GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验-检测标准-检测项目-北检院

标准中涉及的相关检测项目

标准《GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验》中主要提到了以下检测项目、检测方法及涉及的产品：

检测项目：

振动试验
冲击试验
自由跌落试验
机械冲击耐久性
抗震动疲劳特性

检测方法：

振动试验：通常按照一定的频率、振幅及持续时间进行，其目的是检查机电元件在振动环境下的性能和可靠性。
冲击试验：通过施加短时间高强度的冲击力，测试元件的抗冲击能力。
自由跌落试验：将机电元件从规定高度自由跌落，以评估其结构强度和耐冲击性能。
机械冲击耐久性：通过反复施加一定强度的机械冲击，测试元件的耐久性指标。
抗震动疲劳特性：不断施加振动应力来评估机电元件的疲劳特性和耐久寿命。

涉及产品：

主要涉及各种电子设备中使用的机电元件，包括但不限于继电器、开关、连接器、插座等。这些元件通常需要经过动态应力试验，确保其在实际应用环境中的可靠性和耐用性。

GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验的基本信息

标准名：电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验

标准号：GB/T 5095.4-1997

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1997-12-26

实施日期：1998-10-01

标准状态：现行

GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验的简介

本标准规定的试验方法，在TC48范围内的电子设备用机电件的详细规范要求时，应给以采用。类似件的详细规范有此要求时，也可以适用。GB/T5095.4-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验GB/T5095.4-1997

GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验的部分内容

ICS._31.220

中华人民共和国国家标准

GB/T 5095.1~5095.9--1997

idt IEC 512---1~~512—9

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

Electromechanical components for electronic equipmentBasic testing procedures and measuring methods1997-12-26发布

技来医督

1998-10-01实施

GB/T5095.4—1997

本标准等同采用IEC512-4：1976《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法

第4部分：动

态应力试验》，是对GB5095.4一86进行的第一次修订的。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口。本标准由电子工业部标准化研究所负责起草。本标准主要起草人：余玉芳、汪其龙、张菊华、王玉堂。33

GB/T5095.4—1997

IEC 前言

1）IEC（国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决议或协议以标准，技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会认可。

3）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。IEC引言

国际标准IEC512-4由IEC/TC48（电子设备用机电元件）制定的。本标准是整套标准的第4部分。

本标准与第1部分：总则（IEC512-1：1984）一同使用。整套标准包括的其他试验项目在IEC512-1的附录A中给出了总的计划。这些试验项且在制定后就发布。

本标准预定取代IEC130-1《频率低于3MHz连接器第1部分：一般要求和试验方法》中相应的试验项目。

1971年在列宁格勒召开的会议上讨论了草案后形成文件48(CO)83、84、85和86，并在1972年4月发往各国家委员会按“六个月法”表决。对试验6a、6b和6c赞同发布的国家如下：奥地利

澳大利亚

罗马尼亚

对试验6d赞同发布的国家如下：澳大利亚

引用标准：

IEC68：基本环境试验规程

奥地利

罗马尼亚

比利时

南斯拉夫

比利时

匈牙利

加拿大

以色列

加拿大

意大利

土耳其

中华人民共和国国家标准

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第4部分：动态应力试验

Electromechanical components for electronic equipmentBasic testing procedures and measuring methodsPart 4:Dynamic stress tests

GB/T5095.4-1997

idt IEC 512-4:1976

代替GB5095.4—86

本标准规定的试验方法，在TC48范围内*的电子设备用机电元件的详细规范要求时，应给以采用。类似元件的详细规范有此要求时，也可以适用。1试验6a：稳态加速度

1.1自的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件耐规定严酷等级的加速度的能力。1.2试验样品安装

试验样品应按详细规范的规定进行安装。1.3一般要求

1.3.1应按IEC68-2-7中试验Ga的规定以及详细规范所规定的严酷等级进行试验。1.3.2除非另有规定，每个试验样品应按制造厂说明书接线1.3.3试验样品的所有机械零件，如面板装置，锁定及紧固零件等，都要完全使用上进行试验。1.3.4试验前应按1.4中的规定进行测量。但在前一试验程序的最后测量中凡已进行过的项目可以不进行。

1.4试验要求

1.4.1在本试验中应连续监测接触件（触点）的情况。在详细规范中除非另有规定，试验中应将接触件(触点)与屏蔽壳(若存在)串联起来监测电连续性。1.4.2详细规范中除非另有规定，在试验完结时，试验样品还应承受下列试验。1.4.2.1外观检查

试验样品在没有拆散的状态下进行外观检查，零件不应有松动、位移、或有害于操作的机械损伤。1.4.2.2操作检查

*TC48的范围：制定用于通信设备和采用类似技术的电子装置的具有机电连接和开关功能的相关元件的国际标准。

1R.F.连接器应不属于该技术委员会.由TC46与R.F.电缆同制定。2晶体或电子管之类元件的插座由相关技术委员会考虑。国家技术监督局1997-12-26批准1998-10-01实施

GB/T5095.4—1997

应按详细规范的规定检查机械操作特性是否符合要求。1:4.2.3接触电阻

应按详细规范的要求测量接触电阻，应不超过规定的值。1.4.2.4密封

试验样品应经受详细规范所规定的密封试验。所有密封界面（包括面板密封面）的漏率应不大于详细规范的规定值。

1.5需要规定的细节

详细规范要求本项试验时，除IEC68-2-7中试验Ga的规定外，还应规定下列细节：a）试验样品的安装方法和配接的电缆或导线束，包括电缆从接触件至第一个夹持点的不支撑长度；

b）加速度严酷等级；

c）持续时间、严酷等级；

d）加速度的轴线和方向；

e）电缆或导线束的型别、尺寸规格及长度；f）需要检查的操作特性（试验过程中及试验后）；g）相应的电连续性试验方法、接触电阻试验方法、需要监控的接触件（对于开关指的是工作状态）和它们的要求；

h）与标准试验方法及（或)条件有何不同之处。2 试验 6b:碰撞

2.1目的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件耐规定严酷等级的碰撞的能力。2.2试验样品安装

试验样品应按详细规范的规定进行安装。2.3一般要求

2.3.1应按IEC68-2-29中试验Eb的规定，以及详细规范所规定的严酷等级进行试验。2.3.2除非另有规定，每个试验样品应按制造厂的说明书接线。2.3.3试验样品的所有机械零件，如面板装置、锁定及紧固零件等，都要完全使用上进行试验。2.3.4试验前应按2.4中规定进行测量。但在前一次试验程序的最后测量中凡已进行过的项目可以不进行。

2.4试验要求

2.4.1在详细规范中除非另有规定，在碰撞的最后200次过程中应将接触件（触点）与屏蔽壳（如存在）串联起来监测电连续性。

2.4.2详细规范中除非另有规定，在试验完结时，试验样品还应承受下列试验。2.4.2.1外观检查

试验样品应在没有拆散的状态下进行外观检查，零件不应有松动、位移、或有害于操作的机械损伤。2.4.2.2操作检查

应按详细规范的规定检查机械操作特性是否符合要求。2.4.2.3接触电阻

应按详细规范的要求测量接触电阻，应不超过规定的值。2.4.2.4密封

试验样品应经受详细规范规定的密封试验。所有密封界面（包括面板密封面）的率应不大于详细规范的规定值。

2.5需要规定的细节

GB/T5095.4--1997

详细规范要求本项试验时，除IEC68-2-29中试验Eb的规定外，还应规定下列细节：a）试验样品的安装方法，电缆或导线束的型别、尺寸规格及长度，包括电缆从接触件至第一个夹持点的不支撑长度。

b）需要检查的操作特性；

c）需要监测的接触件（触点)(或适用于特定元件的其他特性）；d）采用的接触电阻测量方法；

e）与标准试验方法及（或)条件有何不同之处。3试验6C：冲击

3.1目的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件耐规定严酷等级的冲击的能力。3.2试验样品安装

试验样品应按详细规范的规定进行安装。3.3一般要求

3.3.1应按照IEC68-2-27中试验Ea的规定，以及详细规范规定的脉冲波形和严酷等级进行试验。3.3.2除非另有规定，每一个试验样品应按制造厂说明书接线。3.3.3试验样品的所有机械零件，如面板装置、锁定及紧固零件等都要完全使用上进行试验。3.3.4试验前应按3.4中的规定进行测量。但在前一试验程序的最后测量中凡已进行过的项目可以不进行。

3.4试验要求

3.4.1在详细规范中除非另有规定，试验中应将接触件（触点）与屏蔽壳（如存在）串联起来监测电连续性。

3.4.2详细规范中除非另有规定，在试验完结时，试验样品还应承受下列试验。3.4.2.1外观检查

试验样品在没有拆散的状态下进行外观检查，零件应不松动、位移、或有害于操作的机械损伤，3.4.2.2操作检查

应按详细规范的规定检查机械操作特性是否符合要求。3.4.2.3接触电阻

应按详细规范的要求测量接触电阻，应不超过规定的值。3.4.2.4密封

试验样品应经受详细规范规定的密封试验。所有密封界面（包括面板密封面）的漏率应不大于详细规范的规定值。

3.5需要规定的细节

详细规范要求本项试验时，除IEC68-2-27中试验Ea的规定外，还应规定下列细节：a）试验样品的安装方法，电缆或导线束的型别、规格及长度，包括电缆从接触件至第一夹持点的不支撑长度；

b）加速度严酷等级；

c）持续时间严酷等级；

d）冲击的轴线及方向；

e）脉冲波形；

f）需要检查的操作特性；

g）需要监测的接触件（触点）（或适用特定元件的其他特性）和要采用的接触电阻测量方法；37

GB/T5095.4—1997

h）与标准试验方法及（或)条件有何不同之处。4试验6d：振动

4.1目的

是确立详细的标准试验方法，以评定元件耐规定严酷等级的振动的能力。4.2试验样品安装

试验样品应按详细规范的规定进行安装。4.3一般要求

4.3.1应按IEC68-2-6中试验Fc的规定，以及详细规范规定的严酷等级进行试验。4.3.2除非另有规定，每个试验样品应按制造厂的说明书接线。4.3.3试验样品的所有机械零件，如面板装置、锁定及紧固零件等都要充分地用上进行试验。4.3.4试验前应按4.4中的规定进行测量。但在前一试验程序的最后测量中凡已进行过的项目可以不进行。

4.4试验要求

4.4.1详细规范中除非另有规定，在最后一次扫频的整个过程中的两个方向，应将接触件（触点）与屏蔽壳（如存在）串联起来监测电连续性。4.4.2试验样品在三个互相垂直的方向上进行振动，其中有一个方向应与试验样品的轴线乎行。4.4.3详细规范中除非另有规定，在试验完结时，试验样品还应承受下列试验。4.4.3.1外观检查

试验样品在没有拆散的状态下进行外观检查，零件不应有松动、位移、或有害于操作的机械损伤。4.4.3.2操作检查

应按详细规范的规定检查机械操作特性是否符合要求。4.4.3.3接触电阻

应按详细规范的要求测量接触电阻，应不超过规定的值。4.4.3.4密封

试验样品应经受详细规范规定的密封试验。所有密封界面（包括面板密封面）的漏率应不大于详细规范的规定值。

4.5需要规定的细节

详细规范要求本项试验时，除IEC68-2-6中试验Fc的规定外，还应规定下列细节：a）试验样品的安装方法，电缆或导线束的型别、规格及长度，包括电缆从接触件至第一-个夹持点的不支撑长度；

b）试验的严酷等级（频率范围、位移幅度、加速度幅值及持续时间）；c）接触电阻变化的要求；

d）需要检查的操作特性；

e）需要监测的接触件（触点）（或适用于特定元件的其他特性）和要采用的接触电阻测量方法；f）与标准试验方法及（或)条件有何不同之处。38

现行

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验》中适用范围中的所有样品。