SJ 20279-1993 半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范

标准中涉及的相关检测项目

标准《SJ 20279-1993》主要针对半导体集成电路中的JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门进行详细规范。下面是该标准提到的相关内容：

• 静态参数检测：包括输入电流、输出电压电平、静态功耗等。

• 动态参数检测：如传播延迟时间、上升时间和下降时间等。

• 功能测试：确保与门逻辑功能正常运作。

• 环境试验：包括温度、湿度和振动等环境条件下的性能测试。

• 可靠性测试：如寿命试验和加速老化测试等。

• 使用专用测试仪器，例如逻辑分析仪和示波器进行参数测量。

• 在环境测试箱中进行温湿度测试。

• 通过高温运行测试（Burn-in Test）进行老化检测。

• 功能性测试通常采用标准测试向量对电路逻辑进行验证。

• JT54LS08 型与门

• JT54LS09 型与门

• JT54LS11 型与门

• JT54LS15 型与门

• JT54LS21 型与门

此规范提供了详细的检测步骤和技术要求，以确保这些产品在使用中的可靠性和一致性。

SJ 20279-1993 半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范的基本信息

标准名：半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范

标准号：SJ 20279-1993

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：1993-05-11

实施日期：1993-07-01

标准状态：现行

SJ 20279-1993 半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范的简介

SJ20279-1993半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范SJ20279-1993

SJ 20279-1993 半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962

半导体集成电路

SJ20279—93

JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11JT54LS15、JT54LS21型

LSTTL与门详细规范

Detail specification for types JT54LS08. JT54LS09.JT54LS11- JT54LS15 and JT54LS21 AND gatesof LS-TTL semiconductor integrated circuits1993-05-11发布

1993-07-01实施

中华人民共和国机械电子工业部发布1范雁

1.1主题内容·　

1.2适州范

1.3分类…

2引用文件

3要求

3.1详细要求

3.2设计、结构和外形尺寸..

3.3引线材料和涂覆

3.4电特性

电试验要求

微电路组的划分

质量保证规定

抽样和检验

鉴定检验

质量致性检验

检验方法

5交货准备

5.1包装要求

6说明事项

6.1订货资料

缩写、符号和定义

替代性

TKAONrKAca

中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路

JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LSTTL与门详细规范

Detail specification for types JT541.S08, JT54LS09、JT54LS11JT54LS15andJT54LS21ANDgates

of LS-TTL semiconductor Integrated circuits1范围

1. 1主题内容

SJ 20279-—-93

本规范规定了硅单片JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS一TTL与门（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范用

本规范适用了器件的研制、生产和采购：1.3分类

本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值、推荐工作条件分类。1.3.1器件编号

器件编号应按GJB597微电路总规范》第3,6.2条和本规范的规定。1.3.1.1器件型号

器们型号如下：

器件型号

JT54LS08

JT54LS09

JTS4LS11

JT54LS15

JT54LS21

四2输入与门

四2输入与门（OC)

三3输入与门

=3输入旬门(OC)

双4输入可门

中华人民共和国机械电子工业部1993-05-11批准器件名黔

1993-07-01实施

1.3.1.2器件等级

SJ20279-93

器作等级为G.FB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级1.3.1.3封装形式

装形式如下：

封装形式\

C20P3（陶瓷圳线升武载体封装）D14S3（陶瓷双列封装）

FI14X2（陶瓷帛平封装）

H14X2（陶瓷熔封扇封裴）

J14S3（陶瓷烯封双列封装）

注：1）按GB7092&半导体集成电路外形尺寸》。1.3.2绝对最大额定值

绝对最人额定值如下：

电源电

输入电压

存温度

手线耐焊接温度（10 s）

JT54LS11

JT54LS15

JT54LS21

JI541.S08

JT54LS9

注：1）成能康受测试c时所增加的动帮，1. 3. 3推作1作条件

推荐1作条件如下

电源电压

输入高电平压

输入低电闲

输出止态山压

翰山市电自流

FI54LS09

JT54LS15

JT541.S08

r54LS11

JT54LS21

Vororr

规范值

KAoNrKAca-

输山低电平电流

工作环境溢度

2引用文件

SJ 20279—93

规范值

2半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB 3431.1—82

GB3431.2—86半导体集成电路文字符号引出端功能符号最大

GB3439--82半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB4590—84半导体集成电路机械利气候试验方法GB4728.12一85电气图用图形符号二进制逻辑单元，半导体集成电路外形尺寸

GB 7092—93

GJB548-88微电子器件试验方法和程序GJB59788微电路总规范

GJR/7.105电子产品防静电放电控制手册要求

3.t详细要求

各项要求应按GJB597和木规范的规定，3.2设计、结构和外形尺寸

设计，结构和外形欠寸应按GJB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列单

逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引山端排列为俯视图。3.2.2功能表

功能表如下：

JT54LS08.、JT54LS09

JT54LS11、JT54LS15

SJ 20279-93

JT54LS21

注：H—高平 L——低电平。

3.2.3电原理图

制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。各制造厂的电原坦图应由鉴定机构存档备查。

3.2.4封装形式

过装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆

引线材料利涂覆应按GJB597第3.5.6的规定3.4色特性

电特性按表1的规定，

iKAoNrKAca=

JT54LS08

逆辑符号

JT54LS09

遵辑图

遵辑符号

逻据图

SJ 20279--93

引出端排列

D、F、H、型

14 uee

910111213

引出端排列

D、F、H、J型

14时38

910111213/

JT54LS11

逻辑图

JT54LS15

遂辑符号

逻辑图

SJ 20279—93

D、F、H、J型

引出端排列

130 1C

D、F、H、J型

Go cir

2 20 19

9 10111213/

引出端排列

tap vee

3 21 20 19

14 58

10111213

TKANrKAca-

JT54I.S21

逻辑符号

逻辑窗

SJ 20279—93

D、F、H、J型

引出端排列

14pVce

21 20 19

18#2℃

9 10 1112134

图1逻辑符号、逻辑图和引出端排列表1—1JT54LS08的出特性

输高电子电压

输出低电平电压

输入位心压

最人输入电压时输入电流

输入高电平电流

输入低电平也流

输出航路旧流2）

输出品电平时电源电流

输山低电平电源电流

输出山高到低电平砖输延达时间愉出出低到高平传输延迟时间

汽：1）完整的测试条件列于表3。2）每次只短路个输山端，

（若光其他规定

-55 °C≤T≤125°℃)

Vcc-4.5 V, Vrn-2.0 V

loH--400 μA

Vcc=4.5 V. lor.=4 mA,

Vit=0.7 V

Kar:-4.5 V, f.k—18 mA

T, =25 °C

Yc=5.5 V. Ve-7.1 V

Ves-5.5 V, V=2.7 V

Vcc=5.5 V, V-0.4 V

Vec-5.5 V, f-4.5 v

Vcc-5.5 V, V,=0 V

Vcc-5.0 V, Ci.-15 pF*

Rt=2 ko2

Vce-5.0 V, Gt-1s pF

R-2 k2

规范值

输出候电平电压

输人销位出所

轮出截止态电流

最人轮入电出时输入电流

轮入高电电流

轮入低也平电流

输临高电华时电源电流

输出低电平附电源电流

输出内高到低电传输延迟时间

输L!I由低到离电平传输延运时间SJ 20279--.93

表1—2JT54LS09的电特性

THOFE)

汁：1）完整的测试条件列干表3#（若尤头他舰定

-55 °CTA125 2C)

Icr=4.5 V, fnr=4 mA.

Vcc=4.5 V, fik=-18 mA

TA=25°C

Ycr-4.5 V, Vm=2.0 V

Vcc=5.5 V, Vi-7.0 V

Ycc=5.5 V, It-2.7 V

Ycc-5.5 V, V-0.4 V

Veu-5.5 V. V-4.5 V

Vcs-5.5 V, Y-0 V

Vcc=5.0 V, C -15 pF

Ri=2 kn2

Vox=5.0 V, Gt=15 pF

表13JT54LS11的电特性

条外1

输出高电平电压

输出低市平店

输入计资电压

最人输入电压时输入电流

输入商平流

输入低电也流

输郑路电流2

输山高州平时电源电流

输山医心时源流

输函由尚到低电平传输延迅附间8

（若无其他规定

-55 CTA3125 \C)

Vcc=4.5 V, Vir=2.0 V

JOH--400μA

Ycc4.5 V, Iol=4 mA,

YiL-0.7 V

Ycc-4.5 V. Iik--18 mA

TA=25°C

Yc5.5 V, V-7.0 V

Veco=5.5 V, V-2.7 V

Vec-5.5 V, V:=-0.4 V

Vcc=5.5 V, Vip-4.5 V

Vec-5.5 V, F-0 V

Yrr=5.0 V, Gi=15 pF

规范值

观范值

KAoNrKAca-

输出由低到安电半传输延达时

注：1）完整的测试条件列于戈3。2）排次只短路一个输出端

SJ20279—93

续表1—3

条件1

（若无实现定

55 °C≤TA≤125 °C)

Vec=5.0 V, Ce-15 pF

R,-2 k

表1—4

输出低电电压

输入位压

输山截止态电流

最人输入电时输入电流

输入高电平电流

输入低电平电流

输出高电平时电源电流

输出低电平时电源电流

输出出高到低电平传轮延迟时间输出白低到商电平传延迟时间

fororF)

汇：1）完整的测试条件列于表3，54LS15的电特性

条作1》

（若万其他规定

55°C≤TAS125\C)

Vcc=4.5 V, lor=4 mA,

Vcc=4.5 V, dk--18 mA

TA-25\C

Vcc-4.5 V, Vu-2.0 V

Ycc=5.5 V, V=7.0 V

Yec=5.5 V, V=2.7 V

Yee=5.5 V, Vi-0.4 V

Ycc=5.5 V,V-4.5 V

Vec=5.5 V, V=-0 V

Vec:=-5.0 V, Gj=15 pF

RL-2k2

Vcc=5.0 V. Gr=15 pF

现范值

规范值

输泽高电平电压

输油低电平电用

输入登电压

最人输入电压时输入电流

输入电子电流

输入低电将电流

榆山紅路电流2）

输出高电平时也源电流

输出低电平时电源电流

翰出出高到低虱平传输延迟时间输出由低到高电平传输延退时间SJ 20279—93

表1—5JT54LS21的山特性

条4：

注：1）完整的测试条件列十表3。2）每次只短路一个输出端。

3.5自试验要求

（若其他熟宠

-55 C≤T ≤125 \C)

Vcc=4.5 V, Vir-2.0 V

IoH--400 μA

Vcc=4.5 V. Iot=4 mA.

Vcc-4.5 V, Tik--1 ma

TA=25 °℃

Vcs=5.5 V. V,=7.0 V

Vcc=5.5 V, Jf-2.7 V

Ytr-5.5 V. V=0.4 V

Ycc=5.5 V, Vl=4.5 V

Ve=5.s V. V=0 V

Vcc-5.0 V, Gj=15 pF

Ri=2 kn

Vec=5.0 V, CL=15 pF

Rt=2 k

规范值

器件的电试验要求应为表2所规定的有关分纽，各分组的电测试按表3的规定。表2亩试验婴求

中间（老化前）电测试

中间（老化后）测试

最终地测试

A组试验要求

C纠终点电测试

C:组检验增圳约电分纠

D组终点电测试

B级器件

A2, A3, A9

分纽（见表3）

Bt级器件

A2.A3. A9

Al. A2, A3, A9, AlU. All

A1, A2, A3

不要求

注：1）该分组要求PDA计算（见本规范4.2条)。10

AI. A2, A3, A9

Al, A2, A3

A10，A11

AE. A2, A3

TKAoNrKAca-

北检院检验检测中心能够参考《SJ 20279-1993 半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范》中的检验检测项目，对规范内及相关产品的技术要求及各项指标进行分析测试。并出具检测报告。

检测范围包含《SJ 20279-1993 半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范》中适用范围中的所有样品。

测试项目

按照标准中给出的实验方法及实验方案、对需要检测的项目进行检验测试，检测项目包含《SJ 20279-1993 半导体集成电路JT54LS08、JT54LS09、JT54LS11、JT54LS15、JT54LS21型LS—TTL与门详细规范》中规定的所有项目，以及出厂检验、型式检验等。

热门检测项目推荐

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。