标准中涉及的相关检测项目
《SJ 20642/5-1998 半导体光电模块GH82型光耦合器详细规范》是针对GH82型光耦合器的行业标准，规定了生产和检测这些器件的要求。以下是标准中提到

标准中涉及的相关检测项目
标准《SJ 20642/3-1998 半导体光电模块GD83型DIN—FET光接收模块详细总规范》中提到的相关检测项目通常包括以下几项：


光电性能检测：包括光电

标准中涉及的相关检测项目
《SJ 20642/1-1998 半导体光电模块GD81型DIN—FET光接收模块详细总规范》中提到的相关检测项目通常包括以下几个方面：


电气特性测试：这包括光电

SJ20641-1997红外探测器用锑化铟单晶规范SJ20641-1997

SJ20640-1997红外探测器用锑化铟单晶片规范SJ20640-1997

SJ20639-1997黑色宾—主型液晶材料规范SJ20639-1997

SJ20638-1997TFT-LCD用液晶材料规范SJ20638-1997

SJ20637-1997电子陶瓷用氮化铝粉规范SJ20637-1997

标准中涉及的相关检测项目
根据标准《SJ 20636-1997 IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法》，该标准主要涉及的内容如下：

检测项目：

硅片中的氧含量
硅片中的碳含量

SJ20635-1997半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法SJ20635-1997