SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范

标准中涉及的相关检测项目

《SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范》是关于半导体集成电路的技术规范。以下是该标准中提到的一些相关内容，包括检测项目、检测方法和涉及产品：

1. 检测项目：

• 直流参数测试：包括输入电流、输出电流、电压阈值等。
• 交流参数测试：包括传播延迟时间、上升和下降时间等。
• 功能测试：验证译码器是否能正确地进行译码功能。
• 耐久性测试：测试译码器在不同温度和湿度条件下的性能。
• 可靠性测试：测试长时间工作下的性能稳定性。

2. 检测方法：

• 使用集成电路测试仪进行自动参数测试。
• 采用示波器检测传播延迟及波形上升、下降时间。
• 通过逻辑分析仪验证译码器的功能状态输出是否正确。
• 在环境试验箱中进行耐久性测试，以及进行周期性测试以评估长期可靠性。

3. 涉及产品：

• JT54LS155型LS-TTL译码器。
• JT54LS156型LS-TTL译码器。

这些译码器通常用于数字电路中，用于将二进制数据转换为选中的返回线路组合，是数字系统设计中常用的一种组件。

SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范的基本信息

标准名：半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范

标准号：SJ 20159-1992

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：1992-11-19

实施日期：1993-05-01

标准状态：现行

SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范的简介

SJ20159-1992半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL译码器详细规范SJ20159-1992

SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962

半导体集成电路

SJ20159—92

JT54LS155和JT54LS156型

LS-TTL译码器详细规范

Detail specification for types JT54LS155 and JT54LS156DECODERS of LS-TTL semiconductor integrated eircuits1992-11-19发布

1993-05-01实施

中华人民共和国机械电子工业部发布1范围

1.主题内容

1.2适用范围·

1.3分类

2 引用文件..

3.1详细要求

3.2设计、结构和外形尺寸

3.3引线材料和涤覆

3.4电特性

3.5试验耍求·

3.6标志

3.7微电路组的划分

4质革保证规定

4.1抽样和检验

4.2筛选·

4.3鉴定检验

4.4质量致性检验·

4.5检验方法

5交货摊备·

5.包装要求．

说明事项

6.1预定川途…

6.2订货资料

6.3缩写、符号和定义

6.4替代性

(23）

(23）

（23）

(24）

TIKAONKAa-

中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路

JT54LS155和JT54LS156型

LS-TTL移位寄存器详细规范

Detall specificatlon for types JT54LS155 and J'T54LS156DECODERS of LS-TTL seniconductor integrated circults1范围

1.1主题内容

SJ 20159—92

本规范规定了半导体集成电路[T54LS155和JT54LS156型双2线-4线译码器（以下简称器件）的详细要求。

1.2适用范围

本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类

本规范给山的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐「作条件分类。1.3.1器件编号

器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定，1.3.1.1器件型号

器型号如下：

器件型号

JT54LS155

JT54LS156

1.3.1.2器件等级

器件名称

双2线-1线译码器（图腾柱输山）双2线-4线译码器（0输出）

器伴等级应为GB 597第3. 4条规定的 B级和本规范规定的B,级1.3.1.3封装形式

封装形式如下：

中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施

1.3.2绝对最大额定值

绝对最大额定值如下：

电源电压

输入电压

贮存温度

功耗1）

引线耐焊接溢度（10 s）

结温21

SJ 2015992

封装形式（GB7092《半导体集成电路外形尺寸》）C2OP3（陶瓷无引线片式载休封装）D16S3（陶瓷双列封装）

F16X2（陶瓷扁平封袭）

HI6X2（陶瓷熔封扁平封装）

J16S3（陶瓷熔封双列封装）

注：1）器件应能经受测试输出短路电流（1g）时所增加的功耗。2）除本规范4.3条老化试验外，结温不应超过175℃。1.3.3推荐工作条件

推荐工作条件如下；

HTTKAONKAca-

电源电压

输入高电半电压

输入低电平电压

输出高电平电流（JT54LS155）

输山截止态电压（JT54LS156）

输山低电平电流

工作环螃温度

2引用文件

SJ 20159—92

GB3431.1-82半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2-86半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB3439-82半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB4590-84半导体集成电路机械和气候试验方法GB4728.12-85电气图用图形符号二进制逻辑单元CB7092半导体集成电路外形尺寸GJB548-88微电子器件试验方法和程序GJB597-88微电路总规范

GJB/Z105电子产品防静出放电控制手购3要求

3.1详细规范

各项要求应按GJB597本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸

设计、结构和外形尺寸应按GJB 597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列最大

逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定，引出端排列为俯视图。3-

JT54LS155

逻辑符号

逻辑图

(2)1ST

1)IST,

SJ 20159—92

D、F、H、J型

15h2s元

12b 2Y,

引出端排列

17 A。

910111213

15) A -

(15) 29T. -

(14)2ST,

TTKAONKAa-

JT54L.S156

逻辑符号

1o6（61

逻辑图

SJ 2015992

D、F、IH、J型

133 A,

(15>2ST

(4)2ST

16b vce

l4p 2st

引汕端扑列

3 21 70 19

N-Y(5)

-2Y*t91

2Y12）

TKAONKAa-

SJ20159--92

3.2.2功能表

3. 2.2. 1JT54LS155 的功能表如 :双2线-4线译码

3线-8线译码

3.2.2.2JT54[S156的功能表如下：输

SJ 20159—-92

双2线-4线译码

3线-8线译码

注：H为高电半、L为低电半、X为任意态、OFF为截止态：A为1ST和2S相连接，T为1ST和2ST相逆接。

3.2.3电原理图

SJ 20159—92

制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。电原理图应由鉴定机构存档备查。3.2.4封装形式

封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆

引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定，3.4电特性

电特性应符合本规范表1的规定。表1-1JT54LS155的巾特性

条件1）

输出高电子电压

输出低电平电压

输入钳位电压

最大输入电压时输入

输入商电平电流

输入低电平电流

输出短路电流

电源电流

传输延迟时间

（若无其他规定，-55≤≤125℃）Vm=4. 5 V, Ku=2. 0 Y, lan=-400 μAVtc=4. 5 V, Vl=2. 0 V, Vt=0. 7 V, Ia,=4 184Vom-4. 5 V, I1k--18 mA, 7,=25 CF=5.5 V, V=7. 0 V

Ve-5.5 v, K-2.7 V

Va-5. 5 V, V-0. 4 V

Vec=5. 5 V

R=2 k,

C=15 pF

注：1）完整的测试条件列于表32）每次只能短路·个输出端。

AA,257.1S..2ST.

→任—(2级)

A，A→任—（3级）

1ST-任- (3级)

规范值

TTKAONKAa-

输出低电半电压

输出藏上态电流

输入钊位电压

最大输入电压时输

入电流

输入高电平电流

输入低电平电流

电源电流

传输延迟时间

SJ 20159--92

表1-2JT54LS156的电特性

（若无其他规定，55≤≤125℃）Ne=4. 5 V, K=2. 0 V, V=0. 7 V, I,=4 m4c=4. 5 V, V=2. 0 V, VI=0. 7 V V,=5. 5 Vc=4. 5 V, Ik= 18 mA, T=25 CNe=5. 5 V, V-7.0 V

Ve=5. 5 V, V=2. 7 V

V=5. 5 V, -0. 4 V

Ke=5. 0 Y

R-2kn,

G=15 pF

注：1）完整的测试条件列于表3。3.5电试验要求

A, A,2STg 1ST, 2s7

→任·y(2级）

Aa，A→任—(3级）

1ST+任—（3级）

规范值

各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分纽，各分组的电测试按本规范表3的规定。

中间（老化前）电测试

中间（老化后）电测试

最终电测试

A组试验要求

C组终点电测试（方法5005）

C 组检验增加的分组

D纽终点心测试（方法5005）

SJ20159—92

表2电试验要求

分组(见表 3)

B级器件

A2. A3, 47, A9

AI,A2A3A7,A9,A10,A11

A1, A2, A3

不要求

A1，A2，A3

注：1）该分组要求 PDA计算（见 4.2案）。表 3-1 ,IT54LS155 的 A 组电测试分组

引用标准

GB3439

（若洗其他规定，T=25 ℃）

B级器件

A2, A3, A7, A9

A1, A2,A3, A7. A9

Al, A2, A3

A10,11

AI+42,A3

规范值

Wt=4. 5 V,S7,端 Vm=2. 0 V, 被测输出 Lg=-400 μA 2. 5Ve=4.5V,AgA、丽T、T（ST）按功能表预管相应电压，Vu=2.0V，Vm=0.7V，被测输出Tu=4 ma

Vc=4. 5 V, 被测输入依次 Ir=-18 m4Vc5.5V被测详码器输入依次V-7.0VKc=5.5 V,被测译姆器输入依次 F=2.7 Vcc-5.5V,被测译码器输入依次V,-0.4VVee5.5v

1 组译码器 1S7,端 妤-5.5 V，被测输出依次接比2组译码器2.57端5.5V，被测输出依次按地Vr-5.5Y,An、A、157端V=1.5V，S72S7,端接地

TTKAONKAa-

现行

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《SJ 20159-1992 半导体集成电路JT54LS155和JT54LS156型LS—TTL 译码器详细规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。