SJ 20794-2000 表面安装膜固定电阻网络总规范-检测标准-检测项目-北检院

标准中涉及的相关检测项目

标准《SJ 20794-2000 表面安装膜固定电阻网络总规范》中涵盖了与表面安装膜固定电阻网络有关的各种检测项目和检测方法。以下是该规范中提到的一些相关内容：

检测项目：

电阻值测试：检测电阻网络的标称电阻值和允差。
温度系数测试：检测电阻网络在温度变化时的电阻变化率。
绝缘电阻测试：检测电阻网络各端与其外壳之间的绝缘性能。
电压系数测试：检测电阻值随着施加电压的变化而变化的比例。
耐电压测试：测量电阻网络承受瞬时高电压的能力。
耐湿性测试：评估电阻网络在潮湿环境中的性能变化。
寿命试验：评估电阻网络在规定条件下的工作寿命。
振动和冲击测试：评估设备在振动和冲击条件下的稳定性。
焊接耐热性：评估电阻网络在焊接过程中耐受高温的性能。

检测方法：

电阻测量仪器用于测量电阻网络的标称阻值和允差。
使用环境试验箱进行温度系数、耐湿性等测试。
通过电压产生器及电容器进行电压耐受能力测试。
振动台和冲击试验台进行振动和冲击测试。
通过寿命测试设备模拟不同的老化条件下进行寿命试验。

涉及产品：

该标准适用于表面安装的膜固定电阻网络，这些网络通常被广泛应用于各种电子电路中，包括信号处理、滤波和分压电路等。

上述内容仅为大致介绍，具体的检测项目、方法及其详细的操作步骤，还需参考标准文档的详细规定。

SJ 20794-2000 表面安装膜固定电阻网络总规范的基本信息

标准名：表面安装膜固定电阻网络总规范

标准号：SJ 20794-2000

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：2000-10-20

实施日期：2000-10-20

标准状态：现行

SJ 20794-2000 表面安装膜固定电阻网络总规范的简介

SJ20794-2000表面安装膜固定电阻网络总规范SJ20794-2000

SJ 20794-2000 表面安装膜固定电阻网络总规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5905

SJ 20794---2000

表面安装膜固定电阻网络总规范Resistor metworks, fixed,film, surface mount.general specification for

2000-10-20发布

2000-10-20实施

中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准表面安装膜固定电阻网络总规范Resistor networks , fixed , film , surface mount ,general specifieationfor

t.1　主题内容

本规范规定了表面安装膜固定电阻网络的一般要求。1.2适用范围

$J 20794—2000

本规范适用于无可靠性指标的和有可靠性指标的表面安装膜固定电阻网络（以下简称电阻网络）。该电阻网络包括气密式密封的和非气密式密封的：1.3分类

1.3.1型号规格

本规范所涉及的电阻网络，其型号规格的组成应按如下示例所示：RN5161

引出端标称阻值阻值允许偏差简图(1.3.1.1) (1.3.1.2)(1.3.1.3) (1.3.1.4)1. 3. 1. 1 型号

(1.3.1.5)

(1.3.1.6)

失效率等级

(1.3.1.7)

型号用二个字母“RN\后跟四位数字表示。字母表示电阻网络，数字的第一位为“5”，表示“表面安装”，数字的第二、三位表示引出端数，数宇的第四位表示序号。1.3.1.2特性

特性按表1的规定用一个字母表示。中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布TKANrKAca-

2000-10-20实施

试验项目

特性代号

电阻温度特性（3.13）10~/K

参考电阻的跟踪特性

赖定功耗的最高环境温度（3.6）℃

季功耗的最环境温度

SJ 20794—2000

表特性

阻值变化最大值(4R)：土（

温度冲击（3.8）和

功率老化（3.9）

温度冲击（见3.8）

低温工作（3.14）

短时间过载（3.15）

引出端强度（3.17)

耐焊接热（3.20）

耐湿（3.21）

冲击【规定脉冲）（3.22）

高频振动（3.23）

寿命（3.24）

高温暴露（3.25）

低温贴存（3.26）

稳态湿热（3.21)）

绝缘电阻（3.19)

阻值允许偏差和适用时的阻值比准碘度（表7）2)

10:000

%R+0.012)：阻值比准确度最大值(4Ra)0.25

10 000

注：1）气密式密封的电阻网络。2）见3.10.3。

3）不适用，

1.3.1.3引出端

SJ 20794—-2000

引出端的材料按表2的规定用一个字母表示。表2引出端

锡一铅”

热没5

注：1）引出端基材应满足GJB1437—92《电子元器件引线》的规定。2）适用于有引线的电阻网络。

3) 见 3.5.6.

端接型式

无引线单面*

无引线包面*）

有引线2）

无引线铅涂层4）

无引线单面“）

无引线包面

有引线？”

无引线铅涂层

无引线单面*

无引线包面”

有引线2

无引线铅涂屋“

4）基材与引出端外镀层之间存在一层镍镀层，其厚度至少为1.27μm。5）对于GJB1437中代号为52的，外镀层最大厚度为5μm的不适用。1.3.1.4标称阻值

标称阻值以欧姆（）为单位，用三位或四位数字表示：标称阻值的有效数字为两位的E12和E24系列值采用三位数字表示；标称阻值的有效数字为三位的E48、E96和E192系列值用四位数字表示，其中前两位或前三位表示标称阻值有效数字，最后一位则表示乘数（倍率），其中对E12和E24系列，当阻值小于10，对E48、E96和E192系列，当阻值小于100Q时，用字母“R”顶替一位有效数字并代表小数点，该字母前后的数字均为有效数字。

最低和最高阻值应符合规定（见3.1）。标称阻值系列按表3所示采用GB/T2471中的E12、E24、E48、E96 或E192系列。3-

iiKAoNrKAca

阻值允许偏差

SJ 20794--2000

标称阻值系列

E1921)

注：1）对于阻值充许偏差为±0.1%和±0.5%的电阻器，在规定的阻值范围（见3.1）内可为任意值，但最好采用E192系列。

1.3.1.5阻值允许偏差

阻值允许偏差按表4用一个字母表示表4阻值充许偏差

1.3.1.6简图

电阻网络的简图按详细规范（见3.1）用一个字母表示。1.3.1.7产品等级

阻值允许偏差

产品等级按表5用一个字母表示。该字母表示鉴定合格的电阻网络的产品等级（见4.4.4)。

本规范所涉及的有可靠性指标的电阻网络，其失效率等级为1x10-5～1×10-/h。这些失效率等级是以寿命试验为基础，以鉴定置信水平为60%确定的。表5产品等级

产品等级代号

引用文件

5包装储运图示标志

GB 191-85

GB/T 2471—1995

电阻器和电容器的优先数系

品等级

%/1000h

无可性指标

SJ20794-2000

GJB150.10—86军用设备环境试验方法琴菌试验GJB360A一96电子及电气元件试验方法GJB546A一96电子元器件质量保证大纲GJB1437-92电子元器件引线

GJB2118—94军用电子元器件的标志GJB2649—96电子元件失效率抽样方案租程序GJB2712—97测量设备的质量保证要求计量确认体系GJB282397电子元器件产品出厂苹均质量水平评定方法GJB3014—97电子元器件统计过程控制体系3要求

3.1详细规范

每个电阻网络的娶求应符合本规范和相应详细规范的规定。当本规范的要求与详细规范的要求相抵触时，应以详细规范为推。3.2合格鉴定

按本规范提供的电阻网络是经鉴定合格或定型批准的产品。3.3质量保证体系

承制方按本规范提供的电阻网络应按GJB546A（对所有等级的产品）和GJB2649（仅对有可靠性指标的产品）规定进行鉴定和维持。此外，承制方还应按3.3.和3.3.2的规定建立统计过程控制体系（SPC体系）和产品出厂平均质量水平评定方法体系（PPM体系)。

3. 3. 1 SPC 体系

作为按GJB546A建立的质量保证体系的一部分，承制方应按GJB3014建立SPC体系（特殊情况除外，如当生产批量小或非连续性生产时，经鉴定机构批准，方可不按GJB3014建立SPC体系）。用SPC的典型制造工艺包括膜层的形成；帽/引线的煤接；激光调阻：封装；引出端的最后加工及焊接强度。此外，承制方还应证实电阻温度特性（RTC）在加工过程中的控制。

3. 3.2PPM体系

作为GJB546A的一部分，承制方应在鉴定机构批准的情况下，按GJB2823及4.6.4的数据排除法建立PPM体系。每月底，PPM体系应给出PPM值，并以每六个月的平均值为基础。每种型号的产品都需对直流电阻进行评价，报表应包括有、无可靠性指标产品型号的组合。

3.4、材料

材料应符合本规范的规定。但当没有指明确定的材料时，应用能使电阻网络满足本规范规定性能要求的材料。任何组成材料的接收和批准都不应看作是对成品验收的保证。

3.5设计和结构

电阻网络的设计、结构和外形尺寸应符合规定（见3.1）。每个电阻网络应由带引出端的膜电阻体组成。

3.5.1外壳

TKANiKAca-

SJ20794-—2000

电阻网络应有良好的封装以便能承受规定的环境试验。应无暴露内部电路的孔隙。3.5.2引出端

引出端应无污染物，并满足规定的可焊性。如果目检符合要求，则引出端应被判为无污染物。

3.5.2.1引线再浸锡

按本规范提供的产品，承制方可以对引出端进行再浸锡，但浸锡工艺需经鉴定机构批准。

3.5.2.t.1鉴定机构的批准

浸锡工艺的批应选择下述规定之一进行：e，当原米鉴定合格的引线的外镀摆符合GJB1437中标记为52号时，承制方应采用该产品原来制造时所用的漫锡工艺重新镀。b.当原来鉴定合格的引线的外镀层不采用3.5.2.1.1a时，所用漫锡工艺应在下列试验程序的基础进行批准：

一每一型号和每一种引线外镀层的任阻值的30只样品按承制方的浸锡工艺进行浸锡。浸锡后，电阻器应经受直流电阻测试（以及A组的其它电气试验），不允许有不合格品：

一30只样品中的10只随后经受可焊性试验，不允许有不合格品。二剩余的20只样品经过耐焊接热试验后，再经受耐湿试验。3.5.2.1.2浸锡（再浸锡）的选择承制方可接下列规定进行浸锡（再浸锡）选定：a.A组100%的筛选试验后，进行再浸锡试验，要求按A1分组对批进行100%电气测量。电气测量的百分不合格品率允许值应符合A1分组试验的规定。b．如果该批A组的可焊性试验不合格，那么应采取纠正措施。C.A组检验完成之后，进行浸锡后应按A1分组100%筛选试验所要求的电气测量对该批进行100%的重新试验。电气测量的百分不合格品率允许值应符合A1分组试验的规定。进行这些试验后，承制方应按4.8.6规定对该批进行A组可焊性试验。3.5.3金属化阻值

中阻网络中最长路径的金属化阻值应不超过表6规定的范围。表6金属化阻值

标称阻值

R≤1000

1000

R≥10 000

最大金属化阻慎

3.5.4焊接

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如果内部连接采用焊接，则焊接质量应能使电阻网络满足本规范的所有要求。3.5.5内部目检（适用于芯片和内部引线键合的结构）电阻网络在封装前必需进行100%的检验，以证明其界面、外尺寸及加.工质量满足要求（见附录B)，

3.5.6镀锡层

禁止采用镀锡层作为表面层和底镀层（咒6.3.2），允许采用铅含量最低为3%的锡铅（Sn-Pb）层：

3.6额定功耗

电阻网络和每个电阻器应规定一个在环境温度下满负荷工作的额定功耗。当温度超过70\C，功耗曲线应按图1进行降额。100

-55°℃

-75-50

150175

注：曲线表示在温度超过70℃时，应施加额定功耗的百分数，任何情况下，所施加的电压应不超过规定的元仆极限电压（见3.1)。图1降功耗曲线

3.7额定功耗

每个电阻体应有一个相当于额定功耗值的额定直流连续工作电压或近似于正弦波的交流有效值连续工作电乐，该电压按下式确定：U=P·R

式中，U额定直流或交流连续工作电压的有效筐，V;P额定功耗，W;

R标称阻值，2：

任何情况下，额定电压不得超过元件的极限电（见3.1）。3.8温度冲击

当电阻网络按4.8.3的规定进行试验时，应无机损伤。在鉴定检验的1组和A组检验中，对于组合在一起的温度冲击和功率老化试验（见3.9），应满足下列要求：特性K和M：AR应不超过±(0.50%R+0.012);特性H：4R应不超过±(0.50%R+0.01)：特性C，R和V：AR应不超过+(0.25%R+0.01Q);4Ra应不超过±0.03%。

对下鉴定检验的5组检验和C组检验中的温度冲试验，电阻网络应满足下列要求：7

KAoNrKAca

SJ 20794—2000

特性K和M：4R应不超过±(0.50%R+0.012);特性H：4R应不超过+(0.25%R+0.01-2)：特性C，R和V：4R应不超过±(0.15%R-0.012):4Ra应不超过±0.03%。

3.9功率老化

当电阻网络按4.8.4的规定进行试验时，应无机械损伤。对于组合在一起的功率老化试验和温度冲击试验（见3.8），电阻网络应满足下列要求：特性K和M:AR应不超过±(0.70%R+0.01S2);特性H：4R应不超过±(0.50%R+0.012);特性C，R和V:4R应不超过+(0.25%R+0.01Q);ARa应不超过±0.03%。

3.10直流电阻值

3.10.单个电阻值

当电阻网络按4.8.5的规定进行测量时，直流电阻值应在规定的标称阻值及其阻值允许偏差的范围内（见1.3.1.5)，且测量期间在规定的偏差内保持稳定，3.10.2两绝缘引出端之间的阻值当电阻网络按4.8.5的规定进行测量时，任意两绝缘电阻器之间的电阻应不小于5M2，此项试验仅在A组检验中对电阻测量检查时进行。3. 10. 3阻值比准确度（适用于特性 C、R和 V)当电阻网络按4.8.5的规定进行测量吋，阻值比准确度应按表7的规定。表7 阻值比推确度

3.11可焊性

阻值充许偏差代号

当电阻网络按4.8.6的规定进行试验时，应无机械损伤。3.11.1无引线元件的可焊性

评价引出端可焊性接收的判据是：阻值比雅确度

引出端被浸渍部分，至少应有95%的面积上覆盖了一层连续的、新的焊料层；a.

b.针孔、空穴、多孔、不浸润或弱凝润缺陷不得集中在一处，且不得超过金属化-8-

引出端总面积的5%：

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c、任意两引山端表面之间不得存在焊料桥接。当焊料浸渍导致桥接时，如果局部热作用（如：气体，烙铁或再浸渍）导致焊料回缩，并放在十倍放大镜下，显示表明其绝缘表面为排混润时，购认为不失效4.8.6c规定的试验表面积应包括引出端底座和槽的金属化表面。当有争议时，应通过测量这些覆盖针孔和斑点的面积，并与总面积比较来确定这个百分比。3.11.2有引线元件的可焊性

当电阻网络按4.8.6的规定进行试验时，评价引出端可接收的判据是：a.引出端浸入部分的总面积至少应有95%的面积（除边缘断面外）覆盖了一层连续的、新的焊料层：

b．针孔、空穴、多孔、不浸润及弱湿润缺陷不得集中在一处，丑不得超过金属化引出端总面积的5%。

元件本体

截断线，润涩

（检验）

3.12耐溶剂

达缘断面

（不检验）

图2翼形引出端的可焊性

当电阻网络按4.8.7的规定进行试验时，应无机械损伤，标志应保持清晰。3.13电阻温度特性

当电阻网络按4.8.8的规定进行测试时，相对下室温，表17规定的每一温度下的电阻温度特性不应超过下列要求：特性M：±300×10-/K：

特性K：±100×10-°/K；

特性H：±50×10-/K：

特性C和V：±50×10-6/K，电阻体跟踪温度特性为±5×10-6/K；特性R：±25×10-\/K，电阻体跟踪蕴度特性为±5×10~/K，3.14低温.L作

当电阻网络按4.8.9的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求特性M：4R应不超过±(0.50%R+0.01Q)：特性K：4R应不超过±(0.25%R+0.01.0)：特性H：4R应不超过±(0.10%R+0.010);特性C，R利V：4R应不超过+(0.10%R+.01Q)9

TTKAoNr KAca-

3.15短时间过载

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ARa应不超过±0.02%。

当电阻网络终按4.8.10的规定进行试验时，应无飞孤、燃烧惑炭化现象，应满足下列要求：

特性M：4R应不超过+(0.50%R+0.012)特性K：4R应不超过+(0.25%R+0.012)特性 H：4R应不超过±(0.10%R+0.01 Q2);特性C，R和V：4R应不超过+(0.10%R+0.01 Ω):ARa应不超过0.02%。

3.16附着性（不适用丁翼形引线元件）当电阻网络按4.8.11的规定进行试验时，应无机械损伤。3.17引出端强度（不适用于无引线的元件）当电阻网络按4.8.12的规定进行试验时，引出端应无断裂或从网络骨架上松动及涂层剥落现象，并应满足下列要求：特性H、K和 M：4R应不超过+(0.25%R+0.01 0)特性C，R和V：4R应不超过±(0.10%R+0.01)：ARa应不超过±0.03%。

3.18介质耐电压

当电阻网络按4.8.13的规定进行试验时，应无机械损、飞弧或击穿，漏电流不应超过 1 mA。

3.19绝缘电阻

当电阻网络按4.8.14的规定进行测试时，绝缘电阻应不小于10000M2。3.20耐焊接热

当电阻网络按4.8.15的规定进行试验时，应无机械损伤、金属化层脱落或熔蚀现象，且应满足下列要求：

特性K，M和H：4R应不超过±(0.25%R+0.012);特性C，R和 V：4R应不超过±(0.25%R+0.01 $2):4Ra应不超过0.02%。

3.21耐湿

当电阻网络按4.8.16的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求：特性K和M：4R应不超过±(0.50%R+0.012)特性H：AR应不超过+(0.40%R+0.012)：特性C，R和V：AR应不超过(0.20%R+0.012)4Ra应不超过±0.02%。

另外，介质电压应按3.18的规定，绝缘电阻应不小丁100MS23.22冲击（规定脉冲）

当电阻网络按4.8.17的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求：特性 H、K 和 M:4R 应不超过±(0.25%R+0.01 2);特性C，R和V：4R应不超过±(0.25%R+0.019)4Ra应不超过±0.03%。

3.23高频振动

SJ20794—2000

当电阻网络按4.8.18的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求：特性H、K和M:4R应不超过±(0.25%R+0.012);特性C，R和V：4R应不超过+(0.25%R+0.012)：ARa应不超过±0.03%

3.24寿命

3.24.1鉴定检验

当电阻网络按4.8.19的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求：特性M：4R应不超过(2.0%R+0.012)；特性H利K：4R应不超过(0.50%R+0.01$2)特性C、R租V：4R应不超过±(0.50%R+0.0192);4Ra应不超过0.03%。

3.24.2失效率等级鉴定（仅对有可靠性指标的产品）当电阻网络按4.8.19的规定进行试验时，应无机械损伤。对于所有特性，初始测量与其后的任何一次测量之间的阻值变化应不超过表1的规定。这个单一的失效判据适用于确定失效率等级鉴定的寿命试验期间的全部测量，共且也可以作为3.24.1条鉴定检验的寿命试验的一个并列要求。

3.25高温暴露

当电阻网络按4.8.20的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求：特性M：4R应不超过±(1.0%R+0.012):特性K：4R应不超过±(0.50%R+0.01Q2);特性H：4R应不超过±(0.20%R+0.0192);特性C，R和V：4R应不超过=(0.10%R+0.01S2):4Ra应不超过+0.03%。

3.26低温贮存

当电阻网络按4.8.21的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求：特性M：4R应不超过土(0.50%R+0.01.0);特性K：4R应不超过±(0.25%R+0.012)：特性H：4R应不超过±(0.10%R+0.01S2)特性C，R和V：4R应不超过(0.10%R+0.01Q)4Ra应不超过±0.02%。

3.27气密式密封（适用于特性C）（见4.8.22）就本规范而言，气密式密封电阻网络应能通过4.8.22规定的密封试验或者满足瀚率不大5.0x10-2Pacm/s的要求.对丁特性H和V的要求（见3.31.3），可提供特性C的电阻网络。

3.27.1非气密式密封（适用于特性H、K、M、R和V）就本规范而言，非气密式密封电阻网络是与3.27要求不完全一致的电阻网络。对照特性C的要求，不应提供特性H、K、M、R和V的电阻网络。3.28稳态湿热

当电阻网络按4.8.23的规定进行试验时，应无机械损伤，并应满足下列要求：- 11 -

KAoNKAca

现行

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20794-2000 表面安装膜固定电阻网络总规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20794-2000 表面安装膜固定电阻网络总规范》中适用范围中的所有样品。