GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范

标准中涉及的相关检测项目

以下是标准《GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范》中提到的主要检测项目、检测方法以及涉及的产品内容： --- ###

一、相关的检测项目

本标准中提到的主要检测项目包括：

• 外观检测
• 直流参数测试
• 交流参数测试
• 功能测试
• 静电敏感度测试
• 高低温工作特性测试
• 功耗测试
• 输入/输出电流检测
• 电源电压范围检测
• 输出驱动能力测试
• 抗干扰能力测试
• 短路测试
• 可靠性与寿命测试

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二、检测方法

标准中涉及的检测方法包括但不限于：

• 使用特定的测试夹具进行直流/交流电参数测试
• 通过功能生成设备模拟实际工作状态进行功能测试
• 采用精密电流/电压表测量输入输出参数
• 进行环境模拟实验，如高温/低温箱测试
• 静电放电损伤测试（通过ESD测试设备检测）
• 对通电状态下的短路保护能力进行测试
• 利用逻辑分析仪检测芯片内部的功能逻辑

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三、涉及的产品

该标准涵盖了以下相关产品系列：

• 54/74HC系列HCMOS数字集成电路
• 54/74HCT系列HCMOS数字集成电路
• 54/74HCU系列HCMOS数字集成电路

具体包括但不限于：

• 逻辑门电路（如与门、或门、非门等）
• 触发器系列产品
• 计数器及寄存器电路
• 多路复用器与解码器
• 移位寄存器

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总结：标准《GB/T 17023-1997》详细规定了HCMOS系列数字集成电路的各类检测项目及相应的测试方法，同时涉及了主要的54/74HC、54/74HCT、54/74HCU产品系列。这些检测项目和方法共同保证了产品的功能可靠性与性能稳定性。

GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范的基本信息

标准名：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范

标准号：GB/T 17023-1997

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1997-10-07

实施日期：1998-09-01

标准状态：现行

GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范的简介

详见本标准。GB/T17023-1997半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范GB/T17023-1997

GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范的部分内容

GB/T17023

本标准等同采用国际电I委员会标准IEC:748-2-2:1992半导体器件集成也路第2部分：数集成电路第二篇——HCMOS数字集成电路51/74HC,54/7-1HCT,51/14HICU系列族规范》及其修改单1（1994),以促进我国该类产品的国际贸易、技术利经济交流，本标游引用的国家标谁（GB/T49371995等采用IEC749（1984)及修改单1(1993)。本标准由中华人民共和国电子1业部提出本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归1！本标滩起草弟位：电子工业部东北微电子研究所、电子工业部标准化研究所。本标滩士要起卢人毕思庆、李燕荣GE/T 17023.1997

IEC前声

1）[EC(国际电T委员会)在技术间题上的正式决议或协议·是出刘这些问题等别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的间题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决设或协议，以推誉标准的形式供国际上使州、并在此意义上为各困家委员会所认可。3）为了促进国上的统,1，希望各国家委员会在本国条件许可的情况下，采用IEC标的义术作为其国家你准，IEC标症相应国家标准之问的差异，成尽可能在国家标准牛指明、本标随是由 S(A(然戏电路)和以:T(A7(学导体器件)制定的本标甜是HCM(激字柴成电踏54/74HC.54/74HCT.54/74HCU系列的族视范本标社文本以下文件为依据：

穴个方法

Z7A(CO18

表决报告

47A:CO)217

表决批准本标准的详细资料为在上表列出的表决报告中存阅。在本标准封面的QC编号是IEC中广儿器件质品评定体系1汇Q)的规范号本标非引用下列EC标准：

68-2-17(1978）环境试验第2部分：试验-—试验Q密封华与沐辉件，第16部分：分立器件和集成电路总范727 10019911

758-2(1985）半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路修改单1(1991）

74823(09）半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第篇--HCM(S数字集成电路5-1/74IC,54/741、5-1/7[系划资凹详细现范718-11(7999)

半导体器码-集战心烯第11部分：半导体集成电路分舰范（不包括混合电路）719（181）单导体器件机越利（候试验片法修改单【(1991）

中华人民共和国国家标准

半导体器件集成电路

第2部分：数字集成电路

第二篇HCMOS数字集成电路

54/74HC.54/74HCT.54/74HCU

系列族规范

Serpiconduetor devices Integrated circuitsPart2: Digitat inlegrated circuitsSection twu Fanily specificationfor HCMOS digital integrated circuitsseries 54/74HC.54/74HCT.54/74HCUCB/T 17023-1997

dtIEC748-2-2:1992

QC: 790109

IEC电子元器件质鼠评定体系避循IEC的章程，并在11:C按权下进行工作。这个体系的月的是确定质量评定程序，使得由··个成员国根据相应规范要求认为合格而放行的电子元器件，在所有其他成员国内不需要再进行检验就能同样地承认其合格。本族规范是与半导体器件有关的系列空户详细规范之-，并且与下列标罹一起使用，1EC747-10/QC700000半导体器件第10部分分器件和集成电略总规范1EC748-11/QC790100半导体器件集成电路：第11部分半导体集成电路分规范（不包括混合电路）

要求的资料

本页和下页括导内的数字与下列各项要求的资料相对应，应填写在相应的栏中。详细规范的识别

1]授权发布详纵规范的国家标推化构名称。[2]详细规范的IECQ编号，

「31总规范、分规范的编号及版本号,「4］详细规范的国家编号、发布口期及国家标准体系要求的其他资料。器件的识别

[5] 主要功能和型号。

_6］典型结构（材料、主要.I艺)和外壳资料。如果器件具有若干种派生产品，则成指出其差别,例如用对照表列出特性。国家技术监督局1997-10-07批准1998-09-01实施

GB/T 17023—1997

如果器件属静电敏感型，应在详细规范中注明注意事项，[7]外形图、引出端识别、标志和/或有关外形的参考文件。[8]按总规范2.6的质量评定类别。[9]参考数据。

[本规范下面右括导内所要求的内穿构成了详细规范的首贞，这些内穿仅供指导详细规范的编写，而不应纳人详细规范中。」

「当--段文字是否供指导编写可能引起混淆时-这段文字将被放在括号内叙述。二国家代表桃构(NAI)（和可以提供规范的团体)的名称(地址）！

评定器件质量的依据

总规范：

1EC 747-10/QC 700000

分规范：

IEC 748-11/QC 790100

【及编号不同时的国家标准号】CB/T 17023—1997

详绷规范的IECQ编号、版本

号和/或日期］

QC 790109-..

「详细范的国家编号”

［若阔家编号与IECQ编号致，本栏可不填]HCMCXS数字集成电路54/74HC,54/74HCT,54/74HCU系列族规范【有关器件的型号］

订货资料：览本规范第了章

1.机械说明

外形铱据：

2. 简要说明

高CMOS

IEC191 2.［若有，则需遵循]和/或国家标准HC,HCT、HCU 系列二如果有IEC外形标准］

外形图：

「可以移入本规范第10章或在那里给出更详细的资料1

引出端识别：

［画出引山端排列图，包括图形]标志：[字母和图形]

[详细规范应规定器件上标志的内容]【见总规范2.5和/或本规范第6章］半导体材料：si

封装：[空封或非空封

技术：互补MOS

注意：静电敏感器件

3. 质最评定类别

1按总规范2.6]

参考数据

见详细规范

按本规范鉴定合格的器件，其有关制造厂的资料，可在现行合铬产品目录中查到。[5]

4极限值（绝对最大额定值体系）极龈值不用于检验：

GB/T 17023—1997

无其他规定，这些极限值适用于整个工作温度范围，若在详细观范中尤其他观定,这里给出的值是有效的，杂款号

电源电压

输人电正

输人箱位电流(任一输人端)

输出电压

输出辨位电流(任输山端)

输出拉灌电流(每输出端）

电源端或地端电流

！工作溢度范制

54/HC/HCT/HCU

1 74/HC/HCT/HCU

建行温度

电特性

(检龄要求见本规范第8章。)

摊荐电源电压范围：

HC系列:V:2V-~6V。

HCT 系列:Vx:4.5V~5.5V.

HCU系列VDu:2V~6V.

总线驱动器

总线驱动器

若尤其他规定，电特性适用于整个1作温度范围所有电压以V。为基准，

HC:系列

条款导

静态中源电流

Vi=-心 或 Vi

最小「最大

最小最大

条款号

「输人高电平电压

输人低电平电用

输出高电平电压

V,=Van或 Viua

Ia=—20A

la=—AmA

（标准輪出）

fo——GmA

（总线驱动输出）

Io= -- 5. 2mA

（标准输出）

fo-—7. 8mA

(总线驱动输出）

输出低电平电

Vi=Vut或 ViLa

:n=20μ A

in=4mA

（标雄输）

（总线驱动输出）

In=5. 2mA

(标准输出)

Te, ?. 8mA

（总线孵动输出）

GR/T 17023-1997

表(续）

最大，最小

VTA3/4

条款号

截止态输入漏电

5. 6.1 Vt=Ven

5. 6. 2:Vt=0

模批开关截止态

(每通道)电流

Vt=Vnm或 Vi..

或=VpiVrr5

态输出截止态

V,=V或 Vira

Ve=0或 Vm

输入电容

兰态输出电奔\

1) 25℃。

2) —4G~85

3)-55~125c

GB/T 17023

表(完)）

6 InzA

74HC1)

最大最小最人最小最大

4) 详细现范应指明该器件是 SSI.FF,MSI 或且 I.SI5) 某些模拟并关的附加负电源电压 V:,在详细规范中现定,6）除详细规范另有规定之外

HCT 系列

条款号

静态电源电流

V,--0 或 V>

54HCT/

74HCTt

最小最大

54HCT\

最大最小

条款号

输入高电平电压

输人抵电平电压

输出高电平电压

V,-Vun或 Vea

o 20gA

Io= 4mA

(标准输出）

In=—GmA

（总线驱动输山）

输池低电平电压

V-Viu或 VuLa

!a—20μ A

5. 16. 2 |In= 4mA

（标准输出）

fa-6mA

（总线驱动输出）

截止态输人漏电

V-o或V

Vi-Vnn

模拟开关截止态

(每道)中流

V,=Vu或 Vra

V,Vun或

V,-VanVr?

三态输出截止态

Vt-Vm或 Vn.A

Vo= 或 V

5. 20.1输人电容

|三输出电容

2) -40 C ~85'℃:

3)—55--125℃

GB/T17023·--1997

表（完）

54HCT/

74HCTu

最小最大

4)详细规范应指明该器件是SSI、FF.MST或足LSL，0. 8

5）某些模拟开关的附加负电源中邮,在详细规范中规定6）除评细规范另有现之外

AA 3/4

条款号

静态电源电流

V,=0 或 Vrp

输人高电平电压2

输入低电平电压

输出高电平电压

Vi-- Vmn或 Vr.a

fo—--20μ A

Vi-0 或 Vius

Io——4mA

(标准输出）

Ia=—5. 2mA

（总线驱动输出）

5.27输出低电平电压

5. 27. 1 / Vi=VtHx或 Vu.a

io-20μA

5.27.2V,=0或Voz

In=4mA

(标准输出）

fo—5.2mA

（总线驱动输出）

截止态输人漏电

Vi=0 或 VpD

输人电容

GB/T 17023 ---1997

HCU系列

74HCUF2)

54HICU/

7AHCE13

最大：最小

54HCUn

最大，最小

条款号

1)25℃

2) -40℃~85

3) —55'℃--125℃

GB/T17023-1997

表（完）

54HCU/

74HCUE

4)详细规范应指明该器作是SSI、FF，MS1或是L.SI5.32动态特性(HC、HCT、HCUJ系列）5.32.1脉冲发生器和驱动电路应满足下列条件：—脉冲发生器的输出阻抗：500±10%。最大

从发生器（包括试验设备）到驱动电路连线的阻抗：500十10%。输人低电平电压：0V±0.IV。

54HCU\:

最小最大

输人高电平电压：Vn士(0.IV(HC.HCU系列);3V+0.1V(HCT系列）输人信号上升转换时间：t一6ns±1ns（从阶联幅度的10%垒90%测量）-输人信号下降转换时间：tr=6ns土1ns（从阶缺摘度的90%至10%测量）：脉冲宽度：t%一500ns（若详细规范中无其他规定）。脉冲顺率：1MHz

5.32.2输出转换时间(HC和IICT)转换时问在 A5 分组中测试。

輪出转换时间

标准输出型

总线驱动输出型

ITIL. ,tTIL.H

+） 54/74HCT 素列仅用 Vm=4. 5V 测试,1) 25 :

2) -40℃~85℃.

3)--55℃-~125C.

5.32.3输人L升和下降时间（HC和FCT)Vi

74HC21

5411C3s

输人上升和下降时间

HC 系列

HCT系列

1) 25 ℃.

2) -40 C--85C.

3)—55C-125

5. 32.4开关波形图和负载电路

GB/T 17023—1997

(1)54/74HC和54/74HCU开关波形图Vrn

标准或总线垩动输出

负载电路

反相输出

最火「最小

转换时间和传輪延迟时间

注：输出应按器件真镇表在10%V到0%V之间转换。对于a-赖人占空出一5C%，时钟脉冲上升、下降时间和脉冲宽度单位

最大：

现行

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。