GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准

标准中涉及的相关检测项目

《GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准》是关于石英晶体元件的质量评定的标准。该标准中涉及的内容包括检测项目、检测方法和涉及的产品。以下是一些相关信息：

检测项目：

• 机械性能检测
• 电性能检测
• 环境性能检测
• 寿命测试

检测方法：

• 振动试验：通过振动测试设备模拟实际使用中的振动环境以测试机械性能。
• 温度循环试验：将产品在高低温环境中反复循环以评估环境性能。
• 冲击试验：测试产品在遭受突然冲击时的耐受能力。
• 频率、Q值测量：通过专用仪器测量石英晶体的频率特性和品质因数（Q值）。

涉及产品：

该标准主要适用于各种类型的石英晶体元件及相关电子元器件。这些可能包括石英晶体振荡器、谐振器以及其他应用于电子电路中的石英晶体产品。

通过这些标准化的检测项目和方法，确保石英晶体元件在性能和质量上达到行业要求，以便广泛应用于各种电子设备中。

GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准的基本信息

标准名：石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准

标准号：GB/T 16517-1996

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1996-09-09

实施日期：1997-05-01

标准状态：现行

GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准的简介

本标准适用于以鉴定批准为基础的石英晶体件的质量评定。本标准规定了总规范GB/T12273—1996(idtIEC1178—1：1993)中给定的优先额定值和特性以及适用的试验方法和测量方法，并给出了石英晶体件详细规范中采用的一般性能要求。GB/T16517-1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第3部分分规范鉴定批准GB/T16517-1996

GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准的部分内容

GB/T 16517—1996

IEC 1178-3:1993

本标准等同采用

石英晶体元件：IECQ规范第3部分：分规范一一鉴批QC680200

本标雅的上层标准是GB/T12273—1996&石英品体元件电子元器件质量评定体系规范第1部

分；总规范”。

这样，使我国石英晶体元件国家标准与1EC电子元器件质量评定体系中标准相致，以适应此领

域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要，便于我国生产的这类产品进行质量认证并进入际市场。

本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会归[1，本标准起草单位：国营华呈无线电器材厂。本标准主要起草人：管兴明、孙建华..comGB/T165171996

IEC 前言

1）IFC（国际电工委员会)是由各国家出工委员会（IEC国家委员会）组成的世界性标准化组织。IEC的甘的是促进电「电子领域标准化问题的国际合作。为此目的，除其他活动外，IEC发布国际标准国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关划的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作，与IEC有联系的任何国际、政府和非它方组织也可以参加国际标准的制定，IEC与国际标准化组织(15O)根据两组织间协商确定的条件保持密切的台作关系。2）IEC在技术问题上的正式决议或协议是由对这些问题特别关划的国家委员会参加的技术委员会制定的，对涉及的问题尽可能地代表了国际上的致意见。3）这些决议或协议以标难、技术报告或导则的形式发布,以推荐的形式供国际上使用,并在此意义上，为各国家委员会认可。

4）为了促进国际上的统，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任差异均应在国家或地区标准中指明。国际标准1EC1178-3是由IEC第49技术委员会（频率控制和选择用压电与介电器件)制定的。本标准的部分技术内容依据IEC122-1制定.本标准构成IECQ石英品体元件规范第3部分：分规范—鉴定批准。

EC:1178-1构成总规范

1EC1178-2构成分规范能力批推，IEC117821构成空白详细规范：能力批准。IEC1178-3-1构成空门详细规范：鉴定批谁。本标准文本以下列文件为依据：国际标准草案

49(CO)229

表决报告

19(CO)243

表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅本标封面1的QC号是IECQ规范号。中华人民共和国国家标准

石英晶体元件电子元器件

质量评定体系规范

第3部分：分规范鉴定批准

Quartz crystal unilts-A specification in the Quality AssessmentSystem for Electronic ComponentsPar13: Sectional specifleaton- Qualification approval1总则

1.1范围

本标推适用于以鉴定批推为基础的石英品体元件的质量评定。GB/T 16517- 1996

idt IEC 1178-3, 1993

QC680200

本标准规定了总规范GB/T 12273—1996(idt IEC 1178-1:1993)中给定的优先额定值和特性以及适用的试验方法和测量方法，并给出了石英鼎体元件详细规范中采用的一·般性能要求，1.2引用标准

下列标准所包含的条文，通过在本标推中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。IEC和ISO成员国保存有现行有效国际标雅录，GB/T12273—1996石英晶体元件电了元器件质量评定体系规范第1部分：总规范(idiIEC1178-1:1993)

SJ/T10708—1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系规拖第3部分：空白详细规毡鉴定批准(idtTEC1178-3-1:1993)IFC68环境试验*

IECQC001002(1985）IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则2优先额定侦和详细规范制定导购2.1优先额定值和特性

详细规范中给出的值应优先从GB/T 12273—1996的2.3中选取。2.2详细规范应给出的内容

详细规范的制定要求在 SJ/T10708 空亡详细规范中给出每一·个详细规范应规定检查要求的所有试验和测量，至少应包括空自详细规范给出的有关试验及其方法利严醋度，

单一的详细规范应仅包括一种盒型，但可以包括不间的引出端结构下列内容应在每个详细规范中给出*）采GB/T12273-1396中[引时注明的版本和所巩的条款号，国家技术监督局1996-09-09批准1997-05-01实施

2-2.1外形图和尺寸

GB/T 16517 1996

详细规范应包括晶体元件的尺寸图和（或)引用的适用国际标准，以便容易识别，并为尺寸标注和规检程序提供信息。

尺寸应包括元件本体的轮廓尺寸和引出端尺寸及其间距，所有尺寸均以毫米单位给出。多于两个引出端的外壳应标注引出端的连接关系。本条更详细的内容可在附录中给出。2.2.2元件的安装方式

详细规范应确定品体元件用于组装的限制。在这种情况下，进行碰撞、冲击、振动和加速度试验时，可以采用专用安装灾只。详细规范应对专用安装夹具进行规定。当未指明专用安装火具时，则上述各项试验应按GB/T122731996中4.8的规定，2.2.3环境试验严酷度

详细规范应规定从GR/T12273-1996的4.8中选取试验方法和对应的严酷度。2.2.4标志

详细规范应按GB/T12273—1996的2.4规定晶体元件和初级包装要求的标志内容。2.2.5订货资料

详细规范应规定订购晶体元件时所要求的下列资料：-数量：

-详纸规范号.版本号和发布日期(适用时)：标称频率(kHIz或MHz)及泛音次数；一盒型：

频差和工作温度范围；

电路条件：

一一任何谢加要求的完整叙述

2.2.6附资料（不用于检验月的)详细现范可以包括不需要通过检验程序验证的内容，如电路图、曲线图、图样以及所需的说明性注释。

3质量评定程序

3.1鉴定批准的条件

在中请鉴定批准之前、制造厂首先应退据IECQC001002中10.2获得制造厂检查批准。初始制造阶段是品片表面的最终加工，并按GB/T12273—1996中3.1确定，3.2结构类似

结构类似体现在单一详细规范所包括的晶体元件范围应具有相间的材料、密封力式及振动模式。本规范允许的结构类似范围的扩展，作3.4,3项日1)中规定。3.3证明合格的试验记录

合格试验记录应符合GB/T12273—1996中3.11规定，当详细规范中有规定，且用户要求时，应子提供。

3.4鉴定批准

鉴定批准试验程序在GB/T12273—1996的3.7中规定，获得鉴定批准，既可采用从现行产品（见3.4.1)中取固定样本的方式，也可采用三个逐批检验和个周期检验的方式，用于周期检验的样本少应从二个逐批检验的一批中抽取，在这两种情况下，用丁鉴定推准的样本应按下述规定选取：晶体元件应从同一个详细规范的基频品体元件中选取，或从同一个详细规范的泛音晶体元件中选..comGB/T 16517-1996

取。当同一个详细规范中包括基频晶体元件或泛音晶体元件时，其样本应从两种类型中选取。1）基频晶体元件

在规定的频率范围内，大约有1/3样本为最高频率，有1/3为中间频率，有1/3为最低频率。2）泛音晶体元件

作规定的频率范围内，一半样本为最高泛音的最高频率，另一半为最低泛音的最低癫率。基频和泛音晶体元件在以下方面应相同：-…盒型（可以包括不同的引出端结构)；密封型式(如冷形焊)，

一切型（如AT切型），并且应能证实导求批推所用的最严格的切角控制：一振动模式（如厚度切变）：

一环境要求（如85/105/56）

3.4.1初始批准用固定样本大小程序制造厂应提供试验证明，以表明符合本规范表1给出的试验一览表的要求。表1给出了用于鉴定批准试验的每一组或每一分组的被试样品数以及允许的不合格品数。如果试验一览表中增加了试验组，“0\组(见表1)中需要的样品数应按增加的试验组所需要的样品数相应增加。

个详细规范所包括的晶体元件鉴定批准所需要的完整的一系列试验，在固定样本大小试验一览表的表1和表4中给出，每组试验应按给定顾序进行，全部样本都应先经受\0\组试验，然后被分到其他各组。

当一个晶体元件未能通过一个组的全部或部分试验时，计为“一个不合格品”。3.4.2初始批谁用逐批程序

制造厂应提供试验证明，以表明符合本规范表2、表3给出的试验一览表的要求和相应详细规范的要求，每组试验应按给定的顺序进行。在尽可能短的周期内，应至少抽取三个检验批经受表2规定的试验，并应从这三个批的至少一批中抽取样本，经受表3规定的周期试验。当试验一览表中增加了试验组时，样品数也相应增加，并与增加试验组所需的样品数相同。

当一个晶体元件末能通过一个组的全部或部分试验时，计为“一个不合格品”。3.4.3批准

当不合格品数不超过每组规定的允许不合格品数，并且不超过规定的总的允许不合格品数时，可以按3.4.1或3.4,2的程序获得鉴定批准。3.4.3.1结构类似的扩展

在规定的频差和工作温度范围已获得批准的情况下，制造厂在以下范围内允许提出中请批准：a）在更窄的T.作温度范围内的相同频差：b）在相同的工作温度范围内的更宽频差！e）在升高的温度下的相同调整频差（伐适用于温控型）d）当切角控制能力相同时，牵温度范围内的更小频差（见注释）；e）当划角控制能力相同时，宽温度范画内的更宽频差（见注释)；f）当切角控制能力相同时，等效的频率-温度系数（仅适用于温控型)（见注释）；g）a)至f)规定的上作温度范圈内，总题差不小于调整频差和频率-温度变化的总和；h）不同于巴被批准的电路条件：i）低于已被批谁的激励电形：

j）更松的电气参数允差，包括老化：k）较特殊的环境要求，

GB/T 16517—1996

让；从典型的AT切颊率-温度曲线上可以看出，频率-温度变化与切角有关。因此，由A组检验所证实的切角控制给出晶体元件额率-温度特性的控制须d)e)和f)是根据下述事实.如果切角测量控制能力能够量化，则右同的控制等级能够用于给定的频率-瓶度特性在不同工炸温度范国的偿一以角应技IECQC001002中11.5进行指准的继持，3.5质量一致性检验

应按IFCQC001002中12章规定进行质量-致性检验。空白详细规范应规定每个详细规范所应包括的用于质量致性检验所需的最少试验的一览表。3.5.1检验批的构成

1) A 组与 B组检验

这些检验应按本规范表2以逐批检验为基础进行。检验批应由现行生产的结构类似晶体元件构成，2)C组检验

这些检验应按本规范表3以周期检验为基础逆行。样本应代表规定周期内的现行生产的产品。表1鉴定批准试验抽样方案和允许不合格品数GJ3/T12273-1996条款号和试验

1. 5.1日检A

1.7.9绝缘电阻

4.8.2密封

4.7.1额率和谐报电队

4.布2尺检验B

4. 7. 2 激感电相关性

4.7.3数牵和振屯正随温度的变化4.7.4无用响应

4.7.5并电容

4. 7. 8 动态参数

4.9.1老化

4.8.4或4.8.5快速温度变化

4.8.3项目1

可原性

4. 8. 3 项目 2)

耐焊接热

1. 8.16在清洗液中浸溃

4.8.1引出端强度

4.8.6碰撞

2.8.7振动

4. 8. 8冲出

4. 8.±4气候顺序

4. 8.15稳态湿熟

允许不合格品数

1至8组总数

GB/T 16517—1996

表2逐批检验

GB/[2273—1996条款号利试验

4. 5.1 月检 A

4. 7.1 频率和谐振且阻

4.7.9绝缘电正

4. 7. 2 激励电-相关性

4.7.3赖率和讲娠电阻随温度的变化4. 7. 41 无用响应

4. 7.5 并电容

4. 7.9 动态参数

4. 6. 2 尺寸检验 B

4.8.2密封试验

4. 8. 4 或 4. 8. 5 快速温度变化AQL

合格质量水平。

表3周期检验

GB/T122731996条款号和说验

4. 另. 16 在清洗液中浸渍

4. 8. 1引岛端烟度

4. 8. 3项目1)

可焊性

4. 8. 3项目2)

耐焊接热

4.9.1老化

4.8.14气候顺序

4. 8. 6 碰撞

4.8.报动

：4.8.8冲山

4.8.15稳态湿热

检查水平

（月）

允许不合

格品数

GB/T 16517—1996

表4鉴定批准试验一览表

表中条款凸参见GB/T122731996第2章和第4章，D破坏性的:

ND—-非破坏性的

条款号和试验顶序

4.5.1检A

4. 7.9 绝缘电

4.8.9项山2

细检衔试验

（真空萝荒涂外）

4. 8. 2颁口1)

料检据试验

（真空英壳除外）

4.8.2项月3)

真空品体元件的

真空度读验

(仅用真空玻壳)

7.1数率和谐服电阻

4. 6. 2 尺寸检验 B

4.7.2散励电平相关性

4.7.3频率和谐振电阻随温度约变化试验A4.7.3频率和谱狐电阻随混度防变化试验B2组

1.7.4无月询应

4-7.5并电容C:

4.7.8动态参数

动态电容C

或劲声丰感L

及动态电阻R：

4.9.1老化

项 1)

试验 A

试验 B

样本大小与充

许不合格品数

见表1

见表1

见表1

见表1

见表1

须目1)

项目3）

4.7.1详细

规范规定

按详细规范规定

试验B

其比值在详细

规范中规定

按详细规范规定

按详细规范规定

按逆细规范现定

条款号和试览顺序

4.8.5规定转换时间的快速温度变化或（仅用于金属盒型）

4.8.4快速温度变化，两箱法

【（仅用于真空壳）

4. 8. 3 项目 1)

可焊性

（仅用于软引线盒型）

4. 8.3项目2)

耐焊接热

晟终检验

4. 5. 2 月检 B

4.8.2项目2）

细检滑试验

(真空被壳除外）

4.8.2项白 1)

相检漏试验

(真空玻壳除外）

4. 8.2项目 3)

真空晶替光件的

真空度试验

（仅州于真空愛壳）

4.7.1额率和游振电阻

4. 8.16 在清洗液中浸溃

4. 8. 1 项月1)

引出端拉力科推力试骑

4. 8. 1项目2)

线状引出端的可弯曲性

4.8.1项目)

引出端的李曲试验

(只对切槽猛针式的>

最终检验

4. 5. 2 目检 L

GB/T 16517-1996

表4（续）

项目1)

项目2）

攻目2）

项目1)

样木大小与允

许不合格品数

见表1

见表1

项目1)

项目2)

须目1)

项日3

按谱细规范规定

志清晰

项2）

项层3）

1. 8. 2填2)

条款号和试验顺序

细检潴试验

(真空被壳除外）

4.8.2项目1)

粗登漏试验

(真空被尧除外）

4. 8.2项3)

真空晶体元件的

真空度试验

（仅用丁真空被亮）

4.8.6碰撞

1.8.7报动

4.8.8冲击

最终检验

4. 5. 2 售检 B

4.7.1频率和谐振电阻

4. 8.14气候顺序

最整检验

4.7.9绝练电

4. 7. 3 质率和谐振毛阻随温度的变化(真空玻壶除外）

试验B

4. 8. 2 项目3)

真空晶你元件的

真空度试验

【仅用于真空联壳】

4-7.1额率和详振电所

4. 5. 2 日检 R

4. 5. 3 出拾C

4.8.15稳态证热

最格验

GB/T 16517—1996

表4(续)

项月2）

项目1）

试验 B

项3）

祥本大小与允

许不合格品数

见表1

典表1

见表！

见表1

项目1）

项目3

按详细规范规定

德验3

项后3）

按详细规范舰定

条款号和试验顺序

4.7.9绝缘电阻

4. 7. 3 频率和谐振阻随温度的变化（真空鼓壳除处)

试验B

4. 8. 2项日3)

真空品体元件的

真空度试验

（仅用于真空鼓壳）

4.7.1频率和谐振电阻

4.5.3日检C

CB/T16517-1996

表4(完）

试验B

样本大小与充

许不合格品数

见装1

斌验B

项月3)

按详组规范规定

北检院检验检测中心能够参考《GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

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检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。