SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范

标准中涉及的相关检测项目

标准《SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范》提到的相关检测项目通常包括以下几个方面：

1. 外观检测：检查微型杜瓦的外观质量，包括表面是否光滑、无明显缺陷等。
2. 尺寸检测：测量微型杜瓦的各个关键尺寸，确保符合设计和标准要求。
3. 密封性能检测：测试微型杜瓦的密封性，确保其能够长期保持内部真空或压力。
4. 材料检测：检查微型杜瓦制作材料的化学成分、机械性能等，确认材料质量符合标准。
5. 热性能检测：测量微型杜瓦的隔热性能和导热性能，以判断其在不同环境条件下的表现。
6. 压力检测：对微型杜瓦进行压力测试，确保其能承受工作环境中的压力变化。

检测方法通常包括以下技术：

• 视觉检查和手工测量：用于外观和尺寸的初步检查。
• 密封性检测设备：如压力测试仪和泄漏检测仪，用于评估密封性能。
• 材料成分分析仪器：用于分析和验证材料成分。
• 热分析仪器：如热电耦、红外热像仪，用于测量热性能。
• 压力试验机：用于进行压力测试。

涉及的产品主要为微型杜瓦瓶及其相关组件，这些产品广泛应用于低温存储、气体取样、科学研究仪器等领域。

SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范的基本信息

标准名：微型杜瓦总规范

标准号：SJ 20784-2000

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：2000-10-20

实施日期：2000-10-20

标准状态：现行

SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范的简介

本规范规定了微型杜瓦(以下简称杜瓦)的要求、质量保证规定及交货准备等。本规范主要适用于红外探测器用杜瓦的研制和生产，其它用途的杜瓦也可参照采用。SJ20784-2000微型杜瓦总规范SJ20784-2000

SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5911

微型杜瓦总规范

SJ 20784—2000

General specification for micro Dewar2000-10-20发布

2000-10-20实施

中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准微型杜瓦总规范

General specification for micro Dewar1范围

1.1主题内容　

SJ 20784—2000

本规范规定了微型杜瓦（以下简称杜瓦）的要求、质量保证规定及交货准备等。1.2适用范圈

本规范主要适用丁红外探测器用杜瓦的研制和生产，其它用途的杜瓦也可参照采用2引用文件

GB191—90包装储运图示标志

GJB1788—93红外探测器试验方法方法2040低温贮存试验GJB1788—93红外探测器试验方法方法2010温度冲击试验GJB1788-—93红外探测器试验方法方法2080振动试验GJB1788—93红外探测器试验方法方法2070冲击试验3要求

3.1详细规范

杜瓦的要求应符合本规范和详细规范的规定。若本规范的要求与详细规范的要求相抵融时，应以详细规范为准。

3.2合格鉴定

按本规范提供的杜瓦应是经鉴定合格的产品。3.3材料

材料的等级、规格和型号应满足本规范和详细规范的所有.1.作和环境要求。3.4设计和结构

杜瓦的外形尺寸、结构、功能及接口的设计应符合详细规范的规定。3.5性能特性

3. 5. 窗口特性

按4.5.2试验，窗口波段范用和窗口峰值透视比应符合详细规范的规定。3.5.2静态热负载

按4.5.3试验，社瓦的静态热负载应不人了详细规范的规定。3.5. 3真空完善性

中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布TKANrKAca-

2000-10-20 实施

SJ 20784—2000

接4.5.4试验，杜瓦的真空完筹性应符合详细规范的规定3.5.4引线电阻

按4.5.5试验，杜瓦的引线电阻应符合详细规范的规定。3.5.5绝缘电阻

按4.5.6试验，杜瓦引线的的绝缘电阻应符合详细规范的规定。3.5.6气密性

按4.5.7试验，杜瓦封装前的氮气泄凝率应不大下详细规范的规定。3.6环境试验

3.6.1低温贮存试验

按4.6.1试验后，杜瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求。3.6.2温度冲击试验

按4.6.2试验后，性瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求。3.6.3振动试验

按4.6.3试验后，杜瓦的静态热负载、真空完善性、气密性应满足3.5.2，3.5.3、3.5.6的要求。

3.6.4冲市试验

按4.6.4试验后，杜瓦引线应导通，且应满足3.5.4、3.5.5的要求，3.7外观质量与机械检查

3.7. 1重量

杜瓦的重量应符合详细规范的规定。3. 7.2 尺寸

杜瓦的尺寸和公差应符合详细规范的规定。3. 7. 3 标患

杜瓦的标志应有产品型号、编号及生产厂代号，且应消晰可见。3.7.4外观

杜瓦的外观应光滑平，无毛刺、裂纹等影响寿命和使用的缺陷。4质量保证规定

4.1检验职责

除合同或订单另有规定外，承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对规范所述的任-一检验项日进行检查。4.2检验分类

本规范规定的检验分为：

8鉴定检验；

b．质量一致性检验。

4.2.1生产批

一个生产批应由在同一条件下采用相同的设计、1艺、材料、设备制造的杜瓦组成。4.2.2捡验批

承制方在规定时间内提交质试一致性检验的全部杜瓦以确定是否符合详细规范和本2

规范的要求。

SJ20784—2000

一个检验批可由一个生产批组成，或由儿个在本质上属丁相同条件（材料、1.艺、设备等）下制造的生产批组成。4.3鉴定检验

鉴定检验应在上级鉴定机构认可的试验室中进行。4.3.1抽样

提交鉴定检验的杜瓦应从生产线上抽取，样品应是在生产中通常使用的设备和工艺生产的，其样品数应不少于3只。4.3.2检验

鉴定检验应按表1规定的项目及顺序进行。不满足其中一项检验都应成为拒绝授予鉴定批准的理由。

表1鉴定检验

检验项目

外观书机城检查\

窗凹特性\

引线电阻1）

绝缘电阻1

气密性”

静态热负载

真空完善性

低温贮存试验

溫度冲击试验

振动试验

神击试验

注：1）封装前检测，也可用其它封装样品代替。4. 3. 3监定合格资格的保持

要求章条号

方法章条好

为了保持鉴定合格资格，承制方应每隔12个月向鉴定机构提交一份报告。签定机构应规定起始报告H期。报告内容包括A组、C组检验的试验结果的汇总，至少应说明已通过检验批的数量和不合格批的数量：任何零性失效的数量和类型；一年中究成的试验项目：应别所有返修批的试验结果并加以说明。在每12个月周期结束前的30 大内不提交报告者，将可能导致丧失该产品的鉴定合格资格。除周期地提交捡验资料外，在12个月周期内的任何时候，若检验资料显示已鉴定合格的产品不能满足本规范的要求时，承制方应立即通知鉴定机构。如果在报告周期内未生产时，应提交一份报告证明承制方仍具有生产这产品的所必需能力和设备。如架相继两个报告周期内仍卡生产，根据鉴定机构的决定，可以要求承制方提供产品鉴定检验要求进行检验，并说明未生产的原网，4.4质革一致性检验

质量致性捡验应按 A 组、C 组进行（见表 2、表 3),A 组为逐批检验，C 组为围期捡验。

iKAoNrKAca

4.4.1A组检验

sJ 20784---2000

A组检验应在封装前进行，检验项目由表2组成，均为100%检验，不合格品剔除。表2A组检验

捡验项

外观与机械检查

密口特性

绝缘电阻

氢密性

要求章条号

方法章条号

如果样品未通过A组检验，承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告失效情况，并根据不合格的原因，对材料或工艺或对两者采取纠止措施，而且认为适当时，对用基本相同的材料和！艺在基本相同的条下制造的，以及认为经受相同失效时，可以修复的全部产品采取纠正措施。在采取纠正措施之后，应对追加的样品重新进行A组检验（由鉴定机构决定进行全部项尽的检验或进行原来样品失效项目的检验）。同时，可以重新开始\A组检验。

4.4.2C组检验

C组检验应从已通过A组检验的批中抽取，抽样按4.4.3.1的规定，检验周期为12个月月且按表3规定目及顺序进行。表 3 C纽检验

检验项目

静态热负载

真空完善性

低溢贮存试验

温度冲击试验

报动试验

冲击试验

4.4.2.1抽样检验

要求章条号

C纽检验的样品应按下列方式抽取，不允许出现不合格品。表4抽样方案

100~299

300~499

500~999

1000 以上

4. 4. 2.2样品处理

经C纽检验的样品不得按正品交付4.4.2.3不合格

方法章条号

如果样战术通过C组捡验，承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告失效情况，并-4 -

SJ 20784-2000

根据不合格的原因，对材料或工艺或对两者采取纠正措施，而且认为适当时，对用基本相同的材料和工艺在基本相同的条件下制造的，以及认为经受相同失效的，可以修复的全部产品采取纠正措施。在鉴定机构认可的纠正措施之前暂停产品的验收和交货。采取纠正措施后，应对追加的样品重新进行C组检验（由鉴定机构决定进行全部项目的检验或进行原来样品失效项目的检验）。同时，可以重新开始A组检验。但在C组复验表明纠正措施是成功的之前，不得进行最后的验收和交货。若复验后仍然失效，则应将有关失效的资料提供给鉴定机构和有关主管部门。4. 5检验方法

除非另有规定，杜瓦静态热负载测试环境条件如下：温度：20±2C：

相对凝度：≤60%；

气压：86106kPa.

4.5.1外观与机械检查

4.5.1.1以目测和满足准确度要求的量具和衡器对杜瓦进行检查，以便验证材料、设计结构、功能、标志、重盘、外表面是否满足相应要求（见3.3、3.4、3.7条）。4.5.1.2目测光窗口表面，应光亮沾净无划痕。4.5.2窗口特性

用经鉴定合格且在有效期内的红外光谱分光计检测窗口波段范围和波段蜂值透视比。

4.5.3静态热负载

在芯片未工作情况下，将杜瓦存入液氮，使其达到平衡后，用经鉴定合格且在有效期内的天平和计时器监测液氮重量变化，在液氮蒸干前用规定时问或规定液氮量的方法测量液氮耗损的平均速率并按公式计算其静态热负载。Q醇=r鼠Vm×103

式中：9静一为静态热负载，mW；r为液氮蒸发潜热值196.7J/g：

—为液氮损耗平均速率，/s。

4.5.4真空完善性

在室温下将杜瓦放入恒温箱内，升溢至71°C并保温72h。从恒温箱取出杜瓦，恢复至室温。试验后，静态热负载的变化率应不人丁试验前的15%或符合详细规范的规定。4.5.5引线电阻

封装前用经鉴定合格且在有效期内的电阻测量仪测量，其测量点和阻值应符合详细规范的规定。

4.5.6绝缘电阻

封装前用经鉴定合格且在有效期内的电阻测拭仪测垃，其测量点和阻值应符合详细规范的规定，

4.5.7气密性

用经鉴定合格且在有效期内的高灵敏度氮质谱仪进行检测，其漏率应符合详细规范，4.6环境试验

除非另有规定，环境试验应按GB1788利以下规定进行。5

TKANiKAca-

4.6.低温贮存试验

SJ 20784--2000

按GJB1788中方法2040规定的试验程序进行试验。贮存温度为~55°C，试验条件及试验设备应根据探测器选择。4.6.2温度冲击试验

按GJB1788中方法2010规定的试验程序进行试验。温度范用为-55°C～70°C，试验条件及试验设备应根据探测器选择。4.6.3振动试验

按GJB1788中方法2080规定的试验程序进行试验。试验条件及试验设备应根据探测器选择。

4. 6. 4 冲击试验

按GJB1788中方法2080规定的试验程序进行试验。试验条件及试验设备应根据探测器选择。

4.7包装检验

应符合本规范第5章及详细规范要求。5交货准备

5.1包装要求

杜瓦应有专用的包装箱，并有防震保护，箱内应有产品说明和合格证，会格证上应注明：

a．制造单位：

b．产品型号：

c.详细规范编号：

d、检验或重新检验日期：

e：检验员章。

5.2贮存要求

杜瓦应在真空箱内或保护性密封容器中贮存。其贮存温度为-10～40C。贮存环境应保持洁净、通用且应无腐蚀性气体。5.3运输要求

杜瓦运输时应有牢固的包装箱，并应加注GFB191一90规定的“小心轻放”、“怕凝”等标志，装有杜瓦的包装箱按规定方式运输，运输中应避免雨、雪真接淋袭和机械碰撞。6说明事项

6.1预定用途

符合本规范的杜瓦用于红外探测器组成。6.2订货文件内

合同或订单中应载明下列内容：a.本规范名称、编号和发布日期：b．适用的详细规范名称、编号租发布日期：c.应提供的试验数据；

d．订货数量：

B.防护包装和装箱要求。

6.3定义

SJ 20784—2000

6.3.1微型杜瓦（亦称微型杜瓦瓶），是用米封装红外芯片、且应具有与制冷器（机）红外整机的接口，并维持其纸温下正常工作的真空器件，亦可用丁配制冷器（机）。6.3.2静态热负载

静态热负载是在芯片工.作时，杜瓦装载面冷却到规定温度达到热平衡后，在规定的环境条件下，杜瓦的“无功冷量损耗”，单位为mW。6.3.3真空完善性

真空宪善性是反映杜瓦的选材、结构、表面处理、消洁排气和焊接1.艺的一个综合指标，能够集中体现杜瓦真空性能的完美程度。6.4供货保证

杜瓦的吸气剂的激活周期大于1年，杜瓦的贮存寿命一般应保证3年，详细规范应规定杜瓦的贮存寿命。

附加说明：

本规范由中国电子技术标雄化研究所归口。本规范由信息产业部电子第十六研究所起草。本规范主嬰起草人：柳汉莹、朱魁章、纪斌、田渠。计划项目代号：B710190。

iiiKAoNrkAca

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。