SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范

标准中涉及的相关检测项目

《SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范》中涉及的检测项目通常包括：外观检查、电气性能测试、温度特性测试、环境可靠性测试等。这些检测项目为确保产品的质量和性能提供了标准化的质量控制手段。

• 外观检查：检查产品的外观是否符合设计标准，排除物理损伤或缺陷。
• 电气性能测试：包括逻辑功能测试、静态参数测试（如直流电平和电流消耗）、动态参数测试（如传播延迟时间、上升和下降时间等）。
• 温度特性测试：测试集成电路在不同温度条件下的稳定性和工作性能。
• 环境与可靠性测试：包括温度周期测试、湿热试验和其它应力测试，以评估器件在极端条件下的可靠性。

• 使用标准的测试仪器进行电气参数的测量，以确保参数符合规范要求。
• 环境实验室提供的温度和湿度控制设备，用于可靠性测试和特性评估。
• 外观采用目测或显微镜检查，确保物理完整性以及无外观缺陷。

该标准涉及的产品主要是JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL数据选择器，这些集成电路器件广泛应用于各种电子系统中，特别是在需要高速度和可靠性的场合。

SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范的基本信息

标准名：半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范

标准号：SJ 20158-1992

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：1992-11-19

实施日期：1993-05-01

标准状态：现行

SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范的简介

本标准适用适用于器件的研制、生产和采购。SJ20158-1992半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL数据选择器详细规范SJ20158-1992

SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准SJ20158—-92

半导体集成电路

JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器详细规范

Detail specification for types JIT54S151.JT54S153 and JT54S157DATASELECTORS/MULTIOLEXERS

of S-TrL semiconductor intcgrated circuits1992-11-19发布

1993-05-01实施

中华人民共和国机械电子工业部发布1范困

1.1主题内容．

1.2适用范围

1.3分类

2引用文件

3要求

3.1详细要求·

3.2设计、结构和外形尺寸

3.3引线材料和涂覆

3.4电特性

电试验要求

3.6标惠

3.7微电路组的划分

4质敏保证规定

抛样和检验

鉴定检验：

质量一致性检验

检验方法

5交货准备

5.1包装要求…

6说明项

6.1预定用途·

6.2订货资料

6.3缩写、符号和定义

6.4替代性

TIKAONKAa-

中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路

JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器详细规范

Detail specification for types JT54S151, JT54S153 and JT54S157DATA SELECTORS/MULTIOLEXERS ofS-TTL semiconductor integrated circuits1范围

1.1主题内容　

SJ20158—92

本规范规定了导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围

本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类

本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件来分类。

1.3.1器件编号

器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号

器件型号如下：

器件型

Jr54S151

JT54S153

JT54S157

1.3.1.2器件等级

器件名称

8选1数据选择器（有选通输入端，互补输出）双4选1数据选择器【有选通输入端）四2选！数据选择器（有公共选通输入端）器件等级为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级，1.3.1.3封装形式

封装形式如下：

中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施

1.3.2绝对最人额定值

绝对最大额定值如下：

电源电压

输入压

财存温度

JT54S151

JT54S153

JT54S157

引线耐焊接温度（10 s）

绍温2)

5J2013892

封装形式（按GB7092《半导伴使成心路外形尺寸》）C20P3（瓷无引线武载体封装）

D16S3（陶瓷双列封装）

F16X2（陶瓷扁平封装）

H16X2（陶瓷熔封瘤平封装）

J16S3（陶瓷熔封双列封装）

注：1）器件应能经受测试输出短路电流（oE）时所增加的功耗：2）除本规范4.3条老化试验外，结温不应超过175°C1.3.3推荐T作条件

推荐工作条件如下：

电源电压

输入高电平电压

输入低电平电

输入高电平心流

输入低电平流

工作环境温度

2引用文件

GB3431.1—82半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2一86半导体集成电路文字筹号引出端功能符号殿大

GB3439—82平导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB4590—84学导体集成电路机械和气候试验方法GB4728.12—83电气图用图形筹号二进制逻锌单元2

HTTKAONKAca-

$20158—92

GB7092—93半导体集成电路外形尺寸GJB548-88微电子器伴试验方法和程序GJB597—88微电路总规范

GJB/Z105电子产品防静电放电控制手册3要求

3.1详细要求

务项要求应接GJB597利本规范的规定。3.2、设计、结构和外形尺寸

设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定：3.2.1逻辑符号、逻辑图和引山端排列逻辑符号、逻辑图利引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。a：JT54S151

逻辑符号

、F、H、J型

引拍端排列

1 择

逻辑图

h.JT54S153

逻辑符号

SJ20158—92

(14)(15)(1)(2)(3)(A)

(11)(12) (13)

D、F、H、J型

引出端洋列

1ehYec

15h23T

1 20 19

TKAONKAa-

遥骅图

SJ20158—92

2ST2D2D22P12DoAp

c.JT54S157

逻符号

AIDID2IDIIDa1ST

引山端排列

E)、F、H、J型

逻辑阁

16 Yec

130：

212019

174401

14g300

910111213.

4D14Do3D13Do 2D12De 1D11Dr

图1逻辑符号、逻辑图和小端排列5

TKAONKAa-

3J 20158—92

3.2.2功能表

功能衣如下：

a.JTS4S151

JT54S153

JT54S157

注：为高电：I.为低电：×为任意态。D～D,为相应D~D的补码。3.2.3电源理图

制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。电原理图应出鉴定机构存档备查3.2.4封装形式

sJ 20158—92

封装形式应按本规范1.3.1.3条的见定,3.3引线材料和涂覆

引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6的规定。3.4电特性

电特性应符合本规范表1的规定。表1-1JT54S151的电特性

条件1)

输出高也电压

输山低平电压

输入登电压

最大输入电压时输入电流

输入商电平流

输入低电半电流

输山知路屯流2）

电源电流

传输延避时间

注：1）完整的测试条件刻于表3。2）每次只能短路一个输出。

（若无其他规定

-55\C≤T≤125°C)

Vre=4.5 V, Vr-2.0 V

on-1mA

Pcc=4.5 V, VIH-2.0 V

Vn=0.7 V, fot=20 mA

Vcc-4.5 V, Iik--18 mA

Vec=5.5 V, V=5.5 V

Vcc=5.5 V, Vi-2.7 V

Vcc-5.5 V, Vf-0.5 V

R,=2802

Ci-15 pF

任～A→Y

任—A→W

任—D→Y

任—D→W

ST-→Y

ST-→W

规范值

输：高电平电压

轮低示

输入针位电

最人输入电东时输入电流

输入电平电流

输入低平流

输山短路电流2）

电源电流

传输延迟时间

SJ20158—92

表1—2JT54S153 的电性

条件1

法：1）完整的测试条件列于表3。2）每次只能知路一个输出端。

（茗无H他就定

55°C≤T≤125 \C

Vc-4.5 V, Vmr=2.0 V

or=-I mA

Vcc=4.5 V. ViH-2.0 V

Vr-0.7 V, lot-20 mA

Ycc-4.5 V, Jk--18 mA

Yce-5.5 V, Vr-5.5 V

Vcc=5.5 V, Vi-2.7 V

Vcc=5.5 V, V-0.5 V

Yco-S.5 v

RL=280

Cr=15 pF

任A→Y

任·D→Y

规范個

TTKAONKAa-

输出高电平电压

输出低电平电压

输入钳位电压

最大输入电压时输入电流

输入高电平电流

输入低电平电流

输出短路电流2）

电源电流

传输延迟时间

sJ 20158—92

表1-3 JT54S157的电特性

注：1）完整的测试条件列于表3。2）每次只能短路个输山蹦。

电试验要求

（无其他规定

55 °C≤T≤125 °℃)

Ycc=4.5 V, Vu-2.0 V

Ton--1 mA

Vcc=4.5 V. VtH-2.0 V

Vr=0.7V, lor=20 mA

Vcc=4.5V, IIk=-18mA

Vec=5.5 V, Vr-5.5 V

Vox-5.5 V. V,-2.7 V

Voc=5.5 V, V-0.5 v

Vox=5.5 V,A、ST输入端

Rt=2800

CL=15 pF

—A→1

任D→Y

ST→+Y

规范值

各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。

表 2电试验要求

中间（老化前）电测试

中间（老化后）出测试

最终电测试

A组试验要求

C组懿点电测试（方法5005）

C组检验增加的分组

B级器件

A2.A3,A7、A9

分组（见表3）

BI级器件

A2, A3. A7、A9

A1, A2, A3 A7、A9, A10, At1

A1,A2,A3

不要求

D组终点电测试（方法5005）

A1,A2,A3

注：1）该分组要求PDA计算（见4.2条）。AI. A2, A3, A7、A9

A1, A2, A3

AlU，All

Al. A2, A3

引用标雅

GB3439

SJ 20158—92

表3—1 JT54S151电测试

（若无其他规定，T=25°C）

Vcc-4.5 V,A输入端 Vlr=0.8 V,测Y(被测输山端 IoH=-1 mA）A 输入端接 Vm=2.0V，测W（被测输出端In=-1mA）

Vcc=4.5V，A输入端Fi=0.8V.测W（被测输出端Fal =20 mA）A输入端 Vu-2.0 V,测 Y(被测输出 IoL=20 mA)

Vcc=4.5 V,被测输入依次 Ik=18 mAVcc=5.5V，ST和A按功能表顶置，被测输入V-5.5 V

Ycc=5.5V,ST和A端按功能表预置，被测输入V-2.7 V

Vcc=5.5V，ST和A端按功能表预置，被测输入V-0.5 V

Vcc=5.5 V,测W输出时，A端V-5.5 V,ST，D7接地

测Y输出时，DO0接V,=5.5V、ST，A端接地

Vcc=5.5V，所有输入接地，输出端开路规范值

最小最人

T,-125\C外，除 VIk不测试外，参数、条件、规范值婴求同 A1 分组TA=-55℃C外，除 Vik不测试外，参数、条件、规范值要求同 AI分组。功能

Vcc=5.0V，按功能表测试

Vcc5.0V，见本规范图2

任— A→Y

任—A→W

在 D-→Y

任— D→W

ST→Y

ST-→W

KAONKAca-

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。