GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验

标准中涉及的相关检测项目

标准《GB/T 5095.6-1997》中，涉及到的相关检测项目、检测方法以及涉及的产品主要包括以下内容：

检测项目：

• 气候环境测试：包括温度、湿度等气候条件对机电元件的影响测试。
• 锡焊试验：评估机电元件在焊接过程中的性能和可靠性。

检测方法：

• 恒温恒湿试验：将样品暴露在特定温度和湿度条件下，观测其性能变化。
• 温度冲击试验：通过快速改变温度来检测机电元件的耐久性。
• 腐蚀试验：对元件进行盐雾喷淋，以评估其抗腐蚀能力。
• 焊接性能测试：测量焊点的强度和外观，以确保焊接质量。

涉及产品：

• 电子设备中的接插件
• 开关与继电器
• 电缆连接器及相关装置
• 其他机电元件，如电阻、电容等

该标准为机电元件在电子设备中的应用提供了详细的测试规程和测量方法，以确保产品在不同环境条件下的可靠性和使用寿命。

GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验的基本信息

标准名：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验

标准号：GB/T 5095.6-1997

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1997-01-02

实施日期：1998-10-01

标准状态：现行

GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验的简介

本标准规定的试验方法，在TC48范围内的电子设备用机电件的详细规范要求时，应给以采用。类似件的详细规范要求时，也可以采用。GB/T5095.6-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和锡焊试验GB/T5095.6-1997

GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验的部分内容

中华人民共和国国家标准

GB/T5095.1~5095.9—1997

idtIEC512-1~512-9

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

Electromechanical components for electronic equipmentBasic testing procedures and measuring methods1997-12-26发布

1998-10-01实施

国家技术监督局发布

GB/T5095.6-1997

本标准等同采用1EC512-6：1984《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分：气候试验和锡焊试验》，是对GB5095.6—86进行的第一次修订。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口。本标准由电子工业部标准化研究所负责起草。本标准主要起草人：余玉芳、汪其龙、张菊华、王玉堂。54

GB/T5095.6-1997

IEC前言

1）IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的间题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决议或协议以标准，技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会认可。

3）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。IEC引信

国际标准IEC512-4由IEC/TC48（电子设备用机电元件）制定的。本标准是整套标准的第6部分。

本标准与第1部分：总则（1EC512-1:1984)同使用。整套标准包括的其他试验项目在IEC512-1的附录A中给出了总的计划。这紫试验项目在制定后就发布。

本标准预定取代IEC130-1《额率低于3MHz连接器第1部分：一般要求和试验方法》中相应的试验项目。

1973年在伦敦召开的会议上讨论了试验11a的草案后形成文件48(CO)124，在1974年7月发往各国家委员会按\六个月法\表决。对试验11a的修订提案48(CO)260在1982年5月发往各函家委员会按“六个月法”表决。

1975年6月在东京召开的会议上讨论了试验11b的草案，其结果在1976年7月按加速程序表决后形成文作48(CO)215，在1977年5月发往各国家委员会按\六个月法\表决。1973年9月在伦敦召开的会议上讨论了试验11c的草案后形成文件48(C())125，在1974年7月发往各国家委员会按“六个月法”表决。1973年9月在伦敦召开的会议上讨论了试验11d的草案后形成文件48(CO)126，在1974年7月发往各国家委员会按“六个月法”表决。1973年9月在伦敦召开的会议上讨论了试验11e的章案后形成文件48(CO)127，在1974年7月发往各国家委员会按“六个月法”表决。55

GB/T5095.6-1997

1973年9月在伦敦召开的会议上讨论了试验11f的草案后形成文件48(CO)140，在1974年8月发往各国家委员会按六个月法\表决。1973年9月在伦敦召开的会议上讨论了试验11i的草案后形成文件48(CO)141，在1974年8月发往各国家委员会按“六个月法”表决，其修订文件48(CO)189在1975年9月发往各国家委员会按“二个月程序”表决。

1973年9月在伦敦召开的会议上讨论了试验11j的草案形成文件48(CO)142，在1974年8月发往各国家委员会按“六个月法”表决，其修订文件48(CO)190在1975年9月发往各国家委员会按“二个月程序”表决。

1975年6月在东京召开的会议上讨论了试验11k的草案后形成文件48(CO)199，在1976年5月发往各国家委员会按“六个月法”表决。1981年6月在蒙特利尔召开的会议上讨论了试验11m的草案后形戒文件48(CO)260，在1982年5月发往各国家委员会按“六个月法”表决。1981年6月在蒙特利尔召开的会议上讨论了试验11n的草案后形成文件48(CO)255，在1981年12月发往各国家委员会按“六个月法”表决。1981年6月在蒙特利尔召开的会议上讨论了试验12a、12b、12c、12d和12e的草案，形成文件48(CO)251，在1981年12月发往各国家委员会按“六个月法\表决。对试验12a、12e的修订文件48(CO)270，在1983年1月发往各国家委员会按“二个月程序\表决。56

GB/T 5095.6—1997

对上述中央文件费同（或反对)发布的各国家委员会如下国家

试验号

文件号

48(CO)

阿粮菇

澳大利亚

奥地利

比利时

保家利亚

加拿大

捷克斯洛伐克

匈牙利

以色列

意大利

北朝鲜

新西兰

葡嬰牙

罗马尼亚

西班牙

南斯拉夫

反对。

GB/T5095.6--1997

引用标准·

GB/T5095.2—1997

GB/T5095.5—1997

IEC 68-2-1

IEC 68-2-2

IEC 68-2-3

IEC68-2-10

IEC 68-2-11

基本试验规程及测量方法

电子设备用机电元件

连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验第2部分：一般检查、电

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分：撞击试验（自由元件)、静负荷试验（固定元件)、寿命试验和过负荷试验基本环境试验规程，第2部分：试验一试验A；低温试验B：高温

试验Ca；稳态湿热

试验J：长霉

试验Ka：盐雾

试验M：低气压

IEC 68-2-13

IEC 68-2-14

IEC68-2-20

IEC68-2-30

试验N：温度变化

试验T：锡焊

试验Db和导则：循环湿热

试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验IEC 68-2-39

IEC352-1

一般要求，试验方法和实用导则无焊连接，第1部分：无焊绕接连接58

中华人民共和国国家标准

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第6部分：气候试验和锡焊试验

Electromechanical components for electronic equipmentBasic testing procedures and measuring methodsPart 6:Climatic tests and soldering testsGB/T.5095.6

idtIEC512-6:1984

代替GB5095.6—86

本标准规定的试验方法，在TC48范围内'的电子设备用机电元件的详细规范要求时，应给以采用。类似元件的详细规范要求时，也可以采用。第一篇

气候试验

试验11a:气候序列（已制定为IEC512-11-1,因此除）试验11b：低温/低气压/湿热连续综合试验2

2.1目的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件承受某些条件时及其后是否能以规定方式工作的能力。在某种程度上，这些条件可于上升或下降的飞行器内各处出现，但是在非加热和/或非密封区域中特别严酷。

2.2试验样品准备

试验样品按详细规范的规定接线。如果试验样品的零件另外要求防护（例如气密封固定连接器接触件尾部区域），应按详细规范的规定进行防护。为了进行详细规范所要求的监测，应作必要的安置。试验样品的状态，例如操作或不操作、连接器是否要插入或拔出，要符合详细规范的要求。2.3试验方法

*TC48的范围：制定用于通信设备和采用类似技术的电子装置的具有机电连接和开关功能的相关元件的国际标准。

R.F.连接器应不属于该技术委员会·由TC46与R.F.电缆一同制定。1

晶体或电子管之类元件的插座由相关技术委员会考虑，2

国家技术监督局1997-12-26批准1998-10-01实施

GB/T5095.6-1997

当详细规范要求预处理时，元件应按规定进行。元件应以详细规范规定的态势放入试验箱中。详细规范要求的功能检查或测量应在条件试验开始之前进行。

如有极化电压要求，应按详细规范的规定加上。因此而导致的任何漏电流不予考患。在条件试验过程中元件应不传输电流，详细规范规定的功能检查必要时则除外。然后，元件承受IEC68-2-39中规定的条件试验。低温、低气压的极限值由详细规范规定。在Z/AMD试验中规定的转换处，按详细规范的规定进行功能检查和测量，在条件试验完结时也立即进行。

2.4需要规定的细节

详细规范要求本项试验时应规定下列细节：a)）预处理(如果有要求)；

b）要采用的导线的型别和尺寸；c）试验样品准备，包括元件的零件要防护的细节（如有要求）；d）要试验的元件所处的态势；

e）最初检测；

）极化电压；

g）操作条件；

h）要求的测量；

i）温度及气压；

j)循环次数；

k）与标准试验方法有何不同之处。试验11e：稳态湿热

3.1月的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件在高相对湿度条件下按规定的方法储存及（或）工作的能力。

试验样品准备

3.2.1机械准备

配上常用附件的试验样品应按详细规范的规定安装和接线。当详细规范有要求时，在试验前按规定的次数操作试验样品。在进行每

一项试验时，详细规范中应明确规定样品的状态。例如：操作或不操作、插合或不插合等。3.2.2预处理

应按详细规范的要求进行预处理。3.3试验方法

3.3.1初始检测

当详细规范有要求时，试验样品应在预处理后立即在试验的标准大气条件下进行规定的初始检测。3.3.2条件试验

应按IEC68-2-3\试验Ca\的规定，采取规定的严酷等级对试验样品进行恒定湿热试验。3.3.2.1极化电压

当详细规范规定时，在条件试验过程中对试验样品中的两个加上极化电压。将这些试验样品的引出跨交错地联成两组并接上导线。在第一号试验样品的第一组引出端和与外壳及（或)安装板面连接在一起的第二组之间加上极化电在第二号试验样品的第二组引出端和与外壳及（或)安装板面连接在一起的第一组之间加上极化电、

GB/T5095.6-1997

对于旋转开关，极化电压的施加点按详细规范的规定。3.4

最后检测

试验样品应承受GB/T5095中有关各部分所叙述的下列试验，并应符合详细规范所规定的要求：a）绝缘电阻（试验3a)）；

b）耐电压(试验4a)；

c）接触电阻（试验2)，如适用；d）机械操作试验（试验13)，如适用；e）外观检查（试验la)。

1前两项检测应在最后恢复期后立即进行。详细规范要束时，试验样品仍处在试验箱内进行a项测量。N

试验样品在暴露后，第一次测量接触电阻之前不应给以扰动。详细规范要求时，应将试验样品操作3次后进行电连续性和接触电阻试验。4

需要规定的细节

详细规范要求本项试验时应规定下列细节：a）试验样品的安装和接线方法；b）试验样品的操作条件；

c）预处理时间及操作次数，如适用；d）条件试验严酷等级；

e）极化电压值，旋转开关的加电压点；f）初始检测；

g）需要采用的接触电阻测试方法；h）试验3a和试验4a中要进行试验的接触件；i）条件试验中的测量，如适用；i）需要采用的机操作试验；

k）最后检测的要求；

1）与标准试验方法有何不同之处。试验11d：温度快速变化

是确立详细的标准试验方法，以评定元件耐受在储存、运输和使用中可能发生的空气温度急变的能力。

4.2试验样品准备

4.2.1机械准备

配上常用附件的试验样品应按详细规范的规定安装和接线。当详细规范有要求时，在试验前按规定的次数操作试验样品。在进行每一项试验时，详细规范中应明确规定试验样品的状态，例如：操作或不操作、插合或不插合等。

4.2.2预处理

应按详细规范的要求进行预处理。4.3试验方法

4.3.1初始检测

GB/T5095.6—1997

当详细规范要求时，试验样品应在预处理后立即在试验的标准大气条件下进行规定的初始检测。条件试验

应按IEC68-2-14中\试验Na\进行试验。在高、低温中暴露的时间和循环次数应按详细规范的规定。4.4

最后检测

试验样品应承受GB/T5095中有关各部分所叙述的下列试验、并应符合详细规范的要求：a）耐电压(试验4a)；

b）绝缘电阻(试验3a)；

c）外观检查(试验la)；

d)操作特性。

需要规定的细节

详细规范要求本项试验时应规定下列细节：a）试验样品的接线和安装方法；b）预处理时间和操作次数，如适用；c）条件试验严酷等级；

d）初始检测；

e）试验过程中试验样品的操作条件：f)恢复时间：

g）最后测量和要求；

h）与标准试验方法有何不同之处。试验11e：长需

5.1目的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件受到霉菌繁殖时影响其功能的程度和效果。试验样品准备

试验样品应按详细规范的规定进行安装。当详细规范有要求时，在试验前按规定的次数操作试验样品。在进行每一项试验时，详细规范中应明确规定试验样品的状态。例如：操作或不操作、插合或不插合等。

初始检测

试验样品应按GB/T5095.2—1997中试验3a的规定测量绝缘电阻，其阻值应在详细规范中给以规定。

5.4试验方法

应按IEC68-2-10中\试验J：长霉试验方法”的规定进行试验。试验的持续时间应在详细规范中规最后检测

试验样品应承受GB/T5095中有关各部分所叙述的下列试验，并应符合详细规范所规定的要求。a）绝缘电阻(试验3a)；

b）外观检查(试验1a)。

5.6需要规定的细节

详细规范要求本项试验时应规定下列细节：a）试验样品的安装方法；

b）操作条件；

c）初始检测；

d）黎露的持续时间；

GB/T 5095.6—1997

e）最后检测的要求；

f）与标准试验方法有何不同之处。6试验11f：盐雾腐蚀

是确立详细的标准试验方法，以评定试验样品在有控制的盐雾中其表面所受的影响。在本试验之后不进行电气试验，但是详细规范有要求时，可以进行如GB/T5095.5-1997中“试验9a机械操作试验”，以评定对试验样品机械功能的影响。试验样品准备

试验样品应按详细规范的要求进行准备和安装。等。

详细规范有要求时，详细规范中应明确规定试验样品处理条件。例如：操作或不操作、插合或不插合6.3

试验方法

应按IEC68-2-11中\试验Ka：盐雾试验方法”进行试验。6.4

最后检测

当试验样品完成了上述试验并按规定用蒸馏水洗净和干燥后，应按GB/T5095.2—1997中试验1a进行外观检查，要特别注意下列细节：a)）龟裂；

b)起皮；

c）暴露的金属表面的腐蚀点。

需要规定的细节

详细规范要求本项试验时应规定下列细节：a）试验样品的准备、安装及放置方法；b）暴露持续时间；

e)要求；

d）与标准试验方法有何不同之处。试验11g：工业大气腐蚀（已制定为IEC512-11-7，因此删除）7

8试验11h：砂尘（已制定为IEC512-11-8.因此副除）9试验11i；高温

9.1目的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件在规定的高温条件下按规定方式贮存及工作的性能。9.2

试验样品准备

9.2.1机械准备

配上常用附件的试验样品应按详细规范的规定安装和接线。当详细规范有规定时，在试验前按规定的次数操作试验样品。在进行每一项试验时，详细规范中应明确规定试验样品的状态。例如：操作或不操作、插合或不插合等。

预处理

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

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检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

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