-1997

本标准确定了表面波纹度有关表面及其参数的术语和定义。这些波纹度参数术语是与中线制相关。本标准适用于技术文件及科技出版物等。2引用标准

下列标准所包含的条文，通过在本标中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB3505-83表面粗糙度：术语表面及其参数GB7220--87‘表面粗糙度术语参数测量3表面、轮廓和基准术语

3.1实际表面real surface

工件上实际存在的一个表面，它是按所定特征由加工形成的，实际表面是由粗度、波纹度和形状叠加而成的个表面（见图1)。

粗糙度

波纹度

3.2实际表面的轮廓（实际轮廓）profile of a real surface（real profile）由一个平面与实际表面相交所得的轮廓。它由粗糙度轮娜、波纹度轮廓和形状轮廓构成(见图2)。国家技术监督局1997-03-04批准1997-09-01实施

GB/T 16747-

形状轮摩

粗糙度轮廓

被纹度轮廊

3.3分离实际表面轮廊成分的求值系统（滤波器）operator（fiter）for separating the profile compo-nent of the real surface

通过预定的信息转换，对实际表面的轮廊的成分进行分离的一种处理过程（见图3）。实际上，该过程可用各种不同的方式实现。对各种不同方式分离出的轮廊成分，应说明其方法离差。倘若总体轮廓含有所认为的公称形状，就须用一个附加的预处理过程来消除该轮的形状部分。分离轮哪成分的求

值系统（滤波器）

实际表面轮率

粗髓度

3.4标准的波纹度求值系统：standard waviness operator具有符合标准规定特性的求值系统（滤波器）。该求值系统一般被认为是理想的。3.5波纹度截止波长waviness cut-offs在高斯滤波器的传输系数为0.5条件下，短波区界的波长和长波区界的波长入。3.6表面波纹度surface waviness由间距比粗糙度大得多的、随机的或接近周期形式的戒分构成的表面不平度（见图1）。通常包含当工件表面加工时由意外因紊引起的那种不平度，例如，由一个工件或某一刀具的失控运动所引起的。波纹度通频带的极限由高斯滤波器的长波段截止波长和短波段截止波长之比，入p：^c为10：1确定，除非另有规定。

在用高斯滤波器分离波纹度以前，应从总体轮廊中消除图样上表明的那种用最小二乘拟合的公称形状。

对圆周(轮廓来说），推荐将其半径也用最小二乘优化，而且公称值不保持固定。这种波纹度分离程序确定了理想的波纹度求值系统。注；这种理想的波纹度求值系统，只能用在表面尺寸不小于截止波长的20倍的场合。12

GB/T 16747-

3.7表面波纹度轮廓（波纹度轮廓）profile of surface

waviness（wavinessprofile)

是一个实际表面的轮廓的组成部分，其不平度的间距比粗糙度的大得多的那部分。实际上，该轮廊部分是用波纹度求值系统(滤波器)从实际表面的轮廓中分离得出(见图4)。波纹度轮廉

3.8波纹度取样长度（w）waviness sampling length（w）波纹度轮廓上的一段基准线长度，它等于长波区截止波长入。在这段长度上确定波纹度参数。3.9波纹度评定长度（Imw）waviness evaluation length（lmw）用于评定波纹度参数值的一段长度，它可包含一个或几个取样长度。3.10 波纹度轮廓基准线 waviness profile reference line这条基准线对确定波纹度参数有关。在波纹度评定长度范围内划出的中线，被用作波纹度基准线，这是在使用波纹度理想操作器后获得的一条直线。

3.11波纹度轮廓峰

ssprofilepeak

wavines

表面波纹度轮廓与波纹度中线相交，相邻两交点之间的向外(从工件材料到周围介质)的轮廓部分（见图5）。

注：在波纹度取样长度内，即使是始端或终端，倘有向外的轮廊部分，也应视作波纹度轮瓣蜂。当计算波纹度的连续几个取样长度上的峰数时，对每个取样长度的始端或终端的波纹度轮廊蜂，只应计入一次始端的。波纹度轮离蜂

3.12波纹度轮廓谷waviness profile valley表面波纹度轮廊与波纹度中线相交，相邻两交点之间的向内（从周围介质到材料）的轮廓部分（见图62。

GB/T16747-1997

注；在波纹度取样长度的始端或终端，倘有向内的轮廓部分，也应视作轮廓谷。当计算波纹度的连续几个取样长度上的谷数时，对每个取样长度的始端或终端的波纹度轮廓谷，只计入一欲始端的。波纹度轮廓谷

3.13波纹度轮廓峰顶线lineofwaviness profilepeaks在波纹度取样长度内，与基准线等距并通过波纹度轮廓最高点的线（见图7）。波纹度轮廊峰顶线

3.14波纹度轮廊谷底线

line of waviness profilevalleys在波纹度取样长度内，与基准线等距并通过波纹度轮廓最低点的线（见图8)。波纹度轮率谷底线

GB/T 167471997

3.15波纹度轮廓偏距Chw(α)）waviness profile deperture [hw(r)）波纹度轮廓上的点与波纹度中线之间的距离(见图 9)。hw（x）

4裘面波纹度参数术语

4.1波纹度轮廓峰高(hw）waviness profilepeak height（hwp）波纹度中线至波纹度轮廓最高点之间的距离（见图10)。图10

4.2波纹度轮廓谷深（hw）

waviness profile velley depth (h)波纹度中线至波纹度轮廊谷最低点之间的距离(见图11)。图11

GB/T16747-1997

4.3波纹度轮廓不平度高度

waviness profile irregularity height波纹度轮廓峰高和相邻波纹度轮廓谷深之和（见图12）。图12

4.4波纹度轮廓不平度的平均高度(W.）mean height of waviness Profile irregularities (W.)在波纹度取样长度内，波纹度轮廓峰高和波纹度轮廓谷深的平均值绝对值之和。计算公式如下：w.

Hhwpi! +

4.5波纹度轮廓的最大峰高(W,）maximum peak height of waviness profile（W）在波纹度取样长度内，波纹度轮廓最高点和波纹度中线之间的距离（见图13)。图13

4.6波纹度轮廊的最大谷深(W.）maximum valley depth of waviness profile (W.)在波纹度取样长度内，波纹度轮廓最低点和波纹度中线之间的距离（见图14）。图14

4.7波纹度轮廓的最大高度(W.）maximum height of waviness profile (W.)GB/T 16747-1997

在波纹度取样长度内，波纹度轮廓峰顶线和波纹度轮廓谷底线之间的距离（见图15）。图15

4.8波纹度轮廓算术平均偏差（W.）arithmetical mean deviation of waviness profile（W.）在波纹度取样长度内，波纹度轮廊偏距绝对值的算术平均值（见图16)。w()idx

或近似为：

式中：n一

离散的波纹度轮廓偏距的个数。hw

4.9波纹度轮廓均方根偏差(W.）root--mean-square deviation of waviness profile（W.）在波纹度取样长度内，波纹度轮廓偏距的均方根值。W.

\h(r)da

4. 10波纹度轮廊不平度的间距(Sw）spacing of waviness profile irregularities（Sw:）含有一个波纹度轮峰和相邻波纹度轮廊谷的一段波纹度中线长度（见图17)。GB/T16747-1997

4.11波纹度轮廓的平均间距（Swm）mean spacing of waviness profile (Swm)在波纹度取样长度内，波纹度轮廓不平度间距的平均值。1s

式中：Sw.

波纹度轮廓不平度间距，

n——在波纹度取样长度内，波纹度轮廓间距的个数。18

表面波纹度·

表面波纹度轮廓(波纹度轮廓)

标准的波纹度求值系统·…

波纹度截止波长

波纹度轮廊的平均间距S

波纹度轮廊的最大峰高(W,）

量业国学

波纹度轮廓的最大高度(W.)

波纹度轮廓的最大谷深(W.）

波纹度轮廓不平度的间距（S）.波纹度轮廓不平度的平均高度(W.）波纹度轮廓峰

波纹度轮廊峰顶线

心中##

波纹度轮廓峰高（hwp）

波纹度轮廓谷

波纹度轮廊谷底线

GB/T 16747-1997

附录A

(提示的附录）

汉语术语索引

波纹度轮廓不平度高度

波纹度轮廓谷深（hw）

*.... 4.6

波纹度轮廊基准线

波纹度轮廓均方根偏差(W。）

波纹度轮廓偏距[h（α)】

波纹度轮廓算术平均偏差（W）

波纹度评定长度（lmw）

波纹度取样长度.）

营康意

......... 3. 10

-+.+* 4.9

++** 3.15

分离实际表面轮廊成分的求值系统（滤波器），

实际表面

实际表面的轮(实际轮廓）…．

附录B

（提示的附录）

英文术语索引

arithmetical mean deviation of waviness profile (W,) .L

line of waviness profile peaksline of waviness profile valleys M

maximum height of waviness profile (w.)maximum peak height of waviness profile (W,)maximum valley depth of waviness profile (W,) ..mean height of waviness profile iregularities (W.)mean spacing of waviness profile (Swm)+++++++++++

电国国电业电

.... 4.8

GB/T 16747-1997

operator (filter) for separating the profile component of the real surfaceP

profile of a real surface (real profile)profile of surface waviness (waviness profile)R

real surface

root--mean-square deviation of waviness profile (W.)s

spacing of waviness profile irregularities (Swi)standard waviness

surface waviness

waviness cut-offs

+0--+00.1o+1+!

waviness evaluation length (lmw)waviness profile deperture [h.(r)] ...waviness profile irregularity heightwaviness profile peak *..........waviness profile peak height (hwp)waviness profile reference linewaviness profile valley ..

waviness profile velley depth (hw)waviness sampling length(lw) ..50

0+-00-0+0

++++++++o+-

*--h++++.+*+-+++.+++++-++++

现行

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 16747-1997 表面波纹度词汇》中适用范围中的所有样品。