GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范-检测标准-检测项目-北检院

标准中涉及的相关检测项目

在标准《GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范》中，提到了多个相关的检测项目，检测方法以及涉及的产品类型。以下是详细的说明：

检测项目：

外观检查
电性能检查，包括电容量、损耗角（Dissipation Factor）、绝缘电阻等
耐电压测试
温度特性测试
耐湿测试
绝缘电阻及耐压测试
寿命测试
耐振动及冲击测试
机械强度测试

检测方法：

标准化的外观检查方法
使用LCR电桥进行电容量和损耗角的测量
恒定湿度箱进行湿度应力测试
温箱进行温度特性测试
加电压进行耐电压测试
使用电阻计进行绝缘电阻测量
振动台和冲击台测试机械强度
寿命测试通常在加速老化条件下进行，以模拟长期使用效果

涉及产品：

陶瓷电容器
铝电解电容器
薄膜电容器
钽电容器
多层陶瓷电容器
其他用于电子设备的固定电容器

这些检测项目和方法确保电容器在各种工作条件下的可靠性和性能表现符合标准要求，从而保障电子设备的正常运行。

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范的基本信息

标准名：电子设备用固定电容器第1部分：总规范

标准号：GB/T 2693-2001

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1981-07-01

实施日期：2002-05-01

标准状态：现行

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范的简介

本标准适用于电子设备用的固定电容器。本标准规定了适用于质量评定电子器件的分规范和详细规范中使用的标准术语、检验程序和试验方法，本标准也可用于任何其他用途的分规范和详细规范。GB/T2693-2001电子设备用固定电容器第1部分：总规范GB/T2693-2001

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范的部分内容

GB/T 2693-2001

本标准是根据国际电工委员会IEC60384-1：1999《电子设备用固定电容器第1部分：总规范》编制的，其技术指标与编写格式与之等同。本标准是对GB/T2693—1990进行的第二次修订，主要修改内容如下：名词术语中增加了：“阻燃性、助燃性和阻燃性的类别”；质量评定程序中增加了：“分包、能力批准程序、返工和返修、IECQ的NSI地理区域外的制造厂和批准范围内中间值”等内容；

试验和测量程序中增加了：“介质吸收、加速稳态湿热、阻燃性、高浪涌电流和电压瞬时过载”等试验内容；

增加了附录C和附录D。

本标准从实施之日起，同时代替GB/T2693—1990。本标准的附录 A、附录B、附录C和附录D是标准的附录。本标准的附录E和附录F是提示的附录。本标推由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会归口。本标准由中国电子技术标准化研究所负责起草。本标准主要起草人：李舒平。

本标首次发布时间是1986年，并于1990年进行了第一次修订。106

GB/T2693-2001

IEC 前言

1）IEC（国际电工委员会）由各国家电工委员会（IEC国家委员会）组成的世界性标准化组织。IEC的目的是促进电工电子领域标准化问题的国际合作，为此目的，除其他活动外，IEC发布国际标准，国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。IEC与有联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织(ISO))根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。2）IEC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。3）这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会认可。

4）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。5）IEC未制定使用认可标志的任何程序。当宣称某一产品符合相应的IEC标准时，IEC概不负责。6）注意，本标准中的某些部分可能涉及专利权。IEC不负责标识任何专利权。国际标准IEC60384-1是IFC第40技术委员会（电子设备用电容器和电阻器）制定的。第三版代替第二版（1982年）。本标准文本以下列文件为依据

最终国际标准草案

40/1057/FDIS

表决报告

40/1108/RVD

表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。本标准封面上的QC号为IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）的规范号。附录A、附录B、附录 C和附录D为标准的附录。附录E和附录F为提示的附录。

1总则

1.1范围

中华人民共和国国家标准

电子设备用固定电容器

第1部分：总规范

Fixed capacitors for use in electronic equipment-.Part 1:Generic specification本标准适用于电子设备用的固定电容器。GB/T 2693—2001

idt IEC 60384-1:1999

代替GB/T2693--1990

本标准规定了适用于质量评定电子元器件的分规范和详细规范中使用的标准术语、检验程序和试验方法，本标推也可用于任何其他用途的分规范和详细规范。1.2引用标准

下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。对于IEC60068采用指定版本。而不采用以后出版的新版本和修改单。GB/T2691—1994电阻器和电容器的标志代码（idtIEC60062：1992）GB/T2471-1995电阻器和电容器优先系数（idtIEC60063：1963.包括第一号修改单（1967），第二号修改单（1977)）

GB5076—1985具有两个轴向引出端的圆柱体电容器的尺寸测量（idtIEC60294：1969）IEC60027-1：1992电工技术用文字符号第1部分：总则IEC60050：国际电工词汇

IEC60068-1：1988环境试验第1部分：总则和导则第一号修改单（1992）

IEC60068-2-1：1990环境试验　第2部分：第号修改单（1993）

第二号修改单（1994）

试验试验 A;寒冷

IEC60068-2-2：1974环境试验第2部分：————试验试验B：干热

第一号修改单（1993)

第二号修改单（1994）

IEC60068-2-3:1969环境试验

第2部分：

第一号修改单（1984）

IEC60068-2-6:1995环境试验

IEC60068-2-13:1983环境试验

IEC60068-2-14:1984环境试验

第一号修改单（1986）

IEC 60068-2-17:1994

环境试验

第2部分：

第2部分：1

试验Ca：稳态湿热

试验Fc：振动（正弦）

试验M：低气压

第2部分：—试验

第2部分：

试验N：温度变化

试验Q：密封

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局2001-11-02批准108

2002-05-01实施

IEC60068-2-20:1979环境试验

第二号修改单（1987）

GB/T2693-2001

第2部分：-——试验

试验T：焊接

试验U：引出端和整体安装件的强度位第2部分：——-试验

IEC60068-2-21:1983环境试验

第二号修改单（1991）

第三号修改单（1992）

IEC60068-2-27:1987环境试验第2部分：--试验试验Ea和导则：冲击IEC60068-2-29：1987环境试验第2部分：--试验试验Eb和导则：碰撞第2部分：-—·试验试验Db和导则：循坏湿热（12h+十12h1EC60068-2-30：1980环境试验

循环）

第--号修改单（1985）

IEC60068-2-45：1980环境试验第2部分：—试验试验XA和导则：在清洗剂中浸渍第一号修改单（1993）

IEC60068-2-47:1982环境试验第2部分：元件、设备及其他产品在冲击（Ea），碰撞（Eb），振动(Fc和Fd）及恒定加速度（Ga）等力学试验中的安装要求和导则环境试验第2部分试验：试验一

IEC 60068-2-58:1989E

安装元器件（SMD)耐焊接热

-Td：可焊性，金属化层耐溶剂性及表面IEC60249-2-4:1987印制电路用基材第2部分：分规范一-第四篇：通用的环氧玻璃纤维覆铜层压板

IEC60410：1973计数检查抽样方案和程序IEC60469-1:1987脉冲技术和仪器-·第1部分脉冲术语和定义IEC60469-2:1987脉冲技术和仪器--第2部分脉冲测量和分析IEC60617电气图用图形符号

一般条件

IEC60695-2-2：1991着火危险试验——第2部分试验方法--第2章：针焰试验第一号修改单（1994）

IEC60717:1981确定单向引出端电容器和电阻器所需空间的测定方法IEC61760-1:1998表面安装技术——第1部分对于表面安装元件规范的标准方法IECQC001002-3：1998电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则———第3部分批准程序IECQC001003导则文件

1ECQC001005按IECQ体系（包括IS0）9000）批准的制造商、产品及服务的注册表IS(）1000:1992SI单位及其倍数单位和一些其他单位的应用推荐ISO9000质量管理体系

2技术信息

2.1单位和符号

单位、图形符号和文字符号应尽可能从下列标准中选取。IEC 60027.IEC 60050.IEC60617.ISO 1000,需要更详细的单位、图形符号和文字符号、应按上述文件的原则导出。2.2定义

本标准采用下列定义。

2.2.1类型 type

具有相似的设计特征和制造工艺，在鉴定批准或质量致性检验中能把它们组合在起的一组电容器。

这些电容器通常用一个单独的详细规范来概括。109

GB/T 2693—2001

注：在某些情况下，儿个详细规范所规定的电容器可以认为是属于同一类型的。2.2.2品种style

通常根据尺寸因素对某一类型的电容器再划分，一个品种可以包括几个规格，通常是机械方面的。2.2.3等级grade

表示预定用途的附加一般特性的术语。“等级”这个术语只能与一个或多个词组合起来使用（如长寿命等级），而不可以单独用字母或数字来表示。2.2.4门类（电子元件的）family（of electronic components）突出地表明某一特定的物理特性和（或)完成某一规定功能的一组电子元件。2.2.5分门类（电子元件的）sub family(of electronic components）在某一门类内用相似的工艺方法制造的一组电子元件。2.2.6直流电容器d.c.capacitor主要设计用于直流电压的电容器。注：直流电容器不适合用于交流电源。2.2.7极性电容器（适用于电解电容器）polarcapacitor（forelectrolytic capacitors）使用时按照极性指示电压连接的电容器。2.2.8双极性电容器（适用于电解电容器）bipolar capacitor（ for electrolytic capacitors）设计能经受交流电压和（或）外加直流电压的方向可以改变的一种电解电容器。2.2.9交流电容器a.c.capacitor主要设计用于交流电压的一种电容器。2.2.10脉冲电容器pulse capacitor用于脉冲电流或脉冲电压的一种电容器。注：采用IEC60469-1和IEC60469-2的定义。2.2.11标称电容量(Cr）rated capacitance（Ck）电容器设计所确定的和通常在电容器上所标出的电容量值。2.2.12类别温度范围category temperature range电容器设计所确定的能连续工作的环境温度范围。这里以下限类别温度和上限类别温度给定。2.2.13下限类别温度lower category temperature电容器设计所确定的能连续工作的最低环境温度。2.2.14上限类别温度upper category temperature电容器设计所确定的能连续工作的最高环境温度。2.2.15额定温度rated temperature可以连续施加额定电压的最高环境温度。2.2.16 额定电压(d.c.)(Ur） rated voltage (d.c.）(Ur)在下限类别温度和额定温度之间的任一温度下，可以连续施加在电容器上的最大直流电压或脉冲电压的峰值。

2.2.17类别电压(Ue） category voltage（Ue）电容器在上限类别温度下可以连续施加在电容器上的最高电压。2.2.18 温度降额电压temperature deraled voltage在额定温度和上限类别温度之间的任一温度下，可以连续施加在电容器上的最高电压。注：如果适用，应在有关规范中给出额定温度和上限类别温度之间的电压温度曲线。2.2.19 浪涌电压比surge voltage ratio在类别温度范围内的任一温度下，在规定的时间内可以加到电容器引出端上的最高瞬时电压与额定电压或温度降额定电压（按适用）的比。110

GB/T 2693-—2001

注：每小时可施加该电压的次数应予以规定。2.2.20额定纹波电压rated ripple voltage叠加在直流电压上的一种规定频率的最大允许交流电压有效值，在该电压下电容器在规定的温度下可以连续工作。

注：加在电容器上的直流电压和交流电压的峰值之和应不超过额定电压或适用的温度降额电压。2.2.21反向电压（仅对极性电容器）reverse voltage（for polar capacitors only）施加在电容器引出端上与极性方向相反的电压。2.2.22额定纹波电流 rated ripple current一种规定频率的最大允许交流电流的有效值，在该电流下电容器可在规定温度下连续工作。2.2.23时间常数time constant

绝缘电阻和电容量的乘积，通常以秒表示。2.2.24损耗角正切(tan ）tangent of loss angle（tan )在规定频率的正弦电压下，电容器的损耗功率除以电容器的无功功率。2.2.25自愈 sulf-healing

电容器的介质局部击穿之后，电容器的电特性迅速地和基本上恢复到击穿之前数值的过程。2.2.26电容器的最高温度maximum temperature of a capacitar电容器外表面最热点的温度。

注：电容器的引出端被认为是外表面的一部分。2.2.27电容器的最低温度maximumtemperatureof a capacitor电容器外表面最冷点的温度。

注：电容器的引出端被认为是外表面的一部分：2.2.28最低贮存温度minimum storage temperature电容器在非工作状态下不出现损伤应能承受的允许最低环境温度。2.2.29最高贮存温度maximum storage temperature最高贮存温度等于电容器的上限类别温度。2.2.30电容量随温度的变化variation of capacitance with temperature电容量随温度的变化可以用电容量温度特性或电容量温度系数表示。2.2.37电容量温度特性temperature characteristic of capacitance电容量温度特性是在一个不超出类别温度范围的给定温度范围内，所出现的电容量最大可逆变化。一般此变化表示为相对20C时电容量的百分比。注：该术语主要适用于电容量随温度而线性和非线性变化，且不能精确和肯定地表示出来的电容器。2. 2. 32 电容量温度系数(α） ternperature coefficient of capacitance在规定的温度范围内测量的电容量随温度的变化率。通常用10-6/ C表示。注：该术语主要适用于电容量随温度而线性和非线性变化，且不能精确和背定地表示出来的电容器。2.2.33电容量温度循环漂移temperature cyclic drift of capacitance在规定的温度循环次数完成期间或结束之后，在室温下所观测到的电容量的最大不可逆变化。这种不可逆变化通常是用与基准温度有关的电容量的百分比表示，基准温度通常是20C。注

1该术语主要适用于电容量随温度而线性和非线性变化，且不能精确和背定地表示出来的电容器。2应规定温度循环期间和循环之后的测量条件、温度循环的方法和循环次数。2.2.34可见损伤visibledamage

针对电容器预期的用途，降低其使用性的可见损伤。2.2.35额定交流负荷　rated a.c.load额定交流负荷是在下限类别温度和额定温度（见2.2.15）之间的任何温度下可以连续地施加在电111

GB/T2693--2001

容器引出端上的最大正弦交流负荷。它可以表示为：a）在低频时为额定交流电压；

b）在高频时为额定交流电流；

c）在中频时为额定无功功率。

对此可用图1表示：

无功功率极限值

图1无功功率与频率的关系

1对于具体类型的电容器，规定上述特性的一种或几种可能是必要的。电

2本规范范围内的电容器通常频率是50Hz～60Hz，无功功率小于500var.低频可以是50Hz～60Hz,100Hz~120Hz或400Hz在50Hz～60Hz时电压可达600V有效值。但是对于滤波器、发射机或变换器电路用电容器，可以在很宽频率范围的电源下工作。在高频且电压高达1000V有效值时，无功功率可达10kvar。2.2.36额定脉冲负荷rated pulse laad额定脉冲负荷是在下限类别温度和额定温度（见2.2.15)之间的任一温度下，可以在某一脉冲重复频率下，在电容器引出端上施加的最大脉冲负荷。它可以用a)和b)以及其他任何一项表示：a）每微法脉冲峰值电流或du/dt（V/ms）;b）充电和放电周期的相对持续时间；c）电流；

d）电压蜂值：

e）反向电压的蜂值；

f）脉冲重复频率（见注1)；

g）最大有功功率。

对于周期性脉冲，这些参数是固定的。注

对间歇脉冲，应该规定占空系数。对随机脉冲，应规定给定周期内预计的脉冲总数、2脉冲电流有效值应按IEC 60469-1:1987的 2. 5.2.4 计算。间歇或随机脉冲时间间隔的选择应与最大温升椎对应。

2.2.37电容器的脉冲等效电路pulse equivalent'circuit of a capacitor电容器的脉冲等效电路是由一个理想的电容器与剩余电感和等效串联电阻（ESR)串联组成。注：对脉冲工作而言，等效串联电阻与用正弦电压测得的等效申联电阻相似但不相等。脉冲等效串联电阻，应考虑到脉冲中的一系列谐波和损耗随频率的变化。2. 2.38温升temperature rise

电容器在交流或脉冲条件下工作时，由于电容器的损耗而引起的电容器的温度相对于环境温度的升高。

2.2.39绝缘型电容器insulatedcapacitor绝缘型电容器是指电容器芯子的所有引出端，与正常使用时易于接触的电容器外壳上任何导体表112

GB/T 2693--2001

面之间可能升高到某一可能电位差（但不低于额定电压）的电容器。2.2.40非绝缘型电容器uninsulated capacitor非绝缘型电容器是指电容器芯子的一个或多个引出端，与正常使用时易于接触的电容器外壳上任何导体表面之间不可能升高到某一可能电位差（但不低于额定电压）的电容器。2.2.41表面安装电容器surfacemount capacitor适于在混合电路中和印制板上使用的一种小尺寸和各种引出端形式的固定电容器。2.2.42阻燃性passive flammability元件耐受外部热源引起燃烧的能力（如火焰）。2.2.43助燃性active flammability由元件内部热源引起的燃烧（自己引燃）（如由不适当的内部连接引起的火花）。2.2.44阻燃性的类别 category of passive flammability阻燃性的类别应按施加规定时间的火焰后最长燃烧时间来分类。2.3优先值

2.3.1概述

每个分规范应规定适用于分门类的优先值，对于标称电容量按2.3.2的规定。2.3.2标称电容量的优先数值

标称电容量的优先数值应从GB/T2471规定的数系中选取。2.4标志

2.4.1概述

分规范应规定在电容器和（或）包装上要求标出的标志的准则或其他内容。应规定在小电容器上标志的优先顾序。2.4.2代码

当电容量的数值、允许偏差或制造日期用代码时，其方法应从GB/T2691中选取。3质量评定程序

3.1概述

当本标准及任一相关标准使用某一个完整的质量评定体系时，例如：国际电工委员会电子元件质量评定体系（IECQ），应符合3.5或3.6的要求。当这些标准文件用于不属于上述质量评定体系范围时，例如：设计验证或定型试验，可以采用3.5.1和3.5.3b）的程序和要求。但是，各项试验和试验的各部分应按试验-一览表中给出的频序进行。在电容器确认符合这些条款的程序之前，制造厂应按IECQC001002-3的规定获得批准1对于电容器的质量评定批准可采用下列两种方法：a）按IECQC001002-3：1998的第3章进行鉴定批准；b）按IECQC001002-3：1998的第4章进行能力批准。对于电容器的一一个分门类，鉴定批准和能力批准必须有独立的分规范，并且，只有已经颁布了有关分规范时才能使用能力批推。

3.1.1鉴定批准的适用范围

鉴定批准适用于同一详细规范中采用相似设计和工艺制造的标准范围的电容器。按3.5和相关分规范规定，详细规范针对相应的质量评定水平和性能水平规定的试验程序直接用于被鉴定的电容器。

3.1.2能力批准的适用范围

能力批推适用于基于同一设计规范，采用同一工艺制造的电容器。能力批准特别适用于按用户特殊要求制造的电容器。

能力批准详细规范分为以下三类：GB/T 2693--2001

3.1.2.1能力批准元器件（CQC)(包括过程确认的试验装置）的详细规范国家监督检查机构（NSI）认可的每个能力批准元器件应编制一份详细规范。详细规范应规定能力批准元器件的用途，并包括所有的相关试验严酷等级和范围。、3.1.2.2标准目录元器件

当制造厂要求电容器按能力批准程序获得批准并列人批准的IECQ注册目录时，应编制与空白详细规范一致的能力批准详细规范。这种规范应由IECQ注册，而且其中电容器应列人按IECQ体系（包括IS09000）批准的IECQC001005中。3.1.2.3定制的特殊元器件

详细规范（一般称为定制详细规范（CDS))的内容应按IECQC001002-3:1998中4.4.3规定，由制造厂与用户进行协商。

详细规范中较详细内容由相关分规范给定。能力批准是在确认设计规范、工艺和质量控制程序、以及能力批准元器件的试验结果，包括所有过程确认的试验装置的基础上，对制造设施给予批准。详细内容见3.6和相关分规范。3.2初始制造阶段

初始制造阶段应在分规范中规定。3.3分包

初始制造阶段和（或）以后接着阶段采用分包时，应符合IECQC001002：1998-3中4.2.2规定。分规范可按IECQC001002-3：1998中4.2.2.2要求限制分包。3.4结构相似元件

对于鉴定批准试验，或鉴定批准和能力批准的质量一致性检验，应在相关分规范中规定对结构相似元件分组。

3.5鉴定批准程序

3.5.1鉴定批准的资格

制造厂应符合IECQC001002-3：1998中3.1.1的要求。3.5.2鉴定批准申请

制造厂应符合IECQC001002-3：1998中3.1.3的要求。3.5.3鉴定批准试验程序

应采用下列两种程序中的一种：a）制造厂应在尽可能短的时间内进行三个批次的逐批检验以及一个批次的周期检验以证实符合规范要求在检验批的抽取期间，制造工艺应无重大改变。样本单位应按IEC60410规定从批中抽取（见附录A）。授予鉴定批准的电容量范围和电压范围应根据在抽样时所采用的分规范规定的抽样程序来确定。应采用正常检查，但当样本太小按零个不合格品予以接收时，应增加样本单位以满足按一个不合格品予以接收所需要的样本大小。b）制造厂应按分规范中给出的固定样本大小试验一览表进行试验，以证实符合规范要求。构成样本的样本单位应从现行生产的产品中随机抽取或按NSI批准的方式抽取。对于上述两种程序，其样本大小和允许的不合格品数量应相匹配。试验条件和要求应相同。3.5.4鉴定批准授子

按IECQC001002-3：1998中3.1.4程序已圆满地完成后，应授予鉴定批准。3.5.5鉴定批准维持

鉴定批准应采用符合质量一致性要求（见3.5.6）的常规试验来维持。3.5.6质量致性检验

GB/T 2693-2001

隶属于分规范的空白详细规范应规定质量一致性检验的试验一览表。这个一览表应规定逐批检验和周期检验的分组、抽样和周期。除耐久性之外，在C组检验的所有分组中允许采用简化C组检验的转换规则。应选取IEC60410规定的抽样方案和检验水平。若需要，可规定多个一览表。

3.6能力批准程序

3.6.1概述

能力批推固定电容器的技术包括：一完整设计，材料制备和制造技术（包括控制程序和检验）：对过程和产品所声明的性能范围，也就是针对能力鉴定元器件（CQC)和过程控制参数（PCP）声明的性能范围；

一授予批准的机械结构范围。

3.6.2能力批准的资格

制造厂应符合IECQC001002-3:1998中4.2.1的要求。3.6.3能力批准的申请

制造厂应符合IECQC001002-3：1998中4.2.4和相关分规范的要求。3.6.4能力描述

能力应在按IECQC001002-3：1998中4.2.5编制的能力手册中描述，相关分规范应规定下列细节：

制造厂应按附录D编制使NSI满意的手册，并且用分规范来补充描述相关技术能力。手册中应包括下列内容或者说至少有下列内容：所涉及技术的一般介绍和描述；与用户联系的各方面工作，其中包括制定设计规范（若适用），帮助用户将其要求格式化，一详细描述应该采用的设计规则；一一检查制造电容器的设计规则是否符合详细规范所规定相关制造方法的程序；所用全部材料清单，包括列出相应的采购规范和来料检验规范；全部过程流程图。注明质量控制点和允许返工程序，同时还包括所有过程和质量控制的程序文件。

一一按分规范对过程批准提出申请；一按相关分规范的要求对批准范围提出申请；-一评定能力所采用的CQC清单，其中涉及每一CQC和有关支撑材料的概述;—-表明由某一具体CQC设计证实的所宣布能力范围的详细表格；每一CQC的详细规范；

详细控制方案，包括过程控制中采用PCP（过程控制参数）、每一PCP的一般说明，还要表明已给定的PCP与成品电容器的特性和性能的关系；质量一致性检验抽样过程中使用结构相似性的导则；NSI应将能力手册作为机密文件，制造厂若愿意，可以对第三方公开手册的部分或全部内容。3.6.5能力证实和验证

制造厂应按下列细则来证实其能力是否符合IECQC001002-3：1998中4.2.6及相关分规范的规定：

3.6.5.1证实能力用的CQC

证实能力手册中规定的能力范围所必须的过程控制参数和能力批准元件应由制造厂和NS1协商确定。

GB/T 2693-2001

对已协商的CQC范围应进行试验来证实，CQC应按能力手册进行设计、制造和控制其过程参数，CQC应符合下列要求：

a）采用的CQC范围应代表所申请能力的全范围。所选的CQC应能证实可获得的各种范围组合；b）CQC应是下述情况中一种：

一证实能力范围组合专门设计的电容器，一通用产品设计的电容器；

一上述两种情况的组合，但应满足a)的要求。对能力批准而专门设计和制造的CQC，制造厂应采用与所放行产品相同设计规范，相同材料和制造过程。

每个CQC应制定一份详细规范，格式应符合附录C的规定。详细规范应写明CQC的目的，并应包括所有相关严醋度和试验范围，它可引用内部控制文件，此文件规定了生产试验和记录要求，以证实对过程和能力范画的控制和维持。3.6.5.2能力范围

相关分规范中应规定能力范围。3.6.6能力批准程序

制造厂应制定对所申请能力的评定程序。该程序应设计成每一申请的范围用一个相应的CQC来验证。该程序应包括下列内容：表明各项批准工作建议时间表的直方图或其他图表，将要采用的所有CQC的细节及其对应详细规范；表明每个CQC所证实的特性的图表；一过程控制所采用的控制方案。能力批准的总览如图2所示。

电客器范图

选择过程控制参激

制定控制方案

开始过程控制

过程控制

初始能力批准

范围验证

选择能力整定元器件

制定能力整定元器件详

细规蔽

制定能力鉴定元器件试

验程序

逐批检验

能力批准总体过程

3.6.7能力批准试验报告

GB/T2693—2001

报告应满足本标准附录D规定的要求并应包括下列内容：能力手册版本号和日期；

按3.6.6的能力批推的程序；

一执行程序期间获得的所有试验结果；—一采用的试验方法；

-失效时（见3.6.10.1)采取措施的报告。报告应由指定的管理者代表（DMR）签署，作为所获得结果的真实证明，并提交给国家指定的能力批准的国家权利机构。

3.6.8能力描述摘要

能力批准被授予后，该摘要将编人正式IECQC001005。该摘要应包括制造厂能力的简要说明并给出有关于已批准的制造厂的技术要求，产品结构的足够信息。

3.6.9可能影响能力批准的更改

任何可能影响能力批准的更改应满足IECQC001002-3：1998中4.2.11的要求。3.6.10初始能力批准

授予批准的条件：

-CQC所选的范围满足CQC详细规范的评定要求，不允许出现不符合项目；一过程控制体系中已全部实施控制计划。3.6.10.1失效时处理程序

见IECQC001002-3：1998中4.2.10及下列细节：当样本单位不符合试验要求时，制造厂应通知NSI，并明确采取下列a）和b)规定措施之一a）对申请的能力范围进行修改；b）研究失效原因，以确定属于以下哪一种原因：一试验本身失效。如试验设备失效或操作错误；设计失效或过程失效。

若失效原因确定为试验本身失效，那么，或者视为样本单位失效，或者在采取必要纠正措施之后。用新的样本单位（按适用）重新进行试验一览表中的试验。该样本单位应按该失效样本单位采用的试验览表中给定顺序进行全部试验。若失效原因确认为设计失效或过程失效，应实施一个试验程序来验证失效原因已消除，已实施所有纠正措施，包括文字工作。当采用纠正措施之后，用新的CQC重复进行发生失效的试验程序。制造厂全部完成上述活动后，应向NSI报告，并附上能力批准试验报告副本（见3.6.7）。3.6.10.2选择PCP和CQC的通用方案每个制造厂应基于相关分规范中给定示例编制过程流程图，过程流程图中包括的全部工序步骤，制造厂应规定相应的控制要求。

制造厂应按相关分规范中给定示例注明控制点。3.6.10.3过程控制试验方案

试验方案应构成制造厂所采用过程控制体系的一部分。当采用统计过程控制(SPC)时，应按SPC基本要求实施，意味着在过程结点上SPC强制控制。对需采用生产设备的每一过程步骤，制造厂应该按规定的间隔控制，并将读取的控制参数与制造厂规定的控制参数与执行的范围进行比较。3.6.10.4CQC验证能力试验方案

证实能力CQC试验方案应在相关分规范中规定。117

现行

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范》中适用范围中的所有样品。