SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范

标准中涉及的相关检测项目

标准《SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范》详细规定了与Jμ8254型集成电路相关的检测项目、检测方法以及涉及的产品种类。以下是一些关键的信息：

• 功能测试：确保计时器的所有功能模块正常工作。
• 电气特性测试：包括电源电压、电流消耗、频率响应等关键电气参数检测。
• 环境适应性测试：测试器件在不同温度、湿度等环境条件下的性能表现。
• 机械特性测试：包括封装、引脚、尺寸等物理特性检测。
• 可靠性测试：长时间运行下的稳定性和故障率测试。

• 使用示波器、逻辑分析仪等设备进行功能测试。
• 通过万用表、电子负载等设备测试电气特性。
• 使用环境试验箱进行如温度循环、湿度试验等环境适应性测试。
• 利用显微镜、测量工具进行物理和机械特性测试。
• 加速老化试验用于评估器件的长期可靠性。

该标准主要涉及Jμ8254型可编程定时计数器，属于半导体集成电路产品。此外，标准中提及的技术和测试方法可能适用于其他类似类型的可编程计时器产品。

SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范的基本信息

标准名：半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范

标准号：SJ 20073-1992

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：1992-11-19

实施日期：1993-05-01

标准状态：现行

SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范的简介

本规范规定了半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。SJ20073-1992半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范SJ20073-1992

SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准SJ20073-92

半导体集成电路

Ju8254型可编程定时计数器

详细规范

1992-11-19发布

1993-05-01实施

中华人民共和国机械电子工业部发布1范围

1.1主题内容·

1.2适用范围

1.3分类

引用文件

3要求

详细要求·

3.2设计、结构和外形尺寸

引线材料和涂覆

电特性

电试验要求…

3.6标患·

3.7微电路组的期分

4质量保证规定

抽样和检验·

4.2筛选…

4.3鉴定检验

4.4质量~致性检验

4.5检验方法

5交货准备

5.1包装要求

6说明事项

6.1、关了测试失量的·般规定

订货资料

6.3功能说明、符号和定义

替代性

IKAONKAa-

中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路

Ju8254型可编程定时计数器详细规范1范围

1.1正题内容

SJ20073—92

本规范规定了长导体集成也路J8254型可编程定时计数器（以下简称器件）的详细要求。

1.2适雁范围

本规范适用下器件的研制、生产和采购。1.3分类

本规范对微电路按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件来分类。1.3.1器件编号

器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定1.3.1.1器件型号

器件型号如下：

器作型号

Ju8254

1.3.t.2器们等级

件名称

可编程定时计数器

器件等级为G.IB597第3.4条规定的B级利本规范规定的B1级。本规范中长对B1级另加说明的条款应理解为与B级相同。1.3.1.3封装形武

封装形式如下：

甘装形式1

D24L3（24引线陶瓷效列封装）

C28P3（陶瓷无引线片式载体封装）：1）按GB70922导体集废电路外形尺寸》。1.3.2绝对联人额定值

绝对最人额宽值如下：

中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19发布1993-05-01实施

任一可出端相对于Ys端电压

贮行温度范用

引线耐焊接温度（5s）

结温（Ts=125 °℃C)

1.3.3推荐工作条件

推荐［作条件姐下：

电源也压

输入高电平电压

输入低也平地压

工作频率

外壳工作温度间

时钟上升时间

时钝下降时间

引用文件

s# 20073--92

GB3431.1—82半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2—86平导体集成电路文字符号引出端功能符号GB4590--84半导体集成电路机械和气候试验方法GB7092—93半导体集成电路外形尺寸GJB548--88微电子器件试验方法租程序GJB597—88微电路总规范

GJB/Z105电子产品防静电放电控制手册3要求

3.1详细婴求

各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸

设计、结构和外形尺寸应符合GJB597利本规范的规定。3.2.1引出端批列

引出端排列应符合图1的规定：引出端排列为翁视图，2

HTTKAONKAca-

SJ 20073---92

E3EGATE2

比就载体封装引出学排列

OCT010

Vss口

双列封装出端排列

图1引出端排列

3.2.2功能框图

功能框图应符合图2的规定。

数据总线

缓冲器

控制字

寄存器

图2功能框图

3.2.3功能说明、符号和定义

计数器

计数器

计数器

功能说明、符号和定义，应符合本规范6.3条的规定。3.2.4封装形式

封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆

引线材料和涂覆，应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性

SJ20073—92

电特性应符合表1的规定，者无其它规定，适合十全工作温度范围3.5电试验要求

各级器件的电试验要求，应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。

3.6标志

标患应按GJB597第3.6条的规定。微电路组的划分

本规范所涉及的器件为第107微也路组（见GJB597附录E）。表丨电特性

序号！）

输入低也评电压

输入高电平电国

输出低电严电压

输出高电平电

输入负载电流

输出三态漏电流

(仅0-~D7)

电源电流

翰入电容

输入/输出电容

RDI前地址建立

Isu AV-RL)

RD前的Cstsu(CSL-RI)

RDT后地址保持

RD脉宽

数延退时

（从RDI开始）

Th(RJ-AV)

L(RL-DV)

条件2）

IoL = 2.0 mA

Fon = -400 μA

=Vm到ov

Yo=Vop到0.45V

fep-1 MH2, Te-25 °C.

Te=25 °C, Vp-0 V, 未

测试炭接Vs5

Yor=0.8 V

规范值

TTKAONKAa-

序号1）

数据延迟时间

（从地址有效开

RD个到数据出

读命令恢复时间

WR!前的地址

建立时间

WR前的CS建

立时间

WRT后地址保

持时间

WR脉宽

WR个前数据建

立时间

WRI后数据保

持时间

写命令恢复时间

时钟周期

时钟高电平脉宽

时钟低电平脉宽

时钟上升时间

时钟下降吋间

门高电平脉宽

门低电半脉宽

门建立时间（到

CPf后门保持时

输出延迟时间

（从CP+开始）

输出延迟时间

（从GATE+开

farAv-DV)

LRH-DZ)

treeTRH)

tsurAV-WL)

su(CSL-WL)

(WH-A)

(wrwL)

tsu(DV-WH)

th(WH-DV)

TreerWH

fwrcH)

W(GATEH)

AWIGATELL

Isu(GATEH-CH)

Tau(GATEL-CH)

f(CH-GATEL)

t(CH-GATEH)

fa(CL-Uv)

d(GATEL-OV)

SJ 20073—92

续表1

条件2）

VoH-2.0 V

注：1）本表中的参数的序号时序图中参数的编号是一致的;2)若无其它规定，Kuv=5±0.5 V，I=-55～125\C,Yss=0 V规范殖

试验要求

中司（老化前）电试（方法

最终电测试1

（方法5004）

A组试验要求2）

（方法5005）

B 组 V2Ae 试验

C组终点电测试

（法5005）

C组检验增加的分组

D组登点电试

（方法5005）

SJ20073—92

表 2 FE 试验要求

分，纽（见戈3）

B级器件

A1, A2, A3, A7: A8, A9, A10,All

A1，A7

BI级器件

A1, A2,A3, A7,A9

A1, A2, A3, A4, A7. A8. A9,

, Al. A2, A3, A4, A7. A0

A10,Al1

免本规范4.5.3条

A2,A3,A8

不要求

A2, A8 (仅125 °C)

注：1）A1、A7分纠要求PDA计算（见本规范4.2条）。2）A4分组（（、G）仅用于鉴定（见本规范4.4.1条）。表3A组电测试

fot =2.U mA

foH =-400 μA

V=Vpn到0V

Yo = Vop 到 0.45 V

除7,=125°℃外，参微、条件、规范值均间A1分组。除 Tr--55C外，参数、条件、规范均间 A1分组。8

Jcp=1 MHz, Vr-0 V

见本规范4.5.3条

A2A8（仅125cC)

A10，A11

A2. A8 (仅 125 °C)

舰范值

Vpr=0V，未測试端接Vss

按6.2条规定，T-=-25°℃，在VpD=5.5V和VDD-4.5V下分别进行动能测试。除T=-55°℃和125°C外，均同A7分组。10

FgAV-KLL

tsu(CSL-RL.)

ThRH-AV)

fdiRL-UV)

Vomr=2.0 V

Vot=0.8 V

TTKAONKAa-

trAV-D

a(RH-D2)

LreerRH

(surA-WL)

seiCSL-W

thOWH-A)

fsuDV-WH)

freerWH

FW(GATEH)

W(GATEL)

IsuGATEH-CH)

a(GATEL-CH)

h(CH-GATEL)

ThCK-GATEH)

arcl-ov)

fa(GATEL-OV)

SJ20073-92

续表3

VoL=0.8 V

除Tc-125C外，参数、条件、规范值均同A9分组。除 Tc--55 °C外，参数、条件、规范值均同 A9 分组规范值

SJ 20073—92

注：@RI职合适的限流电阻，R2-1.5k@, CI-100 pF+20%:

③VzAP=400 V，在器件输入端上测得t①脉冲转换时闻（tr1H）≤50πs（10%～90%)。图3高电压（YzAr）试验电路

接被测器件

TYKAOIKAca-

SJ20073—92

老化开始宵位：

老化和寿命试验线路图

测试店

图5交流测试输入/输出波形图

C=150pF1)

图6交流测试负载电路

注：1）CL包括夹具电容。

数费总缺

图7写周期时序阁图

数据总线

RD、WR

4质量保证规定

4.1扯样和检验

SJ 20073—92

图8读周期时序图

图9恢复时序阁

图10时与门时序图

光其它规定，抽样租检验程序应按GJB597利GJB548方法5005的规定4.2筛选

在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和表5的规定进行筛选。

TTKAONKAa-

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。