SJ 20642/6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范

标准中涉及的相关检测项目

检测项目：

• 电气性能检测：包括输入和输出特性、隔离电压、漏电流等。
• 热性能检测：评估光耦合器在不同温度条件下的稳定性和性能。
• 瞬态响应检测：测试光耦合器对瞬时信号的响应速度。
• 机械性能检测：比如抗振动、抗冲击能力的测试。
• 老化测试：对产品进行加速寿命实验，以评估长期使用的可靠性。

检测方法：

• 电气性能一般通过专用测试仪器进行测量，如数字万用表、示波器等。
• 使用热循环设备进行热性能检测，验证产品在高低温交替环境下的性能变化。
• 瞬态响应可通过脉冲信号发生器与示波器配合使用来测试。
• 机械性能测试可能需要振动台、冲击试验机等设备。
• 老化测试通常在高温箱内持续进行一段时间，观察产品性能变化。

涉及产品：

• 光电耦合器模块产品，包括GH83型及类似系列的产品。
• 其他与光电转换相关的半导体器件。

标准中详细规定了每项检测的具体步骤和评判标准，旨在确保光耦合器产品的质量和可靠性。

SJ 20642/6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范的基本信息

标准名：半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范

标准号：SJ 20642/6-1998

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：1998-03-11

实施日期：1998-05-01

标准状态：现行

SJ 20642/6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范的简介

SJ 20642/6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范的部分内容

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20642/6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20642/6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《SJ 20642/6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。