SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范

标准中涉及的相关检测项目

很抱歉，我无法访问SJ 20075-1992或其他任何具体的标准文件。但是，我可以为您提供一些有关半导体集成电路领域的一般信息。如果您需要有关该标准的具体信息，我们建议您查阅实际的标准文件或相关权威资源。下面是一些通常在半导体集成电路检测中可能涉及的项目和方法：

检测项目：

• 功能测试：确保集成电路在设计的条件下可以实现所有预期功能。
• 电气特性测试：包括阈值电压、电流消耗、增益等的测试。
• 环境适应性测试：如温度、湿度和电磁兼容性等。
• 可靠性测试：包括老化测试、热循环测试等。
• 机械性能测试：如封装强度、引脚强度等。

检测方法：

• 自动测试设备（ATE）：用于大规模的功能和性能测试。
• 参数分析：使用示波器、万用表等设备进行了电气特性分析。
• 环境测试：使用温湿度箱、振动台等。
• 失效分析：包括扫描电镜、X射线断层扫描等。

涉及产品：

• 任何使用Jμ8259A型可编程中断控制器或类似产品的设备。
• 集成该控制器的系统，如计算机、嵌入式系统等。

请务必参考具体的SJ 20075-1992标准文件以获取详细信息。

SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范的基本信息

标准名：半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范

标准号：SJ 20075-1992

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：1992-11-19

实施日期：1993-05-01

标准状态：现行

SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范的简介

本规范规定了半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。SJ20075-1992半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范SJ20075-1992

SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准SJ 20075—-92

半导体集成电路

Ju8259A型可编程中断控制器

详细规范

1992-11-19 发布

1992-05-01实施

中华人民共和国机械电子工业部发布1范用

1.1上题内容·

1.2用范闹

1.3分类…．

2引文件

3要求

3.1详细要求

3.2设计。结构和外形尺寸

3.3引线材料利涂覆.

3.4电特性

3.5电试验要求

3.7徽电路组的划分

4质单保证规定

批样和检验

4.3鉴定检验·

4.4质量一致性检验

4.5检验方法·

5交货准备

5.1包装要求

6说明事须

6.1关丁测试矢量的一般规定

6.2订货资料

6.3功能说明、符号和定义

6.4替代性

TYKAONKACa-

中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路

Ju8259A型可编程中断控制器详细规范1范围

1.1主题内容

SJ 20075--92

本规范规定了半导体集成电路Ju8259A型可编程中断控谢器（以下简称器件）的详细要求。

1.2适用范

本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类

本规范对微电路按器件型号、器件等级、封装形式、额定值利推荐工作条件米分类1.3.1器件编号

器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号

器件型号如下：

器件型号

Jμ8259A

1.3.1.2器件等级

器件名称

可编程中断控制器

器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。本规范中未对B1级另加说明的条款应理解为与B级相同。1.3.1.3封装形式

封装形式如下：

封装形式1

D28L3（28死线陶瓷直插封装）

C28P3（陶瓷无引线片式载体封装）注：1）按GB7092《半导体集成电路外形尺寸》。1.3.2绝对最人额定值

绝对最人额定值如下：

中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施

财存温度范围

在·i端相对于yss端电压

非绒耐接温度（5s）

结（7,=125\C)

1.3.3推荐7作条件

推荐1作条件如下：

山源电

轻入站电平电

输入低出单电压

外充工作温度范制

引用文件

SJ29075—92

中参数文字符号

GB3431.1—82半导体集成电路文字符号GB3431.2—86半导体集成电路文学符号引山端功能符号GB4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法3平导体集成电路外形大寸

GB7092—93

微电子器件试验方法利程序

GJB 548--88

GJB597—88

微电路总规范

GJB105电子产品防静电放电控制手3要求

3.1详细要求

各项婴求应按GJB597和1本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸

设计、构和外形尺寸应符合GJB597和本规范为规定、3.2.1端排列

引山端排列应符合图1的规定。引端持列为俯视图，2-

TTKAONKAa-

5##3如的#

SJ 20075-—92

国IR4

国IRI

中AR风风

片式载体封装引出端排列

图「引出端排列

3.2.2功能柜图

功能框图应符合图2的规定。

DO-~D7

数据总线

缓冲器

级联缓

冲器/比

中医服务

寄存器

CASO12

CASI13

V'ss14

16SP/EN

双列封装引出端排列

优先权

分解器

中断所蔽寄存器

(IMR）

图2功能框图

中商诗求

寄行器

3.2.3功能说明、符号和定义

SJ 20075—92

功能说明、符号和定义，应符合本规范6.3条的规定。3.2.4封装形式

封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定3.3引线材料和涂覆

引线材料和涂覆，应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性

心特性应符合表1的规定：若光其它规定，适合于全工作温度范司3.5也试验要求

各级器件的电试验婴求，应为表2所规定的有关分组，各分组的也测试按表3的规定。

3.6标悲

标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7微电路组的划分

本规范所涉及的器栏为第I07微山路组（见GJBS97附录E）。表1电特性

输入低电平电压

输入高虐非电压

输出低电平电压

输出高电平电压

中断输出高电平

入负载电流

给出阻态时商

电子电流

翰出高阻态时低

电平电缆

电源电流

输入电容

输入/瀚出电容

AU/CS建立时间

到RD/INTA+)

RD.INTAT后 A0

CS保持时间

RD脉究

YoHOINT)

fsu AN-RJ)

Th(RIE-AX)

TwiRLI

条价2

IoL-2.2mA

ToH — -400 μA

TOH--100μA

LOH=-400 μA

,=0 V~ VDD

Vo=0.45 V~VDD

Vo-VpD

Tc=25 °C, VT, =0 V,

F-I MH/

Tc=25 °C, VDD =0 V,

非测试端接Yss

规范值

TTKAONKAa-

A0.CS建立时间

(到WRJ)

WRT活 AO/CS

保持时间

WR脉宽

数斑建时写

（到WRt）

WR个后数据保

持时闻

中断谱求脉宽

(低电华）

第二次或第兰次

INTAI 尚 CAS

建之附间（汉从

RD结束到下一

个命令并始的持

续时间

WR 结束到下

个命令开始持续

数据有效间

( RDI INTAY

并始）

RD/ INTA个后数

指慰牢时间

suAH-W)

thWH-AX

fauTVWHy

fh(W-Dx)

SJ 20075—92

续表1

条件3）

tqu(CASV-INTAL)

TarRI-DVy

Ti(RH-DZ)

，山渐输出延迟时：

IArERH-[NTH)

CAS有效时间

(从第-次INTA)

开始）

充许有效时间

(从RD个或

INTA\\开始）

I(INTAL-CASV)

ta(RI-ENL)

数据总线电容C为：

最大测试电容100 pF

最小测试电容 15pF

序号1）

允许无效时间

（从RDt或

INFA+开始）

数据有效时间

（从有效地址开

CAS 有效到数

据总线有效时间

(RH-ENH

TnAHE-DV

th (CASV-DV)

SJ 20075—92

续表1

条件2）

数据总线电容为：

段人测试电容100 pF

最小测试电容 15pF

注：1）本表中参数的序导与时序图中参数的编号是一致的。2）若无其它规定，Ts=-55~125°C，Vpp=5±0.5V，Vss-0 V表 2 电试验要求

试验要求

中司（老化前）电测试

（方法5004）

最终电测试\

（方法5004）

A试验要求2)

（方法5005）

B组YZAP试验

C组终点电测试

（法5005）

C 组检验增加的分组]

D组终点电测试

（方法5005）

A1, A?

B级器件

规范值

分组（见表3）

AI. A2, A3, A7+ A8, A9, A10.An

A1, A2, A3, A4, A7, A8, A9,

Aln,A11

见本规范4.5.3条

A2, A3, A8

不要求

A2，A8（仅125°C）

注：1）AI，A7分组要求 PDA计算（见本规范4.2 条）2）A4分组（C、G:g）仅用于鉴定（见本观范4.4.1条）。6

BI级器件

A1t A2, A3, A7, A9

A1. A2, A3, A4, A7. A9

见本规范4.5.3条

A2,A8 (仅125 °C)

A2，A8（仪125°℃)

TTKAONKAa-

YOHINT

SJ 20075—92

表3A组电测试

foL -2.2 mA

IoH =-400 μA

foH--100 μA

foH =-400 μA

Vi-0 V~Vpp

Vo =0.45 V~Vpp

Vo-Vep

1除T-125℃C外，参数、条件、规范值均同A1分组，除Tc--55C外，参数、条件、规范值均同A1分组G

Yop=0 V, F-I MHz

Yun=0 V.未测试端接 Vss

规范值

按6.2条的规定，Te-25°C，在Ypp=4.5V和Vpp=5.5V下分别进行功能测试除Tc55°℃和125℃C外，均同A7分组，FUAH-RLY

th (RH-AX)

Lsu(AH-WLI

hWH-AXI

s(DY-WHI

ThrWH-DX

Fu(CASV-INTAE)

drRL-DV

thrRH-DZ)

dIRH-INTHE

FaINTAL-CASV

Ld(RL-ENL).

LarRH-ENH

thrCASV-DV

数据总线电容C为：

最大测试电容100 pF

最小测试电容 15 pF

SJ 26075—92

表 3 A组电测试

除T-125°℃C外，参数、条牛、规范值均同A9分组。A11除Tc--55\C外，参数、条件、规范值均间A9分组。源

注：（i）RI取合适的限流电阻：② C1-100 pF+20%:

③VzAP=400V，在器件入端上溉得；淘脉冲转换时间（tTLH）≤5Uns（10%~90%）。o

图3高电压（Vap）试验电路

规范值

接被测器件

TYKAOIKAca-

SJ 20075—92

500 ns -

500 ns

老化前必须进行下列预置：

、17端的输出信号，

注：老化过程中观察12、13、15、D7

图4老化和寿命试验线路图

斌址总晚

数摄总线

RBINTA

堆琳想嫂

素猫总赖

SJ20075—92

测试点

图5交流测试输入/输出波形图

Ci-100 pFt)

注：1）C 包括夹具电容。

图6交流測试负载电路

图7写周期波形图

图8读/INTA时序图

TYKAOIKAca-

现行

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。